Systém ParticleView s technologií PVM - Přehled - METTLER TOLEDO

Systém ParticleView s technologií PVM

Mikroskopie krystalů, částic a kapek v reálném čase

 

Odstraňte obvyklé překážky v analýze částic s pomocí důkazních materiálů se snímky

Mezi obvyklé aplikace systému ParticleView s technologií PVM se řadí:

  • Kontrola distribuce velikosti a tvaru částic
  • ...

Mezi obvyklé aplikace systému ParticleView s technologií PVM se řadí:


Od odkoupení společnosti Lasentec v roce 2001 pokračuje společnost METTLER TOLEDO v dalším vývoji systémů ParticleTrack s technologií FBRM a ParticleView s technologií PVM. S několika tisíci instalacemi na celém světě, od laboratoří pro výzkum a vývoj až po výrobní závody, jsou naše sondové technologie uznávány coby zlatý standard pro měření a vizualizaci rychlosti a míry změn v částicových a kapkových systémech v přirozeném procesním prostředí.


 

Zkoumání velikosti a tvaru částic

Analýza snímku krystalizace
Mikroskopie krystalů, částic a kapek v reálném čase
In-line mikroskopie velikosti částic

Modely a specifikace

Modely pro zobrazování a měření částic (PVM)

 
Modely a specifikace
Filtr
Nastavit filtr
Odstranit vše
 
Probe Wetted Material
Probe Window Material
Probe Wetted Temperature Range
Probe Wetted Pressure Range
Certifications
Číslo produktu: 14000031
Více detailů
Probe Wetted MaterialC22 alloy
Probe Window MaterialSapphire
Probe Wetted Temperature Range-80 °C to 120 °C (purged); 10 °C to 120 °C (standard)
Probe Wetted Pressure Range0 barg to 10 barg (standard); up to 100 barg (custom)
CertificationsIEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; Class 1 Laser Device compliant with 21CFR1040.10, 21CFR1040.11 and IEC 60825; Probe back end rated for IP65 and 4X
For Use InLaboratory: EasyMax, OptiMax or Larger
SoftwareiC PVM
Imaging SystemFront Lasers: Backscattered images; Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector
IlluminationInternal light source; Front Lasers: 4; Back Lasers: 4
Probe Window SealsTM (standard, no o-rings)
Probe Diameter19 mm [0.75 in]
Probe Wetted Length400 mm [15.75 in]
Conduit Length2 m [6.6 ft]
Field of View1300 μm x 890 μm
Optical Resolution> 2 μm
Image Resolution1500 x 1024 pixels
Weight (probe, interface unit and cables)1.45 kg [3.20 lb]
Air RequirementsAlways use clean, dry instrument quality air or Nitrogen; Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM]
Power RequirementsPowered USB extender; 100-240V (auto-switching), 50/60Hz, 0.3A
Porovnání

Dokumenty

Dokumentace k sondové mikroskopii pracující v reálném čase

Prospekty

ParticleView V19 With PVM Technology
Visualize particles and particle mechanisms in real time to study particle size and shape
iC PVM Software
View particles in real time to study particle size, shape and concentration with iC PVM

Bílé knihy

Pochopte krystalizaci pomocí in situ mikroskopie
Dynamické mechanismy představují klíč k pochopení krystalizačních procesů. Nyní je lze pozorovat pomocí in situ mikroskopie. V naší nové Bílé knize se...

Aplikace

Optimization and Scale-up of Batch Crystallization
A well-designed batch crystallization process is one that can be scaled successfully to production scale - giving the desired crystal size distributio...
Solubility and Metastable Zone Width (mzw) Determination
Solubility curves are commonly used to illustrate the relationship between solubility, temperature, and solvent type. By plotting temperature vs. solu...
Tvorba jader a růst krystalů
Vědci a inženýři mají úplnou kontrolu nad celým procesem krystalizace díky možnosti přesného stanovení úrovně přesycení v průběhu procesu. Přesycení j...
Measure Crystal Size Distribution
In-process probe-based technologies are applied to track particle size and shape changes at full concentration with no dilution or extraction necessar...
Crystallization Seeding Protocol
Seeding is one of the most critical steps in optimizing crystallization behavior. When designing a seeding strategy, parameters such as: seed size, se...
Anti-Solvent Addition on Supersaturation
In an antisolvent crystallization, the solvent addition rate, addition location and mixing impact local supersaturation in a vessel or pipeline. Scien...
Temperature Effects Crystallization Size and Shape
Crystallization kinetics are characterized in terms of two dominant processes, nucleation kinetics and growth kinetics, occurring during crystallizati...
Temperature Effects Crystallization Size and Shape
Changing the scale or mixing conditions in a crystallizer can directly impact the kinetics of the crystallization process and the final crystal size....
Particle and Droplet Processing
Understand and optimize particle size distributions.
Process Analytical Technology (PAT)
Process Analytical Technology (PAT) is changing the way R&D, scale-up, and manufacturing are performed. PAT transforms productivity, improves safety,...

Příbuzné produkty a řešení

Reaktorové systémy pro chemickou syntézu
Integrovaná řešení zvyšují produktivitu chemických laboratoří
In situ FTIR spektroskopie
Infračervená spektroskopie s Fourierovou transformací (FTIR) pro sledování chemických reakcí v reálném čase

Software

iC PVM particle characterization software
Acquire and share process knowledge by viewing particles in real time to understand particle size, shape and concentration with iC PVM Software.
iC Data Center for OM/EM-1 Year
Sbírejte, zpracovávejte a sdílejte data z procesů.

Nabídka servisních služeb

+420 226 808 163
Kontaktovat servis

Prozkoumejte naše služby – přizpůsobené vašemu zařízení

K vašemu měřicímu přístroji poskytujeme podporu a servis po celou dobu jeho životnosti, od instalace, přes preventivní údržbu a kalibraci až po opravy.

Shoda
Kalibrace a zajišťování jakosti
Odbornost
Školení a konzultace
 
 
 
 
 
 
 
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.