Siktanalys

Siktanalys eller gradationstest är en viktig metod för att bedöma partikelstorleksfördelningen hos granulärt material. Partikelstorleken påverkar materialegenskaper som flöde och transport (för bulkmaterial), reaktivitet, nötningsförmåga, löslighet, extraktion och reaktion, smak, kompressibilitet och mycket mer. Partikelstorleksbestämning är därför avgörande för ett brett spektrum av industrier, såsom livsmedel, konstruktion, plast, kosmetika och läkemedel, för att optimera processteknik och för att säkerställa slutprodukternas kvalitet och säkerhet.

För att mäta partikelstorleksfördelningen kan olika metoder och förfaranden användas, beroende på provmaterial, förväntade partikelstorlekar och undersökningens omfattning. Dessa inkluderar direkt bildanalys, antingen statisk (SIA) eller dynamisk (DIA), statisk ljusspridning (SLS), även kallad laserdiffraktion (LD), dynamisk ljusspridning (DLS) och siktanalys. Siktanalys är den traditionella och mest använda metoden för att mäta partikelstorleksfördelning.

Varför siktvägning är viktigt

Fördelarna med siktanalys är att den är enkel att använda, kräver minimala investeringskostnader, ger exakta och reproducerbara resultat på relativt kort tid och har förmågan att separera partikelstorleksfraktioner. Att utföra siktanalys med hjälp av differentialsiktvägning är en tråkig och felbenägen process. Att använda en exakt våg med praktiska funktioner och digital datahantering kan snabbt löna sig.

Titta på den här videon och ta reda på varför partikelstorleksanalys är så viktigt och hur man gör siktanalys steg för steg.

Partikelstorleksfördelningen kan ha en enorm inverkan och att analysera den med hjälp av siktvägning är en tråkig och felbenägen process. Automatisera dina arbetsflöden för siktanalys: gör guidade processer och digital datahantering till en integrerad del av all din siktvägning!

En siktstapel består av flera siktar som staplas på varandra med ökande maskstorlek, med provet placerat på den översta sikten. Siktningen utförs till den punkt där provets massa på varje sikt inte ändras (= konstant massa). Varje sikt vägs och volymen av varje fraktion beräknas i viktsprocent, vilket ger en massbaserad fördelning.

Vilken metod som är lämplig för att bestämma partikelstorlekar och distributioner beror på målämnet och de förväntade partikelstorlekarna.

Metoder för analys av partikelstorlek:

1. Analys med sikt
2. Direkt bildanalys, antingen statisk (SIA) eller dynamisk (DIA)
3. Statisk ljusspridning (SLS), även kallad laserdiffraktion (LD)
4. Dynamisk ljusspridning (DLS)

Siktanalys är den traditionella metoden för att bestämma partikelstorleksfördelningen. Fasta partiklar i storlekar från 125 mm ner till 20 μm kan mätas snabbt och effektivt genom torr- eller våtsiktning med hjälp av standardiserade siktar.

Siktanalys specificeras i ett antal nationella och internationella standarder som en obligatorisk testmetod för en mängd olika analytiska och industriella processer. En snabb sökning på nyckelordet "sieve" ger över 150 enskilda standardresultat på ASTM:s webbplats och över 130 resultat på ISO:s webbplats. Dessa resultat ger information om vilka siktstorlekar som krävs för ett visst material. Varje standard beskriver i detalj hur partikelstorlekstestet ska utföras, inklusive provstorlek, testtid, förväntade resultat och acceptansmetod.

Exempel på standarder:

• ASTM C136: Standard testmetod för siktanalys av fina och grova ballastmaterial
• ASTM D422: Standardiserad testmetod för partikelstorleksanalys av jord

De flesta av dessa standarder kräver att de siktar som används måste uppfylla vissa tekniska krav som beskrivs i specifika siktstandarder som ISO 3310 eller ASTM E11 / E 323.

Direkt bildanalys gör det möjligt att bestämma de fysiska egenskaperna hos enskilda partiklar (storlek, form och ytmorfologi). Den avgörande skillnaden mellan dynamisk och statisk bildanalys är att partiklarna vid statisk bildanalys befinner sig på en bärare och inte rör sig i förhållande till kameran under bildtagningen, t.ex. med ett mikroskop, medan partiklarna vid dynamisk bildanalys rör sig förbi en detektor.

Vill du veta mer?

• Hur du gör din siktanalys enklare, snabbare och mindre felbenägen
• Hur kan man öka genomströmningen och minska kostnaden per prov?

Vårt team av experter finns alltid till hands för att erbjuda hjälp och råd, tveka inte att kontakta oss.

De steg som ingår i siktanalysen är

1. Väg de tomma siktarna
2. Tillsätt provet
3. Sikta i 5-10 minuter
4. Väg igen
5. Rengör siktarna

En vanlig siktstapel består vanligtvis av 5-10 siktar, vilket gör hela processen ganska tidskrävande.

Utmaningar med siktanalys är:

• Hur undviker eller förhindrar man att siktarna blandas ihop? Har ordningen på siktarna alltid följts korrekt?
• Hur säkerställer man att inga processteg har hoppats över eller att inget har mätts två gånger?
• Har allt registrerats korrekt? Har alla resultat transkriberats utan fel?
• Hur säkerställer man att beräkningarna utförs korrekt?

Automatisera och digitalisera ditt arbetsflöde för siktvägning för att snabba upp processen och göra den mindre felbenägen. Investera i en XPR eller XSR precisionsvåg som är ansluten till LabX™ laboratorieprogramvara för en snabb avkastning på investeringen genom att snabba upp processen, öka genomströmningen och minska kostnaden per prov.

Guidad och automatiserad process

Processen kan startas från pekskärmen på vågen. Användaren får en säker steg-för-steg-vägledning genom hela arbetsflödet. Med automatisk viktavkänning kan siktarna vägas i följd utan att någon knapp behöver vidröras. Alla taravikter lagras exakt och fullständigt.
Det grafiska vägningshjälpmedlet SmartTrac^TM gör det enkelt att väga provet till ett specifikt målvärde och förhindrar att siktarna överbelastas.
För återvägning återupptar du helt enkelt uppgiften på vågens skärm och väger de laddade siktarna i rätt ordning, enligt anvisningarna på skärmen. Viktvärdena registreras automatiskt när ett stabilt värde har uppnåtts.

Effektiv vägning

Med AutoZero-funktionen och automatisk resultatregistrering blir vägningen oslagbart snabb och säker. Den höga stabiliteten hos den unika SmartPan™-vägskålen gör att du får dina resultat upp till dubbelt så snabbt jämfört med vägning på en standardvägskålen. Data och resultat registreras automatiskt i det inbyggda resultatprotokollet, vilket eliminerar tidskrävande och felbenägen manuell inmatning/utmatning av data. Flera gränssnitt (4 USB, 1 LAN) möjliggör enkel export av resultat till en PC eller annat system.

Felfri dokumentation

LabX™ erbjuder omfattande datahantering och fullständig spårbarhet; den tar hand om alla data och beräkningar automatiskt. När det sista vägningssteget är utfört är slutresultatet klart. Den kompletta lösningen kan skräddarsys efter individuella processkrav och integreras med ditt företags befintliga ERP/LIMS-system, vilket möjliggör dubbelriktad överföring av uppgifter och resultat. Alla data lagras säkert i en centraliserad databas och anpassade rapporter kan genereras när som helst.

Hållbar och lätt att rengöra konstruktion

XPR- och XSR-vågarna har utformats för att tåla tuffa förhållanden och för att enkelt kunna demonteras utan verktyg. Alla delar tål maskindisk - släta ytor och rundade kanter gör det mycket enkelt att rengöra vågen.

Ladda ner vår kostnadsfria eGuide och lär dig det viktigaste om siktanalys, inklusive användningsfall, arbetsflöden, bästa praxis och effektiva lösningar. På ett lättsmält sätt presenteras användningsfall i olika branscher och förklaras hur viktiga de är i varje segment. Den jämför också olika metoder för analys av partikelstorlek, förklarar arbetsflödet för siktanalys och delar med sig av bästa praxis, inklusive 7 tips och tricks för korrekt siktanalys.

Lean Lab-metoden med kontinuerliga förbättringsprocesser (CIP) hjälper till att upptäcka ytterligare möjligheter för optimering av siktanalysprocessen.

I denna eGuide diskuteras följande 6 CIP-mål:

1. Snabba upp
2. Säkerställa tillförlitliga resultat
3. Ha SOP:er till hands
4. Säkerställa felfri återvägning
5. Undvik transkriptionsfel
6. Standardisera rapporter