Partikelmåling og analyse af partikelformer - Oversigt - METTLER TOLEDO
Danmark

    Partikelmåling og analyse af partikelformer

    Partikelmåling i realtid for laboratorie- og procesmiljøer

    Hvordan kan vi hjælpe dig?
     

    Partikelmåling

    Med FBRM og PVM er METTLER TOLEDO en verdensførende producent inden for partikelsystemkarakteristik i realtid på arbejdsstedet . Muligheden for at måle partikler, mens de forekommer naturligt under en proces, har gjort det langt nemmere at forstå, optimere og kontrollere partikel- og dråbesystemer.

    Siden erhvervelsen af Lasentec i 2001 har METTLER TOLEDO fortsat med at fremme udviklingen af FBRM og PVM. Tusinde af anlæg i hele verden – fra forsknings- og udviklingslaboratorier til produktionsanlæg – benytter vores sensorbaserede teknologi, der er anerkendt som en guldstandard inden for måling og visualisering af hastighed og grad af ændringer i systemer af partikler og dråber, mens de forekommer naturligt under en proces.

    		 
    ParticleTrack med FBRM-teknologi
    Real Time Microscopy For Crystals, Particles and Droplets

    ParticleTrack med FBRM-teknologi

    ParticleView med PVM-teknologi

    Registrer ændringer af partikelstørrelsefordelingen, partikelformer og partikeltal i realtid med Focused Beam Reflectance Measurement Technology (FBRM-teknologi: Refleksmåling ved hjælp af fokuserede...
    Sondebaseret mikroskopi i realtid for krystaller, partikler og dråber med PVM-teknologi
    Fuld proceskoncentration
    Eliminerer behov for prøvetagning, fortynding og offline-analyse.
    Optimer partikelfordeling
    Forbedrer procesmetoden og produktkvaliteten.
    Forstå procesparametre
    Identificerer ændringer i partikel- og dråbesystemer i realtid.
    Overfør til produktionsanlæg
    Sikrer batchrepeterbarhed og konsistente processlutpunkter.
    Forstå partikler og dråber
    Visualiserer straks ændringer i partikler, dråber, celler og krystaller.
    Inline-måling
    Billeder i realtid sikrer hurtigere procesforståelse.
    Mikroskopibilleder i høj opløsning
    Giver karakteristik af partikelsystemer ved fulde proceskoncentrationer i uigennemsigtige eller halvgennemsigtige systemer.
    Foretag fejlsøgning af procesændringer
    Giver mulighed for påvisning af uoverensstemmelser under processen og sikrer produktkvalitet.
     
     
     
     
     
     
     
    Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.