เมื่อพิจารณาถึงเวลาและต้นทุนที่สูงมากในการพัฒนาชิปเซมิคอนดักเตอร์ ประกอบกับความเสี่ยงสูงที่จะเกิดความสูญเสียผลิตภัณฑ์ทั้งล็อต—โดยเฉพาะอย่างยิ่งในช่วงที่มีความต้องการในตลาดสูง—การป้องกันการปนเปื้อนในลักษณะนี้จึงเป็นสิ่งที่สำคัญที่สุดต่อความสำเร็จในการผลิต

การตรวจสอบความต้านทานไฟฟ้าแบบเรียลไทม์ จะช่วยรับประกันคุณภาพของน้ำบริสุทธิ์ยิ่งยวด ลดการปนเปื้อนของไอออนที่อาจส่งผลเสียต่อประสิทธิภาพของอุปกรณ์ และช่วยลดการสูญเสียในระหว่างกระบวนการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ที่ละเอียดอ่อนเหล่านี้ได้