in situ FTIRスペクトロスコピー - 概要 - メトラー・トレド
フーリエ変換中赤外分光(FTIR)

in situ FTIRスペクトロスコピー

ReactIRによって反応速度式、反応経路、メカニズムを理解する

ラボ検討と生産プロセス向けのin situ FTIR
ReactIR in situフーリエ変換中赤外分光(FTIR)は多様なサンプリングオプション(センサー)、直感的な反応解析ソフトウェアを備え、化学反応を理解するうえで有用な情報を提供します。  ReactIR in situ FTIRは、ラボ検討と生産プロセスの両方におけるリアルタイムの反応モニタリングを提供します。 全反射減衰(ATR)によって反応率、中間体、反応開始、終点についてのデータを得ることができます。

フーリエ変換型中赤外分光分析(FTIR)

ラボスケールから生産スケールに対応した反応解析
ReactIRサンプリング技術(各種センサ)
フーリエ変換中赤外分光(FTIR)

モデル/仕様

化学反応のリアルタイムモニタリング

 
モデル/仕様
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For Use In
品番: 30456495
詳細をご覧ください
For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorTE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 - 800 cm-1
Purge RequirementNo
Weight9.2 lb (4.2 kg)
CommunicationUSB
Resolution4 cm-1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 2500 - 650 cm-1 maximum (Micro Flow Cell); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C22; Diamond or Silicon; Gold or PTFE
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 35bar (Micro Flow Cell); 206bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 60°C (Micro Flow Cell); 300°C (Sentinel)
Safety CertificationNRTL/C: UL 61010-1, CSA 22.2 No. 61010-1, EN 61326; CE: EN/IEC 61010-1:2012, IEC 61326
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
品番: 14000003
詳細をご覧ください
For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorLN2 MCT; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementNo
Dimensions (WxHxD)180 mm x 274 mm x 249 mm
Weight9 kg
CommunicationUSB 2.0
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 107bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
品番: 14000003
詳細をご覧ください
For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorLN2 MCT; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementNo
Dimensions (WxHxD)180 mm x 274 mm x 249 mm
Weight9 kg
CommunicationUSB 2.0
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 107bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
品番: 14170003
詳細をご覧ください
For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorLN2 MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementYes
Dimensions (WxHxD)216 mm x 381 mm x 279 mm
Weight16 kg
CommunicationUSB cable
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)107bar (Sentinel); 69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
品番: 14474487
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対象ラボ、パイロット、プラントスケール
ソフトウェアiC IR; iC Process
検出器DTGS; SE MCT
光学レンジ(本体)4000 – 650 cm-1
パージMin: 4.7Lpm (10scfh), Range: 4.1 to 6.9 barg (60 to 100 psig)
寸法310 mm
重量37 kg
通信イーサネット TCP/IP
分解能4 cm -1
光学レンジ(プローブに依存)2500-650 cm-1 最大 (ファイバープローブ); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
接液部の材質Alloy C-22; ダイアモンドまたはシリコン; 金
圧力上限(最大)107bar (センチネル); 69bar (6.3 & 9.5mm ファイバープローブ)
温度上限(最大)180°C (ファイバープローブ); 200°C (センチネル)
安全性認定エリア分類 – NON-HAZARDOUS, MET Mark E112462, UL61010-1 & CSA C22.2 No. 61010-1
pH範囲(プローブに依存)1-14 (ダイアモンド); 1-9 (シリコン)
品番: 14474485
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対象ラボ、パイロット、プラントスケール
ソフトウェアiC IR; iC Process
検出器DTGS; SE MCT
光学レンジ(本体)4000 – 650 cm-1
パージMin: 4.7Lpm (10scfh), Range: 4.1 to 6.9 barg (60 to 100 psig)
寸法310 mm
重量45 kg
通信LC 終端イーサネット TCP/IP、デュプレックス光学式 ファイバー
分解能4 cm -1
光学レンジ(プローブに依存)2500-650 cm-1 最大 (ファイバープローブ); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
接液部の材質Alloy C-22; ダイアモンドまたはシリコン; 金
圧力上限(最大)107bar (センチネル); 69bar (6.3 & 9.5mm ファイバープローブ)
温度上限(最大)180°C (ファイバープローブ); 200°C (センチネル)
安全性認定エリア分類 – HAZARDOUS, MET Mark E112462, UL61010-1 & CSA C22.2 No. 61010-1; ATEX listing - TRAC12ATEX0001X, Equipment marking - Ex d op pr px [ia IIC] IIB+H2 T4 Gb; NFPA 496, Class I, Division 1, Groups B, T4
pH範囲(プローブに依存)1-14 (ダイアモンド); 1-9 (シリコン)
品番: 304725451
詳細をご覧ください
対象実験室: EasyMax/OptiMax
ソフトウェアiC Raman 7
検出器2段階のTE冷却CCD
光学レンジ(本体)100cm-1~3200cm-1
比較

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化学反応をモニタリングするFTIRスペクトロスコピー

データシート

ReactIR 15(日本語版)
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ReactIR 45m(日本語版)
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ReactIR 45P In Situ Process FTIR(日本語版)
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ReactIR サンプリング技術(英語版)
ReactIR in situ サンプリング技術は、幅広いバッチおよび連続反応条件での利便性を実現します。
ReactIR IPA(機器性能保証)モジュール(英語版)
ReactIR 波数の精度を検証して、NIST(米国標準技術局)によって認証されているポリスチレン基準に校正して、データ精度を維持します。

ReactIRの引用

ReactIR Citation List
Continuous measurements from infrared spectroscopy are widely used for obtaining reaction profiles, which are used to calculate reaction rates. This...

パンフレット

ReactIR Brochure
Understand reaction chemistry with ReactIR In Situ FTIR spectroscopy

アプリケーション

有機合成
有機合成に携わっている研究者は日々、革新的な化学反応やプロセスの研究開発を行っています。
化学プロセス開発とスケールアップ
堅牢性が高く持続可能な化学プロセスを設計し、パイロットプラントおよび実生産へのスケールアップを迅速化
プロセス分析技術(PAT)
プロセス分析技術(PAT)は、研究開発、スケールアップ、製造を変革します。PATは、生産性の概念を刷新し、安全性を向上し、迅速な問題解決につながる測定を可能にします。プロセス分析技術(PAT)のアプリケーション範囲は、化学反応のモニタリングから晶析、製剤、バイオプロセスまで多岐にわたります。
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貧溶媒の滴下による過飽和
貧溶媒晶析では、溶媒の滴下速度、滴下場所、攪拌が、容器やパイプライン内部での局所的過飽和に影響を与えます。科学者やエンジニアは、貧溶媒滴下プロトコルおよび過飽和度を調整することで結晶サイズと個数を変更しています。
温度が結晶のサイズと形状に与える影響
冷却プロファイルは、過飽和と晶析速度に大きな影響を与えます。最適な結晶の成長と核化のバランスが得られるように、結晶の表面積に合わせてプロセス温度を最適化します。高度な温度コントロールにより過飽和を制御することで結晶サイズや形状を変化させることができます。
反応速度論解析
in situの反応速度論解析では、反応成分の濃度依存性をリアルタイムで示すことにより、反応機構と反応経路の理解を深めることができます。反応開始から終点までの連続的なデータを使用することで、より少ない実験回数で速度論解析を実施することができます。 RPKA(Reaction Progression...

関連製品とソリューション

Reactor Systems for Chemical Synthesis
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このような課題を解決するために設計されたEasySamplerは、過酷な条件下においても反応からプロセスを代表的なサンプルを採取できる堅牢な自動インラインサンプリング装置です。
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In Situ粒子計測(In Situ粒度分布計) : リアルタイム分析による粒子システムと液滴システムの理解、最適化および制御
反応熱量計RC1
スクリーニング、プロセス開発、プロセスの安全性確認のための反応熱量測定

ソフトウエア

iC IRソフトウェア
スペクトルデータによって、反応開始、終点、メカニズム、反応経路、反応速度など、化学的な理解が深まり、プロセスに関するより多くの情報が得られます。
iC Kinetics™ソフトウェア
反応の理解を助け、最適化へと導きます。
iC Processソフトウェア
研究室から製造環境への移管における制御パラメータをモニタリングできます。分散制御システム(DCS)に接続するための業界標準の通信プロトコルをサポートしています。
iCデータセンター
iCデータセンターは、Webベースの使いやすいインターフェイスで構成され、継続的なラボのモニタリングを実行できるため、組織内の知識管理を促進すると共に、研究者の生産性を向上する強力なツールです。

ポスター

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サービス

サービスプログラムの紹介 - 固有の機器に適合する特注サービス

メトラー・トレドは、設置から保守点検、機器校正、修理まで、お客様の測定機器のライフサイクル全般にわたって、サービスサポートをご提供します。

ダウンタイムの最小化
サポート ・ 修理
機器のパフォーマンス
メンテナンス・最適化
コンプライアンス
校正・品質管理
専門知識の提供
トレーニング・コンサルティング

サンプリング

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