Technologie PVM V825 Ex - Ukončení výroby produktu
Inline Particle Microscope for Process Environments
PVM® umožňuje vědeckým a technologickým pracovníkům v reálném čase zobrazovat a ukládat vysoce kvalitní mikroskopické obrázky krystalů, částic a kapek, které se v přirozené podobě vyskytují v procesu, a to v plné procesní koncentraci.
Přístroj PVM® V825 je navržen pro účely výzkumu, vývoje a sledování procesů v libovolném měřítku. Usnadňuje a výrazně zrychluje zkoumání, pochopení a monitorování systémů částic a kapek v každém průmyslovém prostředí. Základní vlastnosti přístroje PVM® V825:
- Stejné rozlišení mikroskopu jako u standardního sondového mikroskopu PVM® V819 (2 µm a více)
- Robustní a odolná konstrukce sond s průměrem 25 mm pro nepřetržitý provoz v průmyslových podmínkách
- Možnost zakoupení vysokotlakých verzí (až 150 barů)
Již se nevyrábí Mar, 2014
Náhradní produkt: ParticleView V19
View Inline Particle Size and Shape in Real Time With In Situ PVM images
ParticleView V19 with PVM (Particle Vision and Measurement) technology is a probe-based video microscope that visualizes particles and particle mechanisms as they exist in process. High resolution images are continuously captured under a wide range of process conditions without the need for sampling or offline analysis. A process trend, sensitive to changes in particle size and concentration, is automatically combined with the most relevant images, providing scientists with a straightforward and reliable method to ensure comprehensive understanding is acquired with every experiment.
- Study Particle Size and Shape - High resolution imaging of particles in real time enables scientists to determine the influence of process parameters on particle size and shape. Particles can be designed to behave predictably as key parameters change during development, scale-up and manufacturing.
- Characterize Transient Events and Elusive Mechanisms - Particles and particle structures often change when sampled. By visualizing crystals, droplets and other delicate particle structures inline, scientists can characterize transient events and elusive mechanisms that may be critical for optimizing the quality of a product or process.
- Investigate Critical Process Events and Upsets - An image-based trend, sensitive to changing particle size, shape and concentration, helps scientists identify and then investigate important process events and upsets. The fast and reliable method reduces the time and effort needed to fully understand complex particle systems and processes.
- Make Evidence-Based Decisions At a Lower Cost - By visualizing particles and particle mechanisms inline, scientists acquire knowledge that would otherwise prove too difficult or time consuming to obtain. Such knowledge supports evidence-based decision making and process development at a lower cost.
