Mettler Toledo
현장 반응 모니터링을 통한 FTIR 분광기
실시간 FTIR Spectroscopy를 통한 반응 속도, 경로 및 메커니즘 이해
도움이 필요하십니까?
실험실 및 공정을 위한 현장 FTIR 분광기
ReactIR 현장 푸리 변환 적외선(FTIR) 분광기는 화학물질과 관련한 정보 및 이해를 위한 성능, 다목적 샘플링 및 직관적인 반응 분석 소프트웨어를 제공합니다. ReactIR 현장 FTIR 분광기는 실험실과 공정 환경 모두에서 실시간 반응 모니터링을 제공합니다. 감쇠 전 반사(ATR)는 변환, 중간 생성물, 반응 시작 및 종말점에 대한 데이터를 제공합니다.
실시간 FTIR 분광기
실시간 반응 이해
안전하고 신뢰할 수 있는 공정을 위해 화학 실험법 및 공정을 완벽하게 이해해야 하는 곳의 경우, 상업 생산에 사용되는 모든 신규 화학 물질(NCE)은 개발 공정을 반드시 거쳐야 합니다. ReactIR 현장 FTIR(푸리에 변환 적외선) spectroscopy는 화학 반응 자체에 대한 기초적인 문제에 대한 솔루션을 제공합니다 - 화학 반응이 언제 시작됩니까, 화학 반응이 언제 중단됩니까, 반응은 예상 메커니즘을 통해 진행됩니까, 반응 속도는 무엇입니까?
ReactIR은 무엇입니까?
광범위한 화학 반응에 적합한 ReactIR 현장 FTIR(푸리에 변환 적외선) spectroscopy는 중요 반응 종의 실시간 모니터링과 반응 과정 중 어떻게 변화되는지에 대해 보여줍니다. 반응 진행 과정을 따르기 위해 설계된 ReactIR 감쇠 전 반사(ATR) 는 반응 시작, 변환, 중간 생성물 및 종말점에 대한 정보를 자세하게 제공합니다.
ReactIR은 내 어플리케이션에 적합하게 작동할까요?
ReactIR 은 분자가 적외선 활성 상태이며 화학 작용이 용액 또는 오프 가스에서 이루어지고 농도가 0.1% 이상인 다양한 화학 반응에서 작동합니다.
일반적인 어플리케이션은 다음과 같습니다.
실험실 및 생산을 위한
반응 분석
ReactIR 15 및 ReactIR 45m FTIR 분광기를 사용하여 화학 합성물, 합성 경로 및 공정에 대한 프로세스를 개선하십시오. 확장 연구 및 생산 모니터링에 적합한 ReactIR 45P HL FTIR 공정 분석기는 HazLoc 인증이 필요한 까다로운 생산 환경에 매우 적합합니다. ReactIR 45 GP FTIR 공정 분석기는 HazLoc 인증이 필요하지 않은 실험실의 공정 개발 및 확장에 매우 적합합니다. 연속 유동 화학용 ReactIR은 다양한 작용기와 화학물질에 걸쳐 실시간으로 구조 정보를 제공합니다.
화학 조건에 관계없이 반응 모니터링 가능
고온과 저온, 고압 및 진공, 산성, 가성, 부식성이라는 광범위한 조건 하에서 여러 화학 반응 단계의 샘플 및 연구 배치 또는 유동 반응기의 구현에 대한 ReactIR 샘플링 기술 옵션은 실험실 및 생산 환경에서 반응의 모니터링으로 가능합니다.
In Situ FTIR Spectroscopy
최근 학술지 간행물
반응 프로필을 확보하여 반응 속도를 계산하기 위해 적외선 분광기의 연속 측정치가 사용됩니다. 동료 심사 학술지의 간행물 목록은 현장 FTIR 분광기에 대한 흥미진진하고 참신한 응용 분야를 중점적으로 다룹니다. 학계 및 업계 연구원들은 연구를 증진시키기 위해 포괄적인 정보 및 풍성한 실험 데이터를 제공하고자 현장 mid-FTIR 분광기를 활용합니다.
반응 역학 및 메커니즘 연구
해당 자료에는 현장 FTIR 분광기가 기존 오프라인 분석 기법과 연계하여 사용되어 가치 있는 통찰력, 역학에 대한 이해, 연구되는 화학 반응의 모델 검증을 하는 방식이 강조되어 있습니다.
제품 & 기술사양
실시간 화학 반응 모니터링
제품 & 기술사양
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Clear AllFor Use In
Material No.: 30456495
자세히 보기 For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorTE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 - 800 cm-1
Purge RequirementNo
Weight9.2 lb (4.2 kg)
CommunicationUSB
Resolution4 cm-1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 2500 - 650 cm-1 maximum (Micro Flow Cell); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C22; Diamond or Silicon; Gold or PTFE
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 35bar (Micro Flow Cell); 206bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 60°C (Micro Flow Cell); 300°C (Sentinel)
Safety CertificationNRTL/C: UL 61010-1, CSA 22.2 No. 61010-1, EN 61326; CE: EN/IEC 61010-1:2012, IEC 61326
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
Material No.: 14000003
자세히 보기 For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorLN2 MCT; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementNo
Dimensions (WxHxD)180 mm x 274 mm x 249 mm
Weight9 kg
CommunicationUSB 2.0
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 107bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
Material No.: 14000003
자세히 보기 For Use InLaboratory
SoftwareiC IR
DetectorLN2 MCT; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementNo
Dimensions (WxHxD)180 mm x 274 mm x 249 mm
Weight9 kg
CommunicationUSB 2.0
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe); 107bar (Sentinel)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
Material No.: 14170003
자세히 보기 For Use InLaboratory
SoftwareConcIRT Pro; iC IR; iC Kinetics; iC Quant
DetectorLN2 MCT
Optical Range (Base Unit)4000-650 cm-1
Purge RequirementYes
Dimensions Depth279.0 mm
Weight35.0 lb; 16.0 kg
CommunicationUSB cable
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500-650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 4000-650cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)107bar (Sentinel); 69bar (6.35mm Fiber Probe)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationEMC Directive 2004/109/EC, Low Voltage Directive 2006/95/IEC
Probe pH Range1-10 (Silicon); 1-14 (Diamond)
Material No.: 14474487
자세히 보기 For Use InLab, Pilot Plant or Production
SoftwareConcIRT Pro; iC IR; iC Process; iC Quant
DetectorDTGS; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000-650 cm-1
Purge RequirementYes
Dimensions Depth305.0 mm
Weight83.0 lb; 37.0 kg
CommunicationEthernet TCP/IP
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500-650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 4000-650cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)107bar (Sentinel); 69bar (6.35mm Fiber Probe)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationArea Classification – NON-HAZARDOUS, MET Mark E112462, UL61010-1 & CSA C22.2 No. 61010-1; CSA C22.2 No. 61010-1; Area Classification – NON-HAZARDOUS, MET Mark E112462, UL61010-1
Probe pH Range1-10 (Silicon); 1-14 (Diamond)
Material No.: 14474485
자세히 보기 For Use InLab, Pilot Plant or Production
SoftwareiC IR; iC Process
DetectorDTGS; SE MCT
Optical Range (Base Unit)4000 – 650 cm-1
Purge RequirementYes
Dimensions (WxHxD)457 mm x 774 mm x 310 mm
Weight45 kg
CommunicationLC terminated Ethernet TCP/IP, duplex fiber optic
Resolution4 cm -1 maximum
Probe Optical Window2500 – 650 cm-1 maximum (Fiber Probe); 4000 – 650 cm-1 (Sentinel)
Wetted MaterialsAlloy C-22; Diamond or Silicon; Gold
Probe Pressure (Maximum)107bar (Sentinel); 69bar (6.3 & 9.5mm Fiber Probe)
Probe Temperature (Maximum)180°C (Fiber Probe); 200°C (Sentinel)
Safety CertificationArea Classification – HAZARDOUS, MET Mark E112462, UL61010-1 & CSA C22.2 No. 61010-1; ATEX listing - TRAC12ATEX0001X, Equipment marking - Ex d op pr px [ia IIC] IIB+H2 T4 Gb; NFPA 496, Class I, Division 1, Groups B, T4
Probe pH Range1 – 14 (Diamond); 1 – 9 (Silicon)
비교하기
문서
화학 반응 모니터링을 위한 FTIR Spectroscopy
데이터 쉬트
Study reaction progression and gain specific information about reaction initiation, conversion, intermediates and endpoint.
Successfully move processes from lab to pilot plant and production with in situ process FTIR spectroscopy. Gain in-depth reaction understanding, ident...
ReactIR 현장 샘플링 기술은 다양한 배치 및 연속 반응 조건에서의 사용성을 보장합니다.
ReactIR 파수 정확도를 데이터 정확도를 위해 미국 표준기술원(NIST)에서 인증한 폴리스티렌 표준에 따라 검증하고 교정합니다.
ReactIR 인용
Continuous measurements from infrared spectroscopy are widely used for obtaining reaction profiles, which are used to calculate reaction rates. This...
브로셔
Understand reaction chemistry with ReactIR In Situ FTIR spectroscopy
적용 분야
합성 유기 화학 분야에서 일하는 화학자들은 혁신적인 화학반응 및 공정을 발견하고 개발합니다.
시제품 공장 및 생산으로 빠르게 전환하기 위한 견고하고 지속 가능한 화학 공정 설계
공정 분석 기술(PAT)은 R&D, 확장 및 제조가 수행되는 방식을 바꾸고 있습니다. PAT는 생산성을 바꾸고 안전성을 개선하며 신속한 문제 해결 방법을 제공합니다. 공정 분석 기술(PAT) 응용 분야는 화학 반응, 결정화, 조제 및 바이오프로세싱까지 다양합니다.
중합 반응, 메커니즘, 반응 속도, 반응성 비율과 활성화 에너지를 측정하고 이해함으로써 연구원들은 단기간에 연구를 진전시키는 데 사용되는 포괄적인 데이터를 확보하기 위한 일상적인 기법으로서 현장 적외선 분광기를 활용합니다.
Characterize & Optimize Fermentation & Bioprocesses in Real Time to Maximize Production
연속 유동 화학은 배치 반응기에서 불가능한 발열 합성 단계에 옵션을 제공하며, 새로운 유동 반응기 개발은 혼합이 제한되었던 배치 반응기의 새로운 대안을 제공합니다. 이를 통해 종종 제품 품질이 향상되고 수율이 높아집니다. 공정 분석 기술(PAT)과 연계될 경우, 유동...
반용매 결정화에서 용매 첨가율, 추가 위치 및 혼합은 용기나 파이프라인 내 국지성 과포화에 영향을 미칩니다. 과학자들과 엔지니어들은 반용매 추가 프로토콜 및 과포화 수준을 조정해 결정 크기 및 개수를 수정합니다.
냉각 프로파일은 과포화 및 결정화 반응속도에 큰 영향을 미칠 수 있습니다. 공정 온도는 표면이 최적화된 결정 성장이 핵형성에 대해 부합하도록 최적화됩니다. 고급 기법은 온도 제어를 제공해 과포화 및 결정 크기와 모양을 수정합니다.
현장 화학 반응 역학 연구는 반응 성분에 대한 농도 의존성을 실시간으로 제공함으로써 반응 메커니즘 및 경로에 대한 이해도를 높여줍니다. 반응 과정 전반에 걸친 연속 데이터는 포괄적인 데이터 속성으로 인해 적은 횟수의 실험으로도 속도 법칙에 대한 계산을 가능하게 합니다....
관련 제품 및 솔루션
화학 합성 반응기는 실험실 생산성을 향상합니다.
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1588-0180
서비스 문의 귀하의 장비에 맞는 당사의 서비스 알아보기
당사는 설치부터 예방 차원의 유지보수, 교정 및 장비 수리까지 전체 수명 주기에 걸쳐 귀하의 측정 장비를 위한 전반적인 지원 및 토탈 서비스를 제공합니다.
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Dec 01, 2018
Dec 03, 2018
