Inline részecskeméret eloszlás és forma analízis

Az FBRM és PVM technológiákkal a METTLER TOLEDO piacvezető szerepet tölt be a részecskerendszerek valós idejű, in-situ jellemzésében. A részecskék folyamaton belüli, természetesen jelen lévő állapotukban történő vizsgálatával még inkább bővíthető a folyamatokról alkotott tudás, aminek eredményeképpen lehetőség van optimalizálni és felügyelni a récseszke- és csepprendszereket.

A Lasentec 2001-es bevezetése óta a METTLER TOLEDO folyamatosan fejlesztette az FBRM és PVM technológiákat. Világszerte több ezer K+F laboratóriumban és gyártóüzemben történő telepítés után ezek a szondalapú technológiák jelentik a részecskék és cseppek számában és alakjában bekövetkező változások valós idejű mérésének és képi megjelenítésének aranystandardját.


Részecskekövetés FBRM technológiával	Szemcsevizsgálat PVM technológiával
A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba és FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technológiája révén meghatározható, hogyan változik adott idő alatt a folyamatban fellelhe...	A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba a részecskék valós idejű, PVM technológiás mikroszkóppal történő vizualizálásához.
A részecskeméret- és szám mérése A részecskeméret és -szám valós idejű nyomon követésével a kutatók bizonyítékokkal alátámasztott módszerek segítségével lesznek képesek a folyamatok megértésére, optimalizálására és méretnövelésére. Információkinyerés mintavételezés nélkül A folyamatban természetes állapotukban jelen levő részecskék méretének és számának valós idejű nyomon követésével a kutatók biztonságosan és extra időráfordítás nélkül kaphatnak a folyamatokról információt – még rendkívül magas hőmérséklet és nyomásviszonyok mellett is. A folyamatok gondtalan fejlesztése Azáltal, hogy a részecskeméret és -szám a reakciókörülmények változásával együtt folyamatosan nyomon követhető, lehetőség van a folyamatok optimalizálására és a végcélnak megfelelő részecsketulajdonságok létrehozására. Alkalmazza laboratóriumban vagy üzemi környezetben A gyártási folyamatok nyomon követésével gyorsan azonosíthatóak a hibák, a javító intézkedéseket pedig a valós gyártási méret mellett megszerzett információkra alapulva lehet megvalósítani.	Tanulmányozza a részecskék méretét, formáját és struktúráját Azáltal, hogy a részecskékről valós idejű mikroszkópos kép nyerhető ki, ráadásul a folyamatban jelenlévő állapotukban, a kutatóknak lehetősége van azonnali és átfogó képet kapni minden részecskerendszerről. Rögzítse az eluzív mechanizmusokat is Kristályok, cseppek és egyéb kényes struktúrák láthatóságával a kutatók még olyan átmeneti folyamatokat és eluzív mechanizmusokat is képesek jellemezni, amelyek a folyamat és a termékminőség szempontjából nagy jelentőséggel bírnak. Kritikus folyamatesemények vizsgálata A részecskeméretben és -koncentrációban bekövetkező érzékeny változások képalapú megfigyelésével a kutatók képesek azonosítani és utána kivizsgálni a legfontosabb eseményeket, csökkentve ezzel a folyamatok fejlesztéshez szükséges időt. Szerezzen bizonyítékot az optimalizáláshoz A részecskék és részecskemechanizmusok inline módon történő megfigyelésével a tudósok olyan egyedi információkhoz juthatnak hozzá, amelyekkel sokkal körültekintőbb és összességében költséghatékonyabb folyamatfejlesztést valósíthatnak meg.

Inline részecskeméret eloszlás és forma analízis

Valós idejű részecskeméret-elemzés laboratóriumi és folyamatanalitikai területen

A részecskék és cseppek optimalizálása és méretnövelése kihívást jelent

Részecskekövetés FBRM technológiával

Szemcsevizsgálat PVM technológiával