Inline részecskeméret eloszlás és forma analízis - Áttekintés - METTLER TOLEDO
Magyarország
Inline részecskeméret eloszlás és forma analízis

Inline részecskeméret eloszlás és forma analízis

Valós idejű részecskeméret-elemzés laboratóriumi és folyamatanalitikai területen

Hogyan segíthetünk Önnek?
 

A részecskék és cseppek optimalizálása és méretnövelése kihívást jelent

Az FBRM és PVM technológiákkal a METTLER TOLEDO piacvezető szerepet tölt be a részecskerendszerek valós idejű, in-situ jellemzésében. A részecsk...

Az FBRM és PVM technológiákkal a METTLER TOLEDO piacvezető szerepet tölt be a részecskerendszerek valós idejű, in-situ jellemzésében. A részecskék folyamaton belüli, természetesen jelen lévő állapotukban történő vizsgálatával még inkább bővíthető a folyamatokról alkotott tudás, aminek eredményeképpen lehetőség van optimalizálni és felügyelni a récseszke- és csepprendszereket.

A Lasentec 2001-es bevezetése óta a METTLER TOLEDO folyamatosan fejlesztette az FBRM és PVM technológiákat. Világszerte több ezer K+F laboratóriumban és gyártóüzemben történő telepítés után ezek a szondalapú technológiák jelentik a részecskék és cseppek számában és alakjában bekövetkező változások valós idejű mérésének és képi megjelenítésének aranystandardját.


 
METTLER TOLEDO Lasentec FBRM
Real Time Microscopy For Crystals, Particles and Droplets

Részecskekövetés FBRM technológiával

Szemcsevizsgálat PVM technológiával

A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba és FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technológiája révén meghatározható, hogyan változik adott idő alatt a folyamatban fellelhe...
A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba a részecskék valós idejű, PVM technológiás mikroszkóppal történő vizualizálásához.
A részecskeméret- és szám mérése
A részecskeméret és -szám valós idejű nyomon követésével a kutatók bizonyítékokkal alátámasztott módszerek segítségével lesznek képesek a folyamatok megértésére, optimalizálására és méretnövelésére.
Információkinyerés mintavételezés nélkül
A folyamatban természetes állapotukban jelen levő részecskék méretének és számának valós idejű nyomon követésével a kutatók biztonságosan és extra időráfordítás nélkül kaphatnak a folyamatokról információt – még rendkívül magas hőmérséklet és nyomásviszonyok mellett is.
A folyamatok gondtalan fejlesztése
Azáltal, hogy a részecskeméret és -szám a reakciókörülmények változásával együtt folyamatosan nyomon követhető, lehetőség van a folyamatok optimalizálására és a végcélnak megfelelő részecsketulajdonságok létrehozására.
Alkalmazza laboratóriumban vagy üzemi környezetben
A gyártási folyamatok nyomon követésével gyorsan azonosíthatóak a hibák, a javító intézkedéseket pedig a valós gyártási méret mellett megszerzett információkra alapulva lehet megvalósítani.
Tanulmányozza a részecskék méretét, formáját és struktúráját
Azáltal, hogy a részecskékről valós idejű mikroszkópos kép nyerhető ki, ráadásul a folyamatban jelenlévő állapotukban, a kutatóknak lehetősége van azonnali és átfogó képet kapni minden részecskerendszerről.
Rögzítse az eluzív mechanizmusokat is
Kristályok, cseppek és egyéb kényes struktúrák láthatóságával a kutatók még olyan átmeneti folyamatokat és eluzív mechanizmusokat is képesek jellemezni, amelyek a folyamat és a termékminőség szempontjából nagy jelentőséggel bírnak.
Kritikus folyamatesemények vizsgálata
A részecskeméretben és -koncentrációban bekövetkező érzékeny változások képalapú megfigyelésével a kutatók képesek azonosítani és utána kivizsgálni a legfontosabb eseményeket, csökkentve ezzel a folyamatok fejlesztéshez szükséges időt.
Szerezzen bizonyítékot az optimalizáláshoz
A részecskék és részecskemechanizmusok inline módon történő megfigyelésével a tudósok olyan egyedi információkhoz juthatnak hozzá, amelyekkel sokkal körültekintőbb és összességében költséghatékonyabb folyamatfejlesztést valósíthatnak meg.
METTLER TOLEDO Lasentec FBRM
Részecskekövetés FBRM technológiával

A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba és FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technológiája révén meghatározható, hogyan változik adott idő alatt a folyamatban fellelhe...

A részecskeméret- és szám mérése
A részecskeméret és -szám valós idejű nyomon követésével a kutatók bizonyítékokkal alátámasztott módszerek segítségével lesznek képesek a folyamatok megértésére, optimalizálására és méretnövelésére.
Információkinyerés mintavételezés nélkül
A folyamatban természetes állapotukban jelen levő részecskék méretének és számának valós idejű nyomon követésével a kutatók biztonságosan és extra időráfordítás nélkül kaphatnak a folyamatokról információt – még rendkívül magas hőmérséklet és nyomásviszonyok mellett is.
A folyamatok gondtalan fejlesztése
Azáltal, hogy a részecskeméret és -szám a reakciókörülmények változásával együtt folyamatosan nyomon követhető, lehetőség van a folyamatok optimalizálására és a végcélnak megfelelő részecsketulajdonságok létrehozására.
Alkalmazza laboratóriumban vagy üzemi környezetben
A gyártási folyamatok nyomon követésével gyorsan azonosíthatóak a hibák, a javító intézkedéseket pedig a valós gyártási méret mellett megszerzett információkra alapulva lehet megvalósítani.
Mutasson többet
Mutasson kevesebbet
Real Time Microscopy For Crystals, Particles and Droplets
Szemcsevizsgálat PVM technológiával

A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba a részecskék valós idejű, PVM technológiás mikroszkóppal történő vizualizálásához.

Tanulmányozza a részecskék méretét, formáját és struktúráját
Azáltal, hogy a részecskékről valós idejű mikroszkópos kép nyerhető ki, ráadásul a folyamatban jelenlévő állapotukban, a kutatóknak lehetősége van azonnali és átfogó képet kapni minden részecskerendszerről.
Rögzítse az eluzív mechanizmusokat is
Kristályok, cseppek és egyéb kényes struktúrák láthatóságával a kutatók még olyan átmeneti folyamatokat és eluzív mechanizmusokat is képesek jellemezni, amelyek a folyamat és a termékminőség szempontjából nagy jelentőséggel bírnak.
Kritikus folyamatesemények vizsgálata
A részecskeméretben és -koncentrációban bekövetkező érzékeny változások képalapú megfigyelésével a kutatók képesek azonosítani és utána kivizsgálni a legfontosabb eseményeket, csökkentve ezzel a folyamatok fejlesztéshez szükséges időt.
Szerezzen bizonyítékot az optimalizáláshoz
A részecskék és részecskemechanizmusok inline módon történő megfigyelésével a tudósok olyan egyedi információkhoz juthatnak hozzá, amelyekkel sokkal körültekintőbb és összességében költséghatékonyabb folyamatfejlesztést valósíthatnak meg.
Mutasson többet
Mutasson kevesebbet

Szolgáltatások

+36 1 288 4059
Szerviz hívása
Rendelkezésre állás
Támogatás és javítás
Teljesítmény
Karbantartás és optimalizálás
Megfelelőség
Kalibrálás és minőségbiztosítás
Szakértelem
Oktatás és konzultáció

Publikációk

Applications

 
 
 
 
 
 
 
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.