Részecskeméret-eloszlás vizsgálat I METTLER TOLEDO
Részecskeméret-eloszlás vizsgálat

Részecskeméret-eloszlás vizsgálat

Valós idejű részecskeméret-elemzés laboratóriumi és folyamatanalitikai területen

 

A részecskék és cseppek optimalizálása és méretnövelése kihívást jelent

Az FBRM és PVM technológiákkal a METTLER TOLEDO piacvezető szerepet tölt be a részecskerendszerek valós idejű, in-situ jellemzésében. A részecsk...

Az FBRM és PVM technológiákkal a METTLER TOLEDO piacvezető szerepet tölt be a részecskerendszerek valós idejű, in-situ jellemzésében. A részecskék folyamaton belüli, természetesen jelen lévő állapotukban történő vizsgálatával még inkább bővíthető a folyamatokról alkotott tudás, aminek eredményeképpen lehetőség van optimalizálni és felügyelni a récseszke- és csepprendszereket.

A Lasentec 2001-es bevezetése óta a METTLER TOLEDO folyamatosan fejlesztette az FBRM és PVM technológiákat. Világszerte több ezer K+F laboratóriumban és gyártóüzemben történő telepítés után ezek a szondalapú technológiák jelentik a részecskék és cseppek számában és alakjában bekövetkező változások valós idejű mérésének és képi megjelenítésének aranystandardját.


 
Probe-based imaging tool that captures high-resolution images of crystals, particles, and droplets as they exist in process.
New Experimental Insights
Study crystallization, precipitation, suspensions, and emulsions at previously unobtainable levels of detail and reveal new insights that will power process development decision making.
Powerful Analytics with iC Vision
Monitor process changes using simple analytics, or quantify particle size and shape with customized algorithms.
Breakthrough Usability
With a slim, lightweight probe and plug-and-play connection, EasyViewer makes setup and data capture effortless. Smart focus and lighting controls alleviate the burden of manual interventions.
Confident Deployment
EasyViewer is built for frequent use and provides exceptional information - after as little as 15 minutes training.
EasyViewer
A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba és FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technológiája révén meghatározható, hogyan változik adott idő alatt a folyamatban fellelhe...
A részecskeméret- és szám mérése
A részecskeméret és -szám valós idejű nyomon követésével a kutatók bizonyítékokkal alátámasztott módszerek segítségével lesznek képesek a folyamatok megértésére, optimalizálására és méretnövelésére.
Információkinyerés mintavételezés nélkül
A folyamatban természetes állapotukban jelen levő részecskék méretének és számának valós idejű nyomon követésével a kutatók biztonságosan és extra időráfordítás nélkül kaphatnak a folyamatokról információt – még rendkívül magas hőmérséklet és nyomásviszonyok mellett is.
A folyamatok gondtalan fejlesztése
Azáltal, hogy a részecskeméret és -szám a reakciókörülmények változásával együtt folyamatosan nyomon követhető, lehetőség van a folyamatok optimalizálására és a végcélnak megfelelő részecsketulajdonságok létrehozására.
Alkalmazza laboratóriumban vagy üzemi környezetben
A gyártási folyamatok nyomon követésével gyorsan azonosíthatóak a hibák, a javító intézkedéseket pedig a valós gyártási méret mellett megszerzett információkra alapulva lehet megvalósítani.
METTLER TOLEDO Lasentec FBRM
A szondaalapú műszer, a PVM-technológiával kiegészített valós idejű mikroszkópia segítségével, közvetlenül a folyamatba helyezve képes a szemcsék megjelenítésére.
A szemcsék méretének, alakjának és szerkezetének vizsgálata
Azáltal, hogy a szemcsékről magában a technológiai folyamatban kaphatnak valós idejű mikroszkópos képeket, a kutatók azonnali és átfogó ismereteket szerezhetnek minden szemcserendszer folyamatairól.
Nehezen megfogható mechanizmusok meghatározása
A kristályok, cseppek és más apró szemcsestruktúrák megjelenítésével a kutatók olyan gyorsan változó eseményeket és nehezen megfogható mechanizmusokat is le tudnak írni, amelyek kritikus fontosságúak a technológia és a termékminőség szempontjából.
Kritikus folyamatesemények vizsgálata
A szemcsék méretében és koncentrációjában bekövetkező változásra érzékeny, képalapú trendfelvétel segítségével a kutatók azonosítani, majd elemezni tudják a fontos eseményeket, amivel csökkenthető a folyamatfejlesztéshez szükséges idő.
Optimalizálást segítő adatok meghatározása
A szemcsék és a szemcsemechanizmusok technológiai folyamaton belüli megjelenítésével a kutatók egyedülálló ismereteket szerezhetnek, ami elősegíti az intelligensebb folyamatfejlesztést, mindezt alacsonyabb összköltség mellett.
Valós idejű mikroszkópia kristályokhoz, szemcsékhez és cseppekhez
EasyViewer

Probe-based imaging tool that captures high-resolution images of crystals, particles, and droplets as they exist in process.

New Experimental Insights
Study crystallization, precipitation, suspensions, and emulsions at previously unobtainable levels of detail and reveal new insights that will power process development decision making.
Powerful Analytics with iC Vision
Monitor process changes using simple analytics, or quantify particle size and shape with customized algorithms.
Breakthrough Usability
With a slim, lightweight probe and plug-and-play connection, EasyViewer makes setup and data capture effortless. Smart focus and lighting controls alleviate the burden of manual interventions.
Confident Deployment
EasyViewer is built for frequent use and provides exceptional information - after as little as 15 minutes training.
METTLER TOLEDO Lasentec FBRM

A szondaalapú készülék közvetlenül integrálható a folyamatokba és FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technológiája révén meghatározható, hogyan változik adott idő alatt a folyamatban fellelhe...

A részecskeméret- és szám mérése
A részecskeméret és -szám valós idejű nyomon követésével a kutatók bizonyítékokkal alátámasztott módszerek segítségével lesznek képesek a folyamatok megértésére, optimalizálására és méretnövelésére.
Információkinyerés mintavételezés nélkül
A folyamatban természetes állapotukban jelen levő részecskék méretének és számának valós idejű nyomon követésével a kutatók biztonságosan és extra időráfordítás nélkül kaphatnak a folyamatokról információt – még rendkívül magas hőmérséklet és nyomásviszonyok mellett is.
A folyamatok gondtalan fejlesztése
Azáltal, hogy a részecskeméret és -szám a reakciókörülmények változásával együtt folyamatosan nyomon követhető, lehetőség van a folyamatok optimalizálására és a végcélnak megfelelő részecsketulajdonságok létrehozására.
Alkalmazza laboratóriumban vagy üzemi környezetben
A gyártási folyamatok nyomon követésével gyorsan azonosíthatóak a hibák, a javító intézkedéseket pedig a valós gyártási méret mellett megszerzett információkra alapulva lehet megvalósítani.
Valós idejű mikroszkópia kristályokhoz, szemcsékhez és cseppekhez

A szondaalapú műszer, a PVM-technológiával kiegészített valós idejű mikroszkópia segítségével, közvetlenül a folyamatba helyezve képes a szemcsék megjelenítésére.

A szemcsék méretének, alakjának és szerkezetének vizsgálata
Azáltal, hogy a szemcsékről magában a technológiai folyamatban kaphatnak valós idejű mikroszkópos képeket, a kutatók azonnali és átfogó ismereteket szerezhetnek minden szemcserendszer folyamatairól.
Nehezen megfogható mechanizmusok meghatározása
A kristályok, cseppek és más apró szemcsestruktúrák megjelenítésével a kutatók olyan gyorsan változó eseményeket és nehezen megfogható mechanizmusokat is le tudnak írni, amelyek kritikus fontosságúak a technológia és a termékminőség szempontjából.
Kritikus folyamatesemények vizsgálata
A szemcsék méretében és koncentrációjában bekövetkező változásra érzékeny, képalapú trendfelvétel segítségével a kutatók azonosítani, majd elemezni tudják a fontos eseményeket, amivel csökkenthető a folyamatfejlesztéshez szükséges idő.
Optimalizálást segítő adatok meghatározása
A szemcsék és a szemcsemechanizmusok technológiai folyamaton belüli megjelenítésével a kutatók egyedülálló ismereteket szerezhetnek, ami elősegíti az intelligensebb folyamatfejlesztést, mindezt alacsonyabb összköltség mellett.

Szolgáltatások

+36 1 288 4059
Szerviz hívása
Rendelkezésre állás
Támogatás és javítás
Teljesítmény
Karbantartás és optimalizálás
Megfelelőség
Kalibrálás és minőségbiztosítás
Szakértelem
Oktatás és konzultáció
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.