自2001年收购Lasentec以来，梅特勒托利多持续推动着FBRM和PVM粒度分析仪的开发。 从研发实验室到制造工厂，我们基于探头的技术在世界各地进行了成千上万次的安装，被公认为是粒度分布分析的黄金标准。 我们的技术（包括 结晶设备）可测量和呈现过程中自然存在的粒子和液滴系统变化速率与程度。
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粒度分析仪是一种测量、呈现和报告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析仪。 粒度分析仪在工艺开发以及粒子系统质量控制方面起到重要作用，可建立起高效的工艺和取得高质量的最终产品。
以往采用的是取样与离线粒度分析仪（激光衍射、动态光散射、沉淀或筛余分析）进行产品质量控制。 但是无论是常见的取样难题、对于加快过程开发的更大压力，还是对于一步到位过程的更大需求，均需要开发出原位粒度分析仪。 由于能够测量过程中自然存在的粒子，因此极大地提高了了解、优化和控制他们的粒子和液滴系统的能力。
梅特勒托利多提供两种粒度分析仪。 EasyViewer是一种利用先进的图像分析技术确定粒度的原位视频显微镜。 ParticleTrack是一种利用聚焦光束反射测量仪（FBRM）确定粒度的原位粒度分析仪。
将基于探头的仪器直接插入到反应体系中，利用聚焦光束反射测量(FBRM)技术研究粒径与粒数随时间的变化。 | 测量颗粒粒径和粒数 通过实时监测颗粒粒径与粒数，科学家们能够使用基于实际的方法信心满满地了解、优化和放大实验过程。 无需取样即能了解相关信息 通过追踪过程中自然存在的颗粒粒径与粒数的变化，科学家们能够安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极端温度与压力条件下，也能如此。 设计可靠过程 随着实验条件的变化，不断跟踪颗粒粒径和粒数，可以优化过程，获得与目的需求相符的一致颗粒。 在实验室和工厂内部署 通过监控制造过程，可以快速查出故障，借助在全生产规模下收集的证据进行改进。 |  |
探头型成像工具，可采集晶体、颗粒和液滴在过程中的高分辨率图像。 | 新的实验见解 以先前无法实现的细节程度研究结晶、沉淀、悬浮液和乳液并揭示新的信息，这将推动过程开发决策。 使用iC Vision实现强大的分析 采用简单的分析方法监测过程变化，或利用定制的算法量化颗粒粒径和形状。 使用性的突破 通过一个轻薄小巧的探头和即插即用连接，EasyViewer即可实现轻松安装和数据采集。智能对焦和灯光控制功能减轻了手动干预的负担。 信心满满的部署 EasyViewer适合频繁使用并能提供特别的信息，仅需15分钟简单培训即可上手。 |   |
将基于探头的仪器直接插入到反应体系中，利用聚焦光束反射测量(FBRM)技术研究粒径与粒数随时间的变化。
探头型成像工具，可采集晶体、颗粒和液滴在过程中的高分辨率图像。
粒度的含义？
每一个粒子都有一种特定的形状和不同的三维延伸率。 粒度是一种描述和表征粒子尺寸特性（长度、宽度与高度）的有效方式。 尽管粒子通常具有三维特性，但是在实践中通常使用一维尺寸函数（例如：弦长、粒子强度或等效球直径）。
为什么粒度分析很重要？
不同粒子可能具有非常不同的物理特性，而某一种粒度与粒子形状将会对特定的用途最为有效。
粒度分析对于工艺优化与质量控制非常重要，可确保和记录最佳的粒子特性。 在最坏情况下，错误的粒度可能意味着粒子产品不适用，以及下游过程可能发生意外停机。
测量粒度的方法是什么？
采用nm、µm或mm等长度尺寸测量粒度。 根据行业与粒子，可能会有不同的尺寸范围适用。
如何测量粒度？
例如，可使用小尺或卡尺测量宏观粒子。 由于微观晶体粒度较小，因此通常需要使用更加复杂的分析设备。 常规粒度测量方法包括图像分析、激光背向散射、激光衍射或筛分分析法。
什么是平均粒度？
对于粒度不同（小到大）的粒子群，可计算算数平均值、中位数或众数，作为所有粒子的积分函数。 平均粒度提供一个表征较大粒子群的平均数。
粒度分析仪的工作原理？
粒度分析仪在个别以及方法特定边界条件下，按照特定的测量方法（例如：图像分析、激光背向散射或激光衍射）运行。 存在多种粒度分析仪。 所有粒度分析仪根据其特定的测量方法为同一个粒子提供不同值。
下列精选的期刊文章利用粒度分析仪解决测量溶解度与介稳区、结晶设计、晶种结晶过程、优化晶体形状、监测超饱和、多晶结晶、相分离（成油）、管理杂质、结晶放大生产以及持续结晶问题。
