Mettler Toledo
粒径分布分析
用于实验室和过程环境的实时的颗粒粒径和形状分析
我们如何为您提供帮助？
在线颗粒粒径分布分析颗粒粒径分布非常难以优化、放大和分析。 凭借ParticleTrack（FBRM技术）和ParticleView（PVM技术），梅特勒-托利多成为实时 原位 颗粒体系表征和分析领域的全球领导者。 能够测量过程中自然存在的颗粒，极大地提高了了解... |
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实时粒径与粒数分析 | 使用实时显微镜观察颗粒、晶体和液滴 | |
在将探头式仪器直接插入工艺流之后，聚焦光束反射测量（FBRM）技术可研究粒径与粒数的不断变化情况。 | 使用PVM实时显微镜技术将探头式元件插入工艺过程中直接观察颗粒 | |
测量颗粒粒径和粒数 通过实时监测颗粒粒径与粒数，科学家能够使用基于证据的方法自信地了解、优化和放大实验过程。 无需取样即可了解 通过追踪过程中自然存在的颗粒的粒径与粒数的变化，即使在极端温度与压力条件下，科研人员也可安全且无延迟地了解工艺。 游刃有余地开发工艺 随着实验条件发生变化，通过不断跟踪颗粒粒径与粒数，不仅可优化工艺，而且可始终获得适合的颗粒。 在实验室和工厂内部署 通过监测制造过程，不仅可快速识别干扰因素，而且可利用在全规模生产过程中采集到的数据进行改进。 | 研究颗粒粒度、形状和结构 通过获取存在于过程中的颗粒的实时显微镜图像，科学家能够直接和全面地了解每个颗粒体系的过程。 捕捉难以捉摸的机制 通过观察晶体、液滴及其他细微颗粒结构，科学家可以表征可能对于优化产品质量或过程至关重要的瞬时事件和难以捉摸的机制。 研究关键过程事件 基于图片的趋势对颗粒粒度和浓度的变化比较敏感，有助于科学家确定并调查关键过程事件，减少开发工艺所用时间 获取优化证明 通过在线观察颗粒和颗粒机制，科学家可获得以较低的总成本支持更智能的工艺开发的独特知识。 |
在将探头式仪器直接插入工艺流之后，聚焦光束反射测量（FBRM）技术可研究粒径与粒数的不断变化情况。
使用PVM实时显微镜技术将探头式元件插入工艺过程中直接观察颗粒
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