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Mettler Toledo
線上顆粒粒徑分佈及形狀分析
用即時分析來理解、優化和控制顆粒與液滴系統
我們能如何協助您？
眾所周知顆粒與液滴系統難於進行優化和放大。擁有著 FBRM® 和 PVM®，梅特勒-托利多是即時原位顆粒系統特性分析的國際領先者。顆粒自然存在於工藝過程中便可得到測量分析的能力極大地改進了人們理解、優化和控制顆粒與液滴系統的能力。
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採用 FBRM 技術的 ParticleTrack | 採用 PVM 技術的 ParticleView | |
利用聚焦光束反射測量儀 (FBRM) 技術實時跟蹤顆粒粒徑分布、形狀與數量的變化。 | 使用基於探頭的實時顯微鏡利用 PVM 技術觀察顆粒、晶體和液滴 | |
全工藝過程濃度 取消採樣、稀釋與離線分析環節 優化顆粒分布 提高過程性能與產品品質 了解過程參數 實時識別顆粒與液滴體系變化 技術轉移至工廠 實現批次可重複性與確保一致的過程終點 | 了解顆粒與液滴 即時觀測顆粒、液滴、細胞及晶體的變化 線上測量 實時圖像確保更快速了解過程 高分辨率顯微鏡圖像 在全工藝過程濃度條件下表徵半透明或透明系統內的顆粒系統 排除過程變化故障 可檢測過程不一致性和確保產品品質 |
利用聚焦光束反射測量儀 (FBRM) 技術實時跟蹤顆粒粒徑分布、形狀與數量的變化。
使用基於探頭的實時顯微鏡利用 PVM 技術觀察顆粒、晶體和液滴
自從於 2001 年收購了 Lasentec® ，梅特勒-托利多不斷地提高對 FBRM® 和 PVM® 的開發。已有數千台產品安裝在世界各地的研發實驗室和生產廠裏，使我們基於探頭的技術被公認為是測量和顯現自然存在於工藝過程中的顆粒變化速度與程度的黃金標準。
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Dec 03, 2018
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