Video | X34C X-ray inspectiesysteem
De X34C werd speciaal ontwikkeld voor de inspectie van kleine, individueel verpakte producten, zoals farmaceutische doordrukstrips en granenrepen. Het systeem combineert kleine afmetingen met een geoptimaliseerde focusafstand voor de uitstekende detectie van verontreinigde of afwijkende, individueel verpakte producten.
De X34C werd ontworpen op basis van drie principes: compacte afmetingen, supersnelle functies en nauwkeurige prestaties. Deze principes pakken enkele van de grootste uitdagingen van producenten aan.
Compact: de X34C is een oplossing voor een enkele transportband. Dit X-ray inspectiesysteem heeft een lengte van slechts 700 mm en is daarmee één van de kleinste oplossingen die momenteel op de markt verkrijgbaar zijn. Dit is ideaal als de beschikbare ruimte op de productielijn beperkt is. Het onderhoud is vereenvoudigd, omdat de machine vanaf de voorkant toegankelijk is.
Hoge snelheid: de X34C heeft een lijnsnelheid van 120 m/min en kan daarmee andere systemen op de productielijn bijhouden zonder enige impact op de productiviteit of de doorvoer. Diodes van 0,4 mm en een Optimum Power Generator van 100 W ondersteunen deze hoge snelheid en garanderen een uitstekende detectiegevoeligheid.
Nauwkeurig: met de ContamPlus™ X-ray inspectiesoftware van METTLER TOLEDO levert de X34C verbeterde gevoeligheidsniveaus, een grotere kans op detectie en minder productverspilling. De software gebruikt tot 30 individuele algoritmes voor een superieure detectie van verontreinigingen.
