METTLER TOLEDO分析天平的秤重原理基於電磁力補償。秤殼內的秤重單元會對放置在秤盤上的物體產生相反的電磁力。分析天平將這個補償電磁力的大小解釋為物體的重量。結果會以相應的單位（克、毫克、微克等）顯示在天平終端上。

實驗室分析天平（0.1 mg 或更小）的秤重盤置於通風屏蔽內，保護樣本與容器免受外來環境影響，如氣流，提升整體秤重性能。這在分析權重中尤為重要，因為結果的準確性至關重要。

分析天平用於簡單的秤重應用，也可用於標準與樣品製備、配方、密度測量、濾器秤重等。

秤重前，先檢查天平是否水平。如果您的標準作業程序（SOP）要求如此，您可能需要進行天平調整。

• 開始秤重程序時，先按下零點按鈕。這會給你一個零點，作為你秤重過程的起點。
• 打開防風罩門，將目標容器（有時稱為 tare）放在秤盤上。記得戴手套或必要時使用鑷子。
• 關閉防風門，等待容器重量穩定。現在你的罐子重量會顯示在顯示器上。
• 現在按下 TARE 按鈕。天平會記錄你用的容器重量，顯示會再次顯示零（注意這和零點不同）。
• 開始添加樣本，直到達到目標重量。
• 關上防風門。一旦天平穩定，就會釋放重量結果。
• 天平現在已經記錄了你的 tare容器和樣本的重量。如果你列印結果，權重值會顯示，T代表淨量，N代表淨量，G代表總重量。
• 秤重結束後，務必依照標準作業程序清潔天平和周圍的工作台。如果清潔時拔掉電源，請讓它再次加熱後再使用。

如果你正在秤重物品，而不是將樣本投入容器，只需將天平歸零，並將物品放在秤盤中央即可。然後關閉通風擋板門，等待秤釋放重量結果。 閱讀更多內容並下載我們的免費指南： 如何使用分析天平

清潔分析天平對使用者安全及避免影響結果準確度的交叉污染非常重要。 此外，良好的分析天平維護將延長其壽命。

秤盤、滴水盤、外殼及分析天平的終端可用衛生紙清潔。您的分析天平由高品質且耐用的材料製成，允許使用市售的溫和洗劑和清潔劑（如70%乙醇或異丙醇）進行清潔。請勿使用丙酮清潔 分析天平，因為它與塑膠手柄、膠合零件及端子不相容。

若標準作業程序未明確說明，建議至少每週或每月清理一次分析餘額，視使用情況而定 。許多實驗室建議每日檢查分析量表。在秤重有毒樣本 時，每次秤重後應立即清潔分析天平。

所有 METTLER TOLEDO 分析天平模型皆具備方便清潔的功能。 

MS 分析天平可透過 QuickLock 從分析天平外殼完整且輕鬆地拆卸與組裝拖曳罩 ，無需使用任何工具。這使得MS模型不僅易於清潔，也便於攜帶到密閉空間。

在XPR分析天平上，清潔工作簡化，使用易於拆卸的元件，如滴水盤及所有 防風罩零件，無需任何工具。這些零件可以用洗碗機簡單清洗

想了解更多如何清理分析餘額，請參考我們的天平清潔指南

零函數給你一個零點，讓你可以開始秤重過程。如果你使用的是較重的秤重盤（例如搭配ErgoClip），或是秤盤上有保護墊，零值功能實際上會忽略這個功能，因為秤重單元已識別的重量不會被包含在你的秤重過程中。然而，天平上的任何重量仍會影響你能承受的最大負載（即天平承受能力）。

使用 tare 功能時，天平內部會記錄已在秤盤上的重量，並將顯示重設為零，準備將其他重量加入天平。當結果以電子方式記錄時，會以T表示總重、N代表淨重量、G表示總重量表示。

分析天平，通常簡稱為「實驗室天平」，能分析各種樣品。 客戶特定應用中需要使用電子天平的應用包括：

• 樣品/標準製備
• 表述
• 差壓
• 密度測定
• 區間秤重
• 移液器例行測試
• 元素分析
• 高效液相色譜（HPLC）
• GCMS（氣相層析-質譜）
• 填充與餵食的劑量與配藥

分析天平被廣泛應用於一般實驗室、研發及品質控制實驗室，涵蓋製藥與生物技術、化學、食品、學術、金屬與塑膠等各行各業 。

選擇合適的分析天平非常重要。準確秤重不僅僅是天平顯示上的數字。唯有了解您的製程風險、公差、所需品質及相關法規，才能選擇能提供足夠準確度的天平。天平的表現必須同時符合您內部的準確度要求以及任何外部規範。你的分析天平必須符合其預期目的;否則，所有秤重結果及後續使用該秤重結果的程序將被視為無效。

METTLER TOLEDO 免費的 GWP^® 推薦 服務旨在幫助您選擇最適合您特定製程與精度需求的儀器。它考量了以下幾個關鍵因素：

• 最大重量：你能承受的最大載重（包含這個空箱）
• 最小淨重量：你秤重的最小貨物（不含空貨容器）
• 秤重容差：可接受的秤重誤差，以±百分比表示
• 安全係數： 此因子用於平衡最小重量，以補償外部影響，如振動、氣流、不同操作員等。

GWP^® 建議也可用來判斷您安裝的天平是否符合需求。

有幾種方法可以處理分析天平中的數據加權。 

可手動將秤重結果從分析秤轉移到實驗室日誌及 其他工具，供計算或進一步使用。手動方式可透過 印表機及其他 配件（如條碼讀取器）來強化。請參考下方影片，了解如何使用搭配 MS-TS 分析天平的 USB 條碼讀卡器。

為消除人工錯誤，METTLER TOLEDO分析天平可輕鬆連接至電腦或其他 METTLER TOLEDO儀器，透過USB和 乙太網路等多種介面進行數位資料收集與儲存。

請觀看以下影片，了解如何將 MS-TS 分析餘額連接到乙太網路和無線網路。

標準與進階分析天平線可連接 EasyDirect 天平軟體， 該軟體可從最多 10 個分析天平收集秤重數據。

卓越分析天平提供直接匯入結果至電腦，具備可直接導向游標功能，並 相容 LabX™ 資料管理軟體，實現優化且完全數位化的工作流程。透過集中式儀器與任務控制、使用者指引及安全儲存結果，LabX 提升效率、提供 可追溯性，並協助符合法規要求。

METTLER TOLEDO 分析天平能協助您簡單傳輸資料，無需額外軟體。首先，用 USB 線將你的分析天平連接到電腦。

• 在我們的卓越層級分析天平中，啟動 HID（滑標）功能。現在，只要在天平顯示上按下「新增結果」，你的秤重結果就會直接傳送到Excel試算表或Word文件中。
• 在我們的進階與標準分析天平中，啟動PC Direct並按下「列印」，將你的秤重結果轉到Excel試算表或Word文件。

使用專用軟體可提升資料管理的可能性：

• 針對我們的進階及標準級分析天平， EasyDirect 軟體 提供擴展的結果管理功能，包括 CSV 檔案匯出、統計計算及結果審查。
• 針對我們的卓越級分析天平， LabX™ 實驗室軟體 提供先進的資料管理與結果分析。LabX 是一套強大的解決方案，用於集中管理資料、任務、儀器與使用者。LabX 亦協助遵守 21 CFR 第 11 部分及 ALCOA+ 資料完整性要求。

分析天平與微量天平的顯著差異之一是可讀性小數 位數。分析天平是實驗室天平，可讀性可達小數點四位或以上。 METTLER TOLEDO分析天平的可讀性範圍介於1 mg至0.001 mg之間。典型應用 包括樣品與標準製備、差磅秤重、密度測定等。

METTLER TOLEDO的微量天平與超微量天平在 所有實驗室天平中提供最高的精度，可讀性分別為1微克（小數點後六位）及0.1微克（小數點後七位）。典型應用包括顆粒物（過濾器）秤重、移液器校正、農藥殘留測試及支架秤重。

此外，還能看到更高的重複性與結構差異。微量天平有一個小型 圓柱形秤重室，並設有額外的天平顯示，有助於在秤重非常 小樣本時提升人體工學。

所有 METTLER TOLEDO 分析天平都是電子天平，但並非所有電子天平都是分析天平。電子天平是指任何現代天平，將樣品的重量轉換為電信號的天平。電子天平，包括分析天平，配備負載感應器並使用某種形式的電子補償。對於分析天平，電磁力補償就是此類技術。

校準是對天平性能的評估。校正分析天平的需求取決於其使用地點及是否有相關法規。同時也要考慮重量錯誤的風險與成本影響，與校正成本相比。

在受管制的環境中，校正是必要的，因為它確保天平符合預期。分析天平校正確保秤重設備符合 ISO、GLP/GMP、IFS 及 BRC 等標準。

當必須取得高度準確的秤重結果時，選擇不校準分析天平可能是一項高風險策略。在此環境中，使用未經校正的設備可能導致生產問題，例如：

• 非預定停機時間
• 產品品質較差
• 流程與稽核問題
• 產品重製與召回

分析天平校正不應與例行測試混淆。校準由授權的服務技術人員執行，例行測試則由儀器使用者執行。若定期檢測，有助於及早發現潛在的耐受度異常結果。

點擊 這裡閱讀更多關於天平校正的資訊。

分析天平校正應由授權的服務技術人員依標準程序執行。服務技術員通常會使用專用軟體支援流程並提供校正證書。有文件記錄的分析天平校正在受管制的環境中至關重要，如製藥與生物技術。

校正涉及評估分析天平相對於測量標準的表現。這包含多項測試，包括將天平上的指示與放在秤盤上的校準重量已知值進行比較。技術人員可以用明確的通過/不通過聲明來確認天平是否符合要求。

天平校正應依據製程風險（即錯誤秤重結果所造成的負面影響有多大）進行。在校準間隔期間，使用者應定期測試分析天平，以確保結果持續準確，並及早發現潛在問題。

梅特勒托利多的 良好秤重規範™（GWP^®）是一項全球科學標準，用於安全選擇、操作及校準秤重設備。

每一項測量都存在一定程度的不確定性。測量不確定性源自隨機誤差，例如使用者或環境造成的，以及系統性誤差，例如每次使用時儀器性能的微小差異。

每次你在分析天平上秤重某件事時，結果都會有一定程度的不確定性。這種不確定性應該與結果一併宣示。如果不確定性過高，你可能無法信任結果。在秤重範圍的下端，相對量測不確定性更大，秤重小量時必須特別小心。

本指南說明了你天平的安全秤重範圍。

可透過考慮以下因素避免分析天平秤量誤差：

• 確保您的分析天秤符合 適用性
• 如何正確 安裝並驗證 您的分析天平
• 正確處理分析天平
• 遵循具體 的品質保證計畫

分析天平上的秤重誤差通常由外部因素如振動、氣流或靜 電荷引起。欲了解更多關於分析天平靜電荷及METTLER TOLEDO解決方案的資訊，請參閱  「靜電對分析天平的影響？ 」及 「如何消除靜電？」 並 參見靜電學與秤重指南。

分析天平的量測不確定性是透過對天平敏感性、非線性、離心率及重複性評估來決定的。良好做法是在安裝時間和地點判斷測量不確定性，並在每次天平保養/校正時重新評估。任何分析刻度上的測量若未宣告測量不確定性，皆不能被視為準確。

每個分析天平的最小重量都不同，取決於負載感測器的性能、位置、環境條件以及所需的秤重精度。最小重量是指儀器低於此最小重量的精度極限，相對測量不確定性大於所需秤重精度，秤重結果不可信。 相對量測不確定性是將絕對秤重不確定性除以負載計算，通常以百分比表示。

為了確定天平的最小重量，必須在工作環境中評估測量不確定性。或者，在較低天平範圍中，重複性作為主要誤差來源，可評估以小重量執行的最小重量，該重量低於擺輪容量的5%。

METTLER TOLEDO分析天平上的MinWeigh功能由認證技術人員執行，監控加入天平的樣品重量。若樣品重量低於確定的最低可接受值，天平顯示會變紅，重量值不會被釋放。

精度描述在相同測量條件下，兩個或以上測量值之間的接近程度。天平重複性測試（用以確定測量序列的標準差）可用來評估精確度。

真實性描述了測量值與公認真實值之間的接近程度。在分析天平的情況下，天平顯示器上的重量值會與校準測試重量（天平敏感度測試）的公認真實值比較。

為了使分析天平準確，秤重結果必須接近施加重量的真實值，且同一物體的重複秤重散射必須很少。準確性需要真實與精確。

靜電荷可能導致不穩定且無法重複的秤重結果。靜電會對秤盤施加力量，直接影響分析天平結果。靜電充電是秤重誤差的最大隱藏來源之一，因此能夠辨識何時可能影響你的秤重過程非常重要。靜電荷影響秤重單元的跡象是不穩定的天平讀數，以及讀數偏向單一方向。在這兩種情況下，天平可能無法穩定，或你可能得比平常更久才能釋放體重結果。你可能也遇過必須往容器中加入越來越多粉末才能達到目標重量的情況。然而，如果你的樣品或容器無法相對快速地消散電荷，結果可能會在你不知情的情況下產生錯誤。誤差範圍從幾毫克到100毫克不等。

METTLER TOLEDO XPR 分析天平內建獨特的 StaticDetect™ 功能，能自動評估因樣品或容器上的靜電荷而導致的秤重誤差。StaticDetect™ 若錯誤超過預設範圍，會發出警告。

閱讀我們的免費白皮書： 秤重時的靜電荷

在可能的情況下，應採取預防措施，減少或消除樣本及秤重容器上靜電積聚，以避免錯誤、不穩定或秤重結果釋放緩慢。減少靜電荷的部分預防措施包括：

• 確保空氣濕度充足（≥ 45%）
• 使用防靜電秤重容器（金屬為理想）
• 避免摩擦容器
• 使用帶有高邊的金屬碟來幫助隔絕樣品免受電場影響
• 在秤重前，先用離子機排出樣本和容器

METTLER TOLEDO XPR 分析天平整合了專利的 StaticDetect™ 感測器，能自動偵測樣品及/或容器上的靜電荷。天平會測量秤重誤差，若超出用戶定義的限值，則會發出警告。離子器與 StaticDetect 同步操作，會自動移除被秤重物體上的靜電荷。

點此 閱讀更多關於靜電荷及其物理原理的資訊。

METTLER TOLEDO的XPR分析天平可搭配選配的液體分配模組。此 實驗室液體分配器直接將液體劑量投放至XPR分析秤秤盤上的容器中。利用 液體密度與環境溫度，液體重量可被解釋為體積。 XPR 自動實驗室液體分配器的優點在於，在製作所需 濃度溶液時，可根據實際劑量加入精確的液體量，從而 產生高度精確的溶液。

分析天平的範圍是指該天平上可秤重的最大量，即秤重 範圍，也就是秤重容量。選擇分析天平時，應仔細考慮 你可能想秤重的最大重量，包括自重容器的重量。 200 克的分析天平是常見選擇，能在相對較大的容器中秤重小樣本。 欲了解更多資訊，請參閱 「如何快速判斷分析 天平的容量？」這個問題。

分析天平最常見的容量是200克，但市面上有 許多型號可供選擇。METTLER TOLEDO分析天平的容量範圍從22克到520克不等。額外的容量是為了考慮使用去皿容器。然而，分析天平的可讀性必須是小數點後4位（0.1 mg）或以上。在METTLER TOLEDO分析天平上，型號名稱中的數字表示容量，最後一個數字則表示可讀性小數點數。例如，XPR205 是 200 克的分析天平（實務中為 220 克），可讀度為 5 位小數點（0.01 毫克），而 MX104 則是一台 100 克的分析天平（實務中為 120 克），具有小數點後 4 位可讀性（0.1 毫克）。

模型名稱中的 C 表示XPR226CDR為 比較器分析天平。XPR226CDR是一款高性能的分析天平，特別挑選以極高的精度著稱。它是質量測定實驗室及重量校正服務供應商用於高精度質量測量應用的首選儀器。在這些應用中，權重與參考權重比較，因此稱為比較器天平。然而，它們也可用於需要高度精確度的分析天平應用。

分析天平上可秤的最大重量受天平容量限制。METTLER TOLEDO分析天平的容量範圍從22克到520克不等。我們所有的分析天平都具備過載保護，以保護敏感的秤重單元免受損壞，以防秤上掉落物品或施加過重負荷。若超過最大負載，會發出警告。分析天平可秤重的最小量取決於多種因素，包括期望的製程公差與精度。請參考「分析天平的最低權重是多少？」這個問題。

分析天平泡通常是放置在天平上某處的小型玻璃罩，裡面含有液體和氣泡。分析天平泡泡用於平衡。平衡你的分析天平非常重要，以確保你的結果準確無誤。你的分析天平精密設計成在水平位置運作，使秤重單元能記錄放置在其上的物品的全部重量。若分析天平不平，重量值會與真實值成傾角平方成正比。往下看天平泡泡時，泡泡應該在中央。若氣泡未居中，可透過旋轉天平腳調整水位，直到氣泡回到中心位置。

METTLER TOLEDO 卓越與進階級分析天平整合圖形化平衡指引，顯示哪隻腳需要轉向哪個方向及轉多少力度，讓你在短短幾秒內輕鬆完美調平天平。我們現在許多分析量表甚至不再包含物理平衡泡泡。

在大多數METTLER TOLEDO分析天平上，你可以在天平前端、靠近顯示器的位置找到水位氣泡。在較舊的分析天平模型中，水平氣泡位於擺輪右側，靠近尾部。然而，我們許多較新的分析秤型號已具備電子平衡功能，並配有螢幕上的平衡導引，因此不再需要實體的平衡泡泡。

分析天平可細分為分析天平與微分析天平。根據定義，分析天平的可讀性至少有4位小數位或以上（0.1毫克或更小）。分析天平使得少量物品能在相對較大的容器中秤重。 METTLER TOLEDO的微量分析天平 具備6位小數點的可讀性（0.001 mg或1微克），由於秤重單元靈敏度較高，因此具有第二個內側通風罩，因此懸掛秤盤較小。在32克和52克時，天平容量低於分析天平。

有時， 微小天平 會與分析天平分組。然而，METTLER TOLEDO 因至少 6 位小數點（1 微克）較高的可讀性、容量僅數克，以及天平結構不同，將它們分開分類。這些天平通常用於極高精度的應用，例如秤重微粒的過濾器和貴金屬檢測。

分析天平與其他天平類型在精度、可讀性、容量以及 設計上有所不同。

分析天平（左）與精密天平（右）：

與精密天平相比，分析天平的可讀性較高，範圍從1 mg到0.001 mg不等，且秤重單元靈敏度極高。因此，分析天平能夠以卓越的精度秤重極小樣品，容量範圍從22克到520克不等。分析天平始終配備有通風屏障，保護樣品及容器免受空氣流動影響，並維持環境穩定。分析天平常用於實驗室樣品製備、配方、差磅秤重、密度測定、例行移液器測試及其他應用。

更多資訊請參閱「 有哪些類型的餘額可用？」 問題。

METTLER TOLEDO 提供多種天平：

1. 超微天平
   • 可讀性： 0.5微克至0.1微克（0.0005毫克至0.0001毫克， 0.0000005克至0.0000001克）
   • 小數點 ：7
   • 最小重量 （5%載重，k=2，U=1%）： 降至30微克（0.03毫克）
   • 防風罩類型： 圓形
   • 容量範圍： 2.1 g – 6.1 g
2. 微調天平
   • 可讀性： 1 微克（0.0001 mg， 0.000001 g）
   • 小數點 ：6
   • 最小重量 （5%載重，k=2，U=1%）： 降至82微克（0.082毫克）
   • 防風罩類型： 圓形
   • 容量範圍： 2.1 克 – 10.1 克
3. 微分析天平
   • 可讀性： 1 微克（0.0001 mg， 0.000001 g）
   • 小數點 ：6
   • 最小重量 （5%載重，k=2，U=1%）： 降至120微克（0.12毫克）
   • 防風罩類型： 外層長方形 + 內層長方形長方形
   • 容量範圍： 32 克 – 52 克
4. 分析天平
   • 可讀性： 1000微克至1微克（1毫克至0.001毫克，0.001克至0.000001 克）
   • 小數點位： 4-6
   • 最低重量 （USP，0.1%，典型）： 1.4毫克
   • 防風罩類型： 長方形
   • 容量範圍： 22 克 – 520 克
5. 精密天平
   • 可讀性： 1,000,000 微克 – 100 微克 （1,000 mg – 0.1 mg，1 g – 0.0001 g）
   • 小數點數： 0-4
   • 最低重量 （USP，0.1%，典型）： 120 毫克
   • 防風罩類型： 無/矩形，適合小數點3位和4位可讀性
   • 承重範圍： 120 克 – 64 公斤

為確保您選擇適合應用的天平，METTLER TOLEDO制定了全球秤重標準——良好秤重規範™（GWP^®）。我們免費 的GWP^® 推薦 服務能協助您選擇符合特定申請需求及流程準確性的合適天平。

刻度分法 d 是測量刻度中最小的增量。在解析天平上， d 等於天平的可讀性，這是可測定的最小重量差異。這不應與天平的最小重量混淆。驗證刻度的分區 e 與貿易法律分析天平相關，並涉及直接銷售交易中權重結果可使用的最大小數位數。例如，在 e = d 的情況下，直接銷售交易的權重可利用餘額的可讀性來判斷。因此，若 d 為 0.001 g，所有權重結果皆可精確到小數點後 3 位。當 e = 10d 且 d = 0.001 g 時，權重結果只能給出小數點後 2 位，即 0.001 g x 10。在這種情況下，在你的分析天平顯示中，你可能會看到權重結果的小數點三位以括號標示，例如 2.67（3） g。

樣本越小，分析成本和資源消耗就越低。通常只有少量樣本可供分析天平秤重。以下是幾個簡單的小技巧，可以參考：

• 在秤重小樣本前，請確保你擁有適合應用的設備，詳見「分析天平的最低重量是多少？」以及「我該如何為我的秤重應用選擇合適的分析天平？」。可考慮使用自動天平或微天平以獲得更高的精度，或使用微型分析天平直接將小樣品秤重於相當重的瀝青容器中。 
• 降低測量誤差——樣本越小，相對測量不確定性越高。為了減少誤差，請選擇實驗室中理想的天平位置，並問「如何避免分析天平秤重錯誤？」 
• 盡可能直接將小樣本秤重到與容器中，避免在秤重紙張時手忙腳亂，避免轉移時材料損失。 
• 使用合適的工具能提升你在速度、準確度和人體工學方面的秤重體驗。下載 天平配件手冊 ，了解它如何優化並簡化小樣本秤重。 
• 您的METTLER TOLEDO分析天平是一台強大的儀器，能幫助你秤重小樣品。內建品質保證功能，如 StatusLight 和調平指南，能幫助你一次就獲得正確結果。小樣本則存在較高的相對量測不確定性。靜電荷是秤重誤差的主要原因之一。使用XPR分析天平，您可以量化靜電荷造成的秤重誤差，並透過選配的整合式電離器自動消除靜電荷。 
• 精確的重量測定對於小樣本至關重要。除了分析秤外，METTLER TOLEDO還提供自動及機器人秤重系統。這能降低變異性，並達到手動劑量無法比擬的準確度。在此了解更多： 自動天平 |自動粉末與液體分配

分析天平的準確度可以透過檢查其可重複性來檢驗，即同一物體在相同條件下所獲得的重複重量值的標準差。準確的分析天平會給出既真實又精確的數值（參見「分析天平的精度是多少？分析天平的準確度是多少？」）兩者有什麼不同？又該如何測試？」）。顯示值與實際加重的真實性或接近程度，可透過敏感度測試驗證。在低負載下，重複性是分析天平測量誤差的最大因素，因此資料表上的這項規範至關重要。例如，XPR205 分析天平在 5% 負載下的典型重複性低至 7 微克。要推導此類分析天平可秤重的最小權重，請參閱「分析天平的最低權重是什麼？」。

分析天平的效能指的是其在實驗室環境中提供準確且精確測量的能力。以下是通常被考慮的一些績效關鍵面向：

• 準確度：準確度是指測量值與真實值的接近程度。分析天平應能提供高度精確的測量。這表示測量的重量應該與被測量樣品的實際重量高度高度相當。
• 精確度：精確度與測量的重複性或重現性有關。它指的是在同一個樣本在相同條件下多次秤重時，結果的一致性。高度精確的分析天平能提供一致且變化最小的讀數，顯示低隨機誤差。可重複性指的是在同一樣本在相同條件下多次秤重時，結果的接近程度。它評估測量的一致性，並顯示天平能重現結果的效果。具有良好重複性平衡的天平，能持續提供相同樣本的相似讀數。
• 靈敏度：靈敏度指的是天平能偵測並準確測量的最小重量變化。它代表了天平能辨識出的最小重量增量。更靈敏的天平能偵測到較小的重量變化。
• 可讀性：可讀性指的是能顯示在餘額顯示中最小的增量。它顯示測量中的細節或解析度。可讀性較高的天平可以顯示較小的重量差異。
• 線性性：線性性描述天平能在整個秤重範圍內提供精確測量的能力。它顯示天平在施加的力（重量）與輸出（讀數）之間保持線性關係的程度。具有優良線性度的天平能在其指定範圍內提供準確的測量。
• 穩定性：穩定性指的是天平能隨時間維持一致測量的能力。即使秤重間隔不同，穩定的天平也會對同一樣品產生相似的讀數。這種穩定性對於確保測量的可靠性與一致性非常重要。
• 秤重時間：不同分析天秤間秤重所需的時間差異甚大，通常期望更快的秤重時間。為了縮短秤重時間，METTLER TOLEDO XPR 和 XSR 分析天平配備了懸掛式秤重盤，並採用稱為 SmartGrid 的網格結構。它比傳統盤子在秤重室內提供較小的氣流表面積，從而加快穩定時間並取得結果。

此外，XPR分析天平配備主動溫度控制技術，以提升溫度穩定性。

合法的貿易分析天平，也稱為貿易分析天平的合法標準，是受OIML R76定義的「非自動秤重儀器」當地法律要求約束的分析天平。對於核准的分析天平，淨加重結果必須符合更高等級的控制。「核准餘額」一詞包括合法換貿易（LFT）餘額、認證餘額及登記餘額。

核准餘額支持消費者保護與公平交易，並可能在以下情況下被要求：

1. 在某些國家，所有餘額都必須經過核准
2. 基於重量的金融交易（例如超市裡的蔬菜）
3. 基於重量的藥品或醫療應用（例如用於藥物配方的天平） 
4. 在需要精確確定數量（例如非法藥物的質量）的法庭上

天平合法貿易的分析天平很容易辨識。在METTLER TOLEDO，核准的型號有特定的型號名稱：XPR205並非核准型號，但XPR205/A、XPR205/AC及XPR205/M則是核准型號。後綴字母如 A、AC 和 M 依分析天平的使用區域而異。同樣的原理也適用於其他 METTLER TOLEDO 分析天平模型（XSR、MS、ME 及 ML-T）。

根據OIML R76-1，儀器的描述標記位於型號標籤（及型號標籤）上：

• 最小：最小容量
• 最大容量：最大容量
• e：驗證刻度區間（參見「什麼是刻度分割（d）及驗證刻度分割（e）？」」） 
• D：實際音階間隔 

此外，你還能透過檢查製造後是否密封，來辨識核准的分析天平型號。此舉防止分析天平被未經授權者開啟並竄改。

第一步是設計分析天平  ，考量所需規格，如最大容量、可讀性及準確度。這需要精密的工程設計，以確保天平能提供可靠且一致的測量。所有METTLER TOLEDO分析天平均在瑞士依嚴格技術設計。我們分析天平的製造流程遵循以下主要步驟：

• 生產與組裝：分析天平會在高品質材料 的製造過程中製作
• 校正與測試：分析天平經過嚴格的校正與測試程序，以確保其準確性與精確度。這包括將天平的讀數與已知的標準權重進行比較。 
• 品質管控：整個製造過程中，會實施嚴格的品質控管措施，確保每項天秤都符合所需標準。這包括各種檢查、功能測試及性能參數驗證。 

以下是分析天平的主要組成部分： 

• 框架與外殼：天平的框架與外殼通常由金屬、塑膠和玻璃等材料組合製成。框架提供結構穩定性，而外殼則保護內部零件免受灰塵、氣流及電磁干擾等外部因素影響。 
• 權衡機制：權衡機制是分析天平的核心。它通常由放置樣品的盤或平台、一個用來測量重量的負載感測器或天平機構，以及一個用於訊號處理的電子電路組成。負載感測器將樣品施加的力轉換為可測量的電信號。 
• 顯示與顯示：重量讀數通常以數位方式顯示在 LCD 或 LED 螢幕上。顯示器包含額外資訊，如計量單位、檔函數及校準狀態。 
• 環境控制：分析天平通常具備降低外部因素對測量影響的功能。這些包括用來保護樣品免受氣流影響的氣流防護罩或外殼、減少振動影響的防震台，以及因應溫度變化而設的溫度補償機制。

最常用的分析天平會因特定產業、應用及個別需求（如最大容量、可讀性、準確性，以及內建調整、資料連接與使用者介面等）等因素而異。建議在選擇最合適的分析天平前，考慮實驗室、應用及製程的具體需求。請與我們的專家聯繫，免費申請GWP^®   服務推薦。他們會一步步指導你如何選擇最適合你需求的分析天平。

分析天平對於在秤重時維持準確度至關重要，原因有幾個：

• 重複性：確保天平的秤重面與地面平行。這種對齊非常重要，因為任何傾斜或不均勻都可能引發測量誤差。同時也有助於在同一個樣本多次秤重時，保持結果一致。若天平不平，秤面上的重量分布可能變化，導致讀數不一致。平衡天平能降低重量分布不均的風險，並提升測量的重複性。 
• 穩定性：平衡秤重平台的穩定性。如果天平不平，可能會更容易產生震動或干擾，進而影響測量的準確度。 
• 校正：校正天平通常是校正分析天平前的先決條件。校正是指將天平讀數與已知標準秤重進行比較。若校正時未調整天平，可能會影響調整過程，導致測量不準確。調平確保天平位於正確位置，以利精確校準。 
• 合規性：平衡分析天平通常是遵守產業標準與法規的必要條件。遵循品質管理系統（如ISO 17025）的實驗室，通常有專門的平衡天平指引。平準確保測量的一致性與可追溯性，這對合規至關重要。 

偏離參考位置的天平無法感知全部重力：

想了解更多關於分析天平的資訊，請點此：《 平衡的重要性》。

要調整分析天平，你需要使用可調式的調平腳和氣泡指示器，調整秤盤位置直到與地面平行。在METTLER TOLEDO的水準指導下，分析量表可在數秒內輕鬆調整。 

以永續方式使用分析天平是減少環境影響並促進負責任實驗室實務的重要考量。METTLER TOLEDO 分析天平以永續為設計，並具備環保功能，讓您能以更永續的方式使用分析天平： 

• 高品質材料與堅固結構，加上易於清潔，確保長壽命，整體擁有成本低廉。  
• 透過 METTLER TOLEDO 預防性維護服務，確保您的分析天平能及時維護，也能確保儀器  的長壽命
• 卓越梅特勒托利多分析天平的緊湊佔地面積，降低了運輸過程中的材料需求與排放。  
• 智慧功能如睡眠模式，能提供高效且經濟的操作。這有助於節省能量並延長天平的使用壽命。  
• 利用電子資料記錄與管理系統，有助於減少紙張使用並提升資料的可及性。  
• 使用最小樣本量可減少材料消耗並減少浪費。METTLER TOLEDO的分析天平系列在低最小重量下提供卓越性能，允許樣品縮小尺寸。 

最好的分析天平，就是最符合你預期目的的那一種。免費的 METTLER TOLEDO 良好秤重實踐（GWP）建議 方法，為您提供所需的支持，幫助您選擇合適的分析天平，將分析天平的表現與特性與需求相匹配。您的需求可能包括特定工藝的公差，以及根據您的期望設定的最小重量和最大容量。你也可能希望有使用者管理、特定軟體相容性，或是核准的餘額。不管是什麼，METTLER TOLEDO都有適合你的分析天平。

DU 代表「雙射程」。  這表示 XPR 天平有兩種不同的秤重能力，每個範圍的解析度和最大容量也各不相同。這使得天平能以高度精確度秤重小樣本與大量樣品。

在XPR系列分析天平中，雙重範圍功能透過自動範圍調整系統（ARA）實現，該系統會根據所秤樣品的重量自動切換兩個範圍。ARA系統確保天平在每個秤重樣品中都能以最佳性能與精度運作。

例如，XPR 雙重範圍天平可能在高範圍容量為 120 克，低範圍容量為 10 克。高範圍對於秤重至10克的小樣品，解析度和精度更高;低範圍則能提供較粗的解析度，適用於最大120克的較大樣品。

整體而言，XPR 天平的雙重範圍功能為需要秤重各種樣本大小、並要求小量與大量準確結果的使用者提供了多功能解決方案。

DR代表「三角洲範圍」（Delta Range）。  三角距離功能讓使用者能在保持高精度與精確度的同時，增加擺平的秤重能力。

例如，XPR分析天平的標準雙重範圍可能為高範圍120 g x 0.1 mg，低範圍為10 g x 0.01 mg。透過三角量範圍功能，擺平的重量可提升至220克，同時保持0.1毫克的精度。

Δ 範圍功能讓使用者能在不犧牲測量準確度的情況下秤重較大樣品，這在需要高精確度與高精度的小型與大型樣本應用中特別有用。

三角區隔功能透過創新的秤重單元設計實現，讓擺平能調整內部配置，即使在較高的重量承重能力下，也能提供高準確度與精密度。

整體而言，XPR 分析天平中的差異範圍功能為需要高精度秤重小樣本與大量樣本的使用者提供了創新且多功能的解決方案。

擺輪名稱末尾的字母是兩個功能指示器的組合。 第一個「DU」如上方常見問題所示，表示擺平具有雙重範圍功能。 後面的「H」代表「高度」，表示此型擺平桿的秤重室較小。 吸水護盾較小， 它設有專門的秤重盤區域，以盡量減少空氣干擾的影響。

天平名稱末尾的「Q」表示該型號為自動天平。  XPR 自動天平是一款高度精確的天平，能將粉末和液體分配到各種容器中。 更多資訊請見此處： 自動天平。

在這個例子中，XPR106DUHQ，這是在雙射程功能、較小的秤重室與較低的吃水護罩，以及自動分配能力之間取得的平衡。

在METTLER TOLEDO的XPR天平產品線中，天平名稱中的數字表示最大重量容量（以克為單位）及可讀性（以毫克為單位）。例如，XPR205 的最大重量容量為 220 克，且小數 點後 0.01 克（10 毫克）至兩位數的可讀性。這是快速解讀各型號大致容量與可讀性的方法。

METTLER TOLEDO的XPR天平產品線中，XPR代表「卓越性能可靠性」。此名稱旨在反映XPR天平所追求的高品質與精確度，以及其長期耐用性與可靠性。XPR 天平系列廣泛應用於實驗室及工業環境中，準確性、精確度與重複性對達成可靠結果至關重要。

METTLER TOLEDO提供各式各樣高品質的分析天平。不過，哪一種最適合你的具體流程和精度要求？

卓越級分析天平

• 卓越的秤重效能與創新的樣品處理技術，有助於讓您的艱難秤重任務高效、無誤且符合法規。
• 產品線：XPR 與 XSR
   

進階分析天平

• 當你需要值得信賴的性能與耐用性時，這是正確的選擇。直覺操作與整合應用程式讓您的秤重流程快速且便利。
• 產品線：MX、MR
   

標準水準分析天平

• 進入專業秤重的世界，使用我們堅固且易於使用的標準級分析天平。高品質的結構與穩健的性能確保秤重結果一致且精確。
• 產品線：麻薩諸塞州、路易斯安那州
   

我們的 GWP^®建議 幫助您選擇合適的天平。它在做出購買決定前，提供你所需的保障。 

MX Analytical Balance Line 擁有卓越的秤重性能、先進的軟體功能，以及輕鬆的資料管理，確保準確且快速的結果。MX Analytical 天平線易於整合進您的實驗室基礎設施，提供符合人體工學的秤重體驗，並滿足進階需求。MX Line 採用創新工程設計，內建省電模式以協助降低耗電與碳足跡、StatusLight 顯示天平狀態資訊、先進例行測試功能、背光照亮秤重室、創新的 SmartPan 秤重盤及人體工學門。此外，MX 系列提供多元機型，以最佳化您的應用需求。

分析天平通常設計成適合放置在實驗室工作台上。METTLER TOLEDO 分析天平體積小，設計用來幫助你清理空間，方便你完成最重要的工作。我們標準的XPR分析天平尺寸為292 mm x 195 mm x 485 mm（11.5“ x 7.7” x 19.1“）。

當分析餘額名稱末尾帶有「/M」時，表示該餘額屬於特定的「合法交易」模型。

乾流屏障能形成屏障，減少氣流、振動及其他干擾對被秤重樣品的影響，有助於確保測量更準確且可重複。透過減少氣流及其他環境因素的影響，防風罩有助於提升分析天平的精確度與精度，使其更適合用於化學分析、製藥及研究等敏感應用。

靜電偵測  

StaticDetect 測量因靜電充電造成的秤重誤差，若超出使用者容忍範圍會發出警告。StaticDetect 能在標準環境及較具挑戰性的環境中運作，例如排氣櫃

防靜電套件

選配的電離模組可在通風遮蔽門關閉時自動運作，僅數秒鐘即可消除秤重室內的靜電荷。也有獨立離子化裝置可供選擇

ErgoClip 固定器

ErgoClips 將樣品容器牢牢固定在天平上，並作為法拉第籠，保護秤重單元免受靜電干擾

實驗室天平的例行測試非常重要，原因有幾個：

• 準確度：定期測試有助於確保餘額提供準確讀數，這對於獲得可靠數據及確保實驗有效性至關重要。
• 合規性：許多監管機構要求實驗室天平定期檢測，以確保符合產業標準與指引。
• 校正：例行測試有助於找出任何偏離製造商規格的差異，並可調整以將天平恢復至原始設定。
• 耐用性：定期測試與維護有助於延長實驗室天平的壽命，因為問題能及早發現並處理，避免成為重大問題。
• 安全：精確測量對於維持安全工作環境至關重要，尤其是在處理危險物質或執行嚴格安全規範下的實驗時。
   

總結來說，實驗室天平的例行測試對於確保實驗室操作的準確性、合規性、校準性、壽命及安全性至關重要。METTLER TOLEDO提供 GWP^® 驗證服務 ，協助您確保分析天平在分析天平的整個生命週期內都符合流程要求。想了解更多關於分析天平的例行測試，請參閱 例行測試網路研討會。