White Paper zur In-Situ-Mikroskopie | METTLER TOLEDO
White Paper

Einblicke in die Kristallisation mit In-Situ-Mikroskopie

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Vereinfachung von Kristallisationsprozessen mithilfe der Inline-Mikroskopie zur Bestimmung der Partikelgrösse

Vereinfachung von Kristallisation und Fällung dank optischer in situ-Inspektion
Vereinfachung von Kristallisation und Fällung dank optischer in situ-Inspektion

Dynamische Prozesse, die bei der Analyse von Kristallisationsvorgängen von grosser Bedeutung sind, können nun mithilfe der In-Situ-Mikroskopie beobachtet werden. In einem White Paper wird erläutert, wie führende Chemieunternehmen von dieser Alternative zur herkömmlichen Offline-Mikroskopie profitieren.

Sondenbasierte Technologien machen Probennahme und Probenvorbereitung überflüssig und eliminieren durch die Offline-Probennahme entstehende Zeitverzögerungen.  Zu den bei dieser Methode untersuchten und gemessenen Parametern gehören nicht nur wichtige Informationen­ wie Partikelgrösse, -form und -struktur, sondern auch dynamische Prozesse wie Wachstum, Keimbildung, Agglomeration, Bruch sowie die Veränderung der Partikelform. Dies ermöglicht Wissenschaftlern und Ingenieuren ein weitreichendes Verständnis der wichtigsten Kristallisationsprozesse und erlaubt ihnen, in Echtzeit wichtige Entscheidungen für eine Prozessverbesserung bzw. -optimierung zu treffen.

In diesem White Paper wird gezeigt, wie die In-Situ-Mikroskopie als eine schnellere Alternative zu herkömmlichen Methoden der Offline-Visualisierung dienen kann, und erläutert, wie GlaxoSmithKline, Merck, Sintef und das University College Dublin (UCD) diese Methode einsetzen, um Kristallisationsprozesse aus einer völlig neuen Perspektive zu betrachten.

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