ParticleTrack G600/G600 Ex

ParticleTrack G600/G600 Ex

パイロットプラントや製造工程での粒子のサイズや個数のモニタリング

ParticleTrack G600は、FBRM技術に基づく、堅牢なプローブベースの機器です。大型容器やパイプラインへ直接組み込むことができ、粒子のサイズや個数に生じる変化を、希釈することなくプロセス濃度でリアルタイムに追跡できます。プロセスパラメータには変動が生じるため、粒子、粒子構造、液滴を継続的にモニタリングすることにより、エンジニアはモニタリング、トラブルシュート、プロセス改善などを効果的に行うことができます。

粒子のサイズや個数は以下のようなさまざまなプロセスパフォーマンスに直接影響を及ぼします。

粒子のサイズや個数に生じる変化を製造規模全体のレベルでリアルタイムモニタリングすることにより、エンジニアはプロセスの一貫性をモニタリングし、プロセスの大幅な改善が見込める戦略の特定を行うことが可能です。

オフライン分析用にサンプリングや調製を行うと粒子が変化してしまいます。プロセス内に自然に存在する状態で粒子のサイズや個数に生じる変化を追跡することで、高温・低温条件下や圧力条件下でも安全かつ遅延なくプロセスを製造規模全体のレベルで理解することができます。

実験条件には変動が生じるため、粒子を継続的にモニタリングすることにより、プロセスパフォーマンス不良の根本原因を特定することができます。オペレーターはプロセスの不具合を迅速に特定でき、エンジニアは取得したエビデンスを製造規模全体のレベルで活用し、困難なプロセスを再設計して改善に役立てることができます。

柔軟な装着システムにより、温度や圧力に大きな開きがあっても、標準的なフランジ、鞘管、ボールバルブなどを使用してプローブをリアクタやパイプラインの内部に設置することが可能になります。ATEX、Class I、Div 1規格準拠の浄化済みハウジング(オプション)により、危険場所でも機器を安全に設置することができます。

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仕様

仕様 - ParticleTrack G600/G600 Ex

測定範囲
0.5 – 2000μm
温度範囲(ベース/フィールドユニット)
G600: 0 ~ 45°C
G600Ex: 0 ~ 40°C
ベースユニットの説明
ステンレススチール 316、4X、 IP66
ベースユニット寸法 (奥x高x幅)
284 mm x 524 mm x 828 mm
認証
CE認可、Class 1 Laser, NRTL認証、CBスキーム認証
電源
AC 100 ~  240V、50 /60 Hz、0.5A
対象
パイロットプラントまたは製造
ソフトウェア
iC FBRM(標準)
FBRM用iC Process(オプション)
スキャンシステム
圧縮エア式
スキャン速度
2m/s
コードセレクション(CSM)
プライマリ (fine) および マクロ (coarse)
プローブ直径
25mm
プローブ接液部長さ
P: 1000mm
R: 400mm
X: カスタム
T: 400m
プローブ接液部材質
C22 (オプション)
SS316 (標準)
ウィンドウ
サファイア
標準ウィンドウシール
Kalrez®
プローブ/ウィンドウオプション
TMウィンドウ
電気研磨済み
圧力(プローブ)
最大250 barg (カスタム)
10 barg (標準)
温度(プローブ)
-80 ~ 150°C (カスタム)
-10 ~ 120°C (標準)
コンジット長さ
20m [65.6ft] (カスタム)
15m [49.2ft] (標準)
エア要件
スキャナ要件: 最小圧力: 4barg [60psig]
流量: 28.3 NL/min [1.0SCFM]
ParticleTrack Model
パイロット/製造用 ParticleTrack G600 Exプロセステクノロジー
G600Ex 認定
ATEX / IECEx Zone 1/21 および Class 1 Div 1 認定済み、CE 承認済み、Class 1 Laser、NRTL 認定済み
パージ要件(G600 Ex のみ)
圧力: 4 ~ 8 barg (60-120 psig)
流量: 225 SLPM (8.0 SCFM)
G600 認定
CE認可、Class 1 Laser, NRTL認証、CBスキーム認証
  • 継時的な粒子サイズと個数の研究
    研究者はParticleTrackのプローブをプロセス中に直接差し込んで、粒子サイズや数をサンプリングすることなく継続的にモニタリングすることができます。このユニークな情報は、結晶、粒子、液滴を含む全てのプロセスの実践的な理解のための基礎となります。

  • プロセスと粒子システムの関連づけ
    ParticleTrackを用いることで、研究者はどのようにしてプロセスパラメータが粒子に影響を与えるのかを決定します。成長や凝集、破壊や形状の変化などのメカニズムにおけるプロセスパラメータの影響を明らかにし、最適化し、エビデンスに基づいた改善を行うことができます。

  • 目的の粒子へ最適化
    研究者は目的のサイズや個数を一貫して製造する方法を確立するために、ParticleTrackを使用しています。製造やスケールアップ開発の工程において最適なプロセスパラメータを選択することによって、研究者はより速くより低い総コストで市場に高品質な粒子製品を提供することができます。

  • モニタリングと正確なプロセス
    ParticleTrackは監視、トラブルシュートや製造プロセスを改善構築するために使用されます。サンプリングが困難な難しいプロセスであっても、安全にモニタリングすることができ、最高の品質の粒子を確実に一貫して製造することができます。

 

ドキュメント

Data Sheets

ParticleTrack G600/G600 Ex Datasheet
Track particles in real time in large scale-vessels or pipelines to track particle size and count in real-time at full-process concentrations.

関連製品とソリューション

ParticleView V19
PVM(粒子画像測定)テクノロジーが搭載された ParticleView V19 は、プローブベースのビデオマイクロスコープであり、プロセス中に実在する粒子および粒子のメカニズムを可視化します。 広範囲のプロセス条件の下で高解像度の画像が連続的に取得されるため、サンプリングやオフライン解析が不要にな...

アクセサリー

消耗品

ソフトウェア

More Information

ParticleTrack G600/G600Ex represents a significant improvement over previous METTLER TOLEDO Lasentec FBRM technologies (D600/D600Ex).

Stuck Particle Correction Improves Consistent and Reliable Measurement - ParticleTrack can distinguish between particles stuck on the probe window and those moving in the process. These stuck particles can be removed from the data ensuring a consistent and reliable measurement for more experiments.

ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 1: Comparison of measured chord length distribution for legacy Lasentec FBRM vs. ParticleTrack with FBRM technology.
ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 2: Example of legacy Lasentec FBRM instrument failing to observe bimodal distribution of large and small particles, while ParticleTrack displays higher resolution measurement of both particle sizes.

Improved Measurement Accuracy and Resolution - ParticleTrack uses state-of-the art digital signal processing methods to measure particle size with increased accuracy and resolution. These changes mean the measurement matches particle measurements such as laser diffraction and imaging more closely.

Wider Dynamic Range To Detect Critical Process Events - ParticleTrack measures changes in particle count to accurately eliminate concentration-related artifacts from the data and ensure improved sensitivity to changes in the particle system at higher concentrations.  This allows critical process events to be detected that may previously have gone unobserved.

ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 3: Example of ParticleTrack identifying a secondary nucleation event at the end of a process while at high concentration.
ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 5: Simultaneous measurement using two different modes using ParticleTrack: Primary is sensitive to the primary particles while Macro is sensitive to overall particle structure.

Two Measurements Acquired Simultaneously To Eliminate Need for Prior System Information or Trial Experimentation - ParticleTrack now collects two datasets simultaneously that are optimized for different types of particle systems. This eliminates the need for any a prior system information or trial experimentation to determine the optimal measurement method.

Improved Instrument to Instrument Repeatability - ParticleTrack technology was developed to ensure different lab and production instruments now measure much more closely, allowing changes in scale of measurement to be decoupled from differences in the probe used to measure them.


Voice of User

Senaputra, A., Jones, F., Fawell, P. D. and Smith, P. G. (2014), Focused beam reflectance measurement for monitoring the extent and efficiency of flocculation in mineral systems. AIChE J., 60: 251–265. doi: 10.1002/aic.14256.

      "The [ParticleTracK]G400 also captures bimodal character in unweighted chord distributions, producing distinct peaks for aggregates and fines after suboptimal flocculation; such peaks are rarely well resolved in older FBRM".

      "…the chord length measurement principle applied with the G400 probe leads to an enhanced sensitivity to species at the lower end of the measurement range relative to previous generation FBRM…"

      "The mean square-weighted chord lengths reported from older generation FBRM for flocculated minerals are typically under 400 mm, and yet the naked eye can see much larger aggregates being formed in thickener feedwells. The G400 probe consistently measures larger chord lengths, and this is seen as a significant advantage"

George Zhou, Aaron J Moment, James F. Cuff, Wes A. Schafer,Charles Orella, Eric Sirota, Xiaoyi Gong, and Christopher J. Welch, Process Development and Control with Recent New FBRM, PVM, and IR. Org. Process Res. Dev., Just Accepted Manuscript, Publication Date (Web): 10 Jun 2014.

"Process analytical technologies (PATs) have played an important role in process development and optimization throughout the pharmaceutical industry. Recent new PATs, including in-process video microscopy (PVM), a new generation of focused-beam reflectance measurement (FBRM), miniature process IR spectroscopy, and a flow IR sensor, have been evaluated, demonstrated, and utilized in the process development of many drug substances. First, PVM has filled a technical gap by providing the capability to study morphology for particle engineering by visualizing particles in real time without compromising the integrity of sample. Second, the new FBRM G series has closed gaps associated with the old S series with respect to probe fouling, bearing reliability, data analysis, and software integration. Third, a miniaturized process IR analyzer has brought forth the benefits of increased robustness, enhanced performance, improved usability, and ease of use, especially at scale-up".

Hardware Manuals

ParticleTrack G600 Hardware Manual
This manual covers safety and quality information relating to the METTLER TOLEDO ParticleTrack G600 with FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) t...
ParticleTrack G600Ex Hardware Manual
This manual covers safety and quality information relating to the ParticleTrack G600Ex with FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technology.

Quick Reference Guides

ParticleTrack / ParticleViewプローブのポジショニング(英語版)
ParticleTrackプローブは、FBRM技術(収束ビーム反射測定法)を用いて、プロセス中の粒子を原液濃度で、経時的に粒子径と個数の変化、粒子の構造を計測します。ParticleViewプローブはPVM技術を用いて、粒子と粒子のメカニズムをリアルタイムに画像化します。
ParticleTrack G400 / ParticleView V19のためのパージコントローラーの使用(英語版)
パージコントローラーは、ParticleTrack G400またはParticleView V19とともに使用するためにご購入いただけるオプショナルアクセサリです。パージはプロセス温度が稼働環境の露点を下回る場合に必要となります。パージの目的は、プロセス温度が下がるにつれてプローブ窓に形成される結露...

Software Support

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The iC OPC UA Server is a complimentary application provided by METTLER TOLEDO to allow the users of instruments controlled by iC or iControl software...
iC Process for FBRM Quick Reference
This Quick Reference is designed to aid an Operator in monitoring continuous or batch processes using iC Process for FBRM software.
iC Process for FBRM Release Notes
Release notes for iC Process for FBRM for connecting the lab to plant.
iC Process for FBRM Software User Guide
User Guide for iC Process for FBRM Software
iC Process for FBRM User Guide
iC Process for FBRM User Guide for Admins

Additional Help

ParticleTrack & ParticleView Onsite Training
Training and familiarization with ParticleTrack and ParticleView will ensure that all users can walk up to instruments and immediately bring value to...
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