微量金屬分析的典型工作流程

知識:各行業中的微量金屬應用與標準測試方法,以及如何選擇合適的儀器

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USP 41 及 1251 章節關於天平

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常見問題

我們正在尋找一種方法,盡量減少我們在 ICP 分析中出現的錯誤數量。雖然我們是在層流通風櫃下作業,但由於這些錯誤的特性,我們懷疑是樣品污染所致。可以請您提供建議嗎?

在流程的每個步驟中將污染降到最低,是成功進行痕量金屬分析的關鍵。樣品與參考標準接觸到的所有表面,都可能成為污染來源。請確保實驗室分析人員遵守無塵室規範,且所有設備與表面在使用前都已徹底清潔並擦乾。使用配備 ErgoClip Flask 配件的 XPR 分析天平,能讓您直接將樣品加料至錐形瓶中,省去稱量流程中可能造成污染的多個步驟。

我們的許多樣品和標準品都是粉末狀。在加料時,我們注意到有些粉末會散落到天平上。這是因為靜電嗎?如果是,我們可以怎麼處理?

當粉末散落到天平上時,這強烈顯示粉末和/或樣品容器已帶有靜電。您也可能會注意到天平穩定時間變長,或數值出現漂移。若需要完整的靜電偵測與消除系統,可選配離子化模組安裝於 XPR 分析天平上。StaticDetect™ 功能會計算因任何靜電荷所造成的稱量誤差,並在誤差超出預先設定的容差時發出警示。離子消除器可設定為自動運作,在短短幾秒內移除電荷。若空間允許,也可將獨立式離子化裝置放置在天平旁。只需先將樣品與容器穿過該裝置,再放到天平上即可。也請務必在實驗室中採取其他實務性的預防措施,例如穿著適當的衣物與鞋子,並配戴防靜電腕帶。提高相對濕度也有助於防止靜電積聚。

我們是一家測試實驗室,每天處理大量用於痕量金屬分析的樣品。我們該如何加快樣品和標準品的製備,以提高效率?

將 ErgoClip 容器支架配件安裝到您的 XPR 天平上後,即可直接向樣品容器或燒瓶加料。這種單步加料可省去樣品轉移所涉及的多個步驟,包括繁瑣且容易出錯的回稱與重新計算。憑藉卓越的稱量性能,XPR 分析天平也能提供快速的穩定時間。將印表機連接到 XPR 天平非常容易,因此您不再需要花時間手寫結果或標籤,也能避免抄寫錯誤。

我們的痕量金屬分析 SOP 規定,必須記錄標準品和樣品的所有資訊以及分析結果。我們還必須將它們轉移到 LIMS/ERP 系統的資料庫中。我們每天會進行多次分析,因此這非常耗時費力,而且很容易出錯。是否有更簡便的方法?

將您的 XPR 分析天平連接到 LabX 軟體後,所有稱量資料及相關流程資訊都可由 LabX 自動處理。LabX 提供螢幕上的使用者引導,並將所有資訊儲存在安全的集中式資料庫中,確保完整可追溯性。LabX 可輕鬆整合至貴公司的資訊管理系統,實現雙向資料傳輸。使用 LabX 可消除手動文件記錄及其相關的抄寫錯誤。此外,任務、使用者與儀器都可集中管理。

在痕量金屬分析中,我們必須配製許多不同的原液樣品和標準溶液。稀釋過程很費時,而且我們確信這個流程有很高的出錯風險。樣品通常不太穩定,因此在使用前,我們也必須丟棄大量樣品溶液。要如何提高準確度並減少浪費?

搭配 XPR 分析天平使用自動液體分配模組,可讓您每次都獲得精確的濃度。此系統會根據實際加料的物質量,精確加入適當的溶劑,以達到所需濃度。相同原理也適用於稀釋;稀釋系列也能更快速、更簡便地製備。 

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