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O novo Sistema de Raios X X34C

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Projetado para a Inspeção de Produtos pequenos e embalados individualmente

Vídeo | Sistema de inspeção de Raios X X34C

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Criado especificamente para a Inspeção de Produtos pequenos e embalados individualmente, como embalagens de blister farmacêutico e barras de cereais, o X34C  combina dimensões reduzidas e distância focal otimizada para proporcionar uma excelente detecção de contaminantes ou produtos fora de conformidade embalados individualmente.  

O X34C foi projetado levando em consideração três princípios-chave: dimensão compacta, alta velocidade e desempenho preciso. Esses princípios são adaptados para resolver alguns dos principais problemas enfrentados pelos fabricantes.

Compacto: o X34C é uma solução de pista única. Com apenas 700 mm de comprimento, ele está entre os menores Sistemas de Inspeção por Raios X do mercado. Isso aborda a questão do espaço limitado de linhas disponíveis nas linhas de produção. As atividades de manutenção são simplificadas através de um fácil acesso pela frente da máquina. 

Alta velocidade: com velocidades de linha de 120 m/minuto, o X34C pode acompanhar o ritmo de outros sistemas de linhas de produção sem o risco de diminuir a produtividade e o rendimento. Os diodos de 0,4 milímetros e um Gerador de Potência Ideal de 100 watts suportam altas velocidades na linha de produção e proporcionam excelentes níveis de sensibilidade de detecção. 

Precisão: com o software de Inspeção por Raios X ContamPlus™ da METTLER TOLEDO, o X34C oferece níveis de detecção avançados, aumenta a probabilidade de detecção e reduz o desperdício de produtos. O software utiliza até 30 algoritmos individuais de detecção de contaminantes para permitir melhor detecção.