全球精密量測領導品牌梅特勒托利多(METTLER TOLEDO)針對CPO高速封裝製程需求,推出自動化秤重解決方案,透過0.01mg極限解析度,解決CPO封裝中光學耦合效率(Coupling Efficiency)不穩定的核心痛點。
突破CPO點膠良率:
梅特勒托利多精準秤重定矽光新標
更新時間: 2026 年 05 月 18日
新聞來源: DIGITIMES 科技網
從研發、前段製造與先進封裝到供應系統,梅特勒托利多滿足半導體全製程的關鍵量測與即時監控需求,並確保達成資料合規要求。
隨著AI 算力需求推升資料中心對800G以上高速傳輸浪潮,矽光子(Silicon Photonics)與共同封裝光學(CPO)技術成為半導體封裝的關鍵。然而,極致的效能伴隨著極嚴苛的製程挑戰。由於CPO模組結構極其複雜且材料單價高昂,如何維持點膠製程的精密性與一致性,已成為跨越研發、製程、品管與稽核單位的巨大挑戰。

產能和精度的拉鋸,為何傳統檢測不再適用?
當「一滴膠」決定千萬價值,「精準控制」是決定製程良率和成本效益的關鍵。CPO製程材料單價極高、劑量極微,無論是決定光路品質的高折射率光學膠、維持熱穩定的TIM材料,或是精密點膠工藝中的每一滴膠水,只要稍有偏差,不僅可能導致封裝溢膠、光訊號損耗過大,更可能造成整片晶圓級封裝報廢,進而帶來原料浪費、熱穩定性不佳,甚至是停機重工等成本浪費。
此外,如何克服機台動態干擾也是一大挑戰。自動化點膠機台在高速生產下產生微幅震動,傳統秤重感應器難以在短時間內量測出穩定、精確的數據,無法在不影響產能的前提下實現100%在線檢測,導致潛在的溢膠或空膠風險。梅特勒托利多工業秤重解決方案業務經理李珮菁指出,為實現高精確度的點膠計量,膠量的精密校準與動態微調是核心關鍵。
此外,測量工具必須具備自動校準能力,並結合與上位機(PLC/PC)的高效通訊技術,在自動化生產流程中落實即時預警、主動通報異常,不僅能有效強化品質控管,更能確保穩定的量產效率。
重新定義精度標準 賦能CPO全生命週期管理
為了應對產業趨勢和挑戰,梅特勒托利多提供從前端配方到後端點膠監控的四大核心技術,重新定義高速封裝的精度標準
精準量測:定義半導體極限製程的良率邊界
在AI晶片與先進封裝追求微米級極限的今日,精準量測已超越單純的數據紀錄,更是定義產線良率、確保矽光子傳導效能與結構可靠性的核心護城河。
「在奈米時代,良率的差距往往隱藏在化學配方的微克波動、以及材料熱特性的毫釐之差。我們的使命,是在極限邊緣為客戶提供『絕對確定性』。不只提供儀器,而是透過數據穿透化學與材料變數,讓客戶在追求生產速度與技術突破的同時,能以物理級的精準度守住每一分研發成本,終結良率與產能之間的零和賽局。」
梅特勒托利多台灣區總經理胡惠沛
深耕台灣半導體產業多年,梅特勒托利多現已成為多家指標性晶圓廠、先進封裝龍頭及全球供應鏈不可或缺的策略夥伴。面對CoWoS、FOPLP及矽光子等日新月異的挑戰,梅特勒托利多憑藉在精密秤重、過程分析及熱分析領域的深厚實績,持續走在產業需求的最前沿,將精準量測轉化為客戶在全球半導體競賽中領先的關鍵動能。



