X56 DXD+ 規格資料
適用於中大型產品的光子計數雙能技術
X56 DXD+ X 光系統結合了我們的 X56 系統與整合式 DXD+ 光子計數雙能偵測器。
這項先進的光子計數雙能技術,使系統即使在雜訊多、產品重疊等複雜應用中,也能偵測出難以發現的污染物。這項高度先進的技術可支援品牌保護與法規遵循,即使在最具挑戰性的應用中亦然。

X56 DXD+ X 光系統結合了我們的 X56 系統與整合式 DXD+ 光子計數雙能偵測器。
這項先進的光子計數雙能技術,使系統即使在雜訊多、產品重疊等複雜應用中,也能偵測出難以發現的污染物。這項高度先進的技術可支援品牌保護與法規遵循,即使在最具挑戰性的應用中亦然。
