篩析 (Sieve Analysis) 或級配測試 (Gradation Test) 是評估顆粒材料粒度分佈的重要方法。粒徑會影響材料特性，例如流動和輸送行為（對於散裝材料）、反應性、磨蝕性、溶解度、萃取和反應行為、味道、壓縮性等等。因此，粒徑測定對於食品、建築、塑膠、化妝品和製藥等眾多行業優化製程工程並確保最終產品的品質和安全至關重要。
為了測量粒徑分佈，可以根據樣品材料、預期粒徑和檢查範圍應用不同的方法和程序。其中包括直接圖像分析，靜態（SIA）或動態（DIA）、靜態光散射（SLS），也稱為激光衍射（LD）、動態光散射（DLS）和篩分析。篩分分析是測量粒度分佈的傳統且最常用的方法。
為什麼篩析很重要
篩析的優點包括易於使用、需要最低的投資成本、在相對較短的時間內提供準確且可重複的結果，並且能夠分離粒徑分數。差分篩稱重的篩分分析程序是一個繁瑣且容易出錯的過程。使用具有便利功能和數位資料管理的準確天平可以快速獲得回報。
觀看此影片，了解為什麼粒度分析如此重要，以及如何逐步進行篩析。
粒徑分佈的影響可能很大，通過篩析進行分析是一個繁瑣且容易出錯的過程。自動化您的篩析工作流程：使引導流程和數位資料管理成為所有篩分秤重不可或缺的一部分！
篩堆由多個篩子組成，這些篩子堆疊在一起，網目尺寸不斷增加，樣品放置在頂部篩子上。篩分進行到每個篩子上的樣品質量不變（=恆定質量）的程度。稱量每個篩子，每個餾分的體積以重量百分比計算，給出基於質量的分佈。
準備步驟
篩析步驟
設備維護
與實驗室中的其他精密測量儀器一樣，測試篩需要定期保養以保持性能標準，這包括：
確定粒徑和分佈的選擇方法取決於目標物質和預期粒徑。
粒度分析方法：
| 粒徑分析方法 | 描述和用例 | 典型粒徑範圍 | 相關標準 |
篩析：
| 是測定粒徑分佈的傳統方法。尺寸從 125 mm 到 20 μm 的固體顆粒可以使用標準測試篩通過乾式或濕式篩分快速有效地測量。 | 40 微米—125 毫米 20 微米—20 毫米 10 微米—0.2 毫米 | 各種，包括。 ISO 3310 認證 ASTM C136 ASTM D422 |
| 靜態影像分析 （SIA） | 主要用於測量窄尺寸分佈，重點是表徵非常細的顆粒。它提供高分辨率的粒子圖像，可以對尺寸和形狀進行極其準確的描述，但非常耗時。SIA主要用於研發。 | 0.5 微米—1.5 毫米 | ISO 13322-1 認證 |
| 動態影像分析 （DIA） | 是一種基於數字的顆粒表徵方法，適用於大於約1μm的樣品。如果還要測量較小的顆粒，激光衍射 （LD） 是首選方法。 DIA 是一種現代粒徑表徵方法，非常適合散裝貨物、粉末、顆粒和懸浮液的常規測量。在許多行業中，DIA 已經取代了傳統的篩分分析。 | 1 μm—30 毫米 | ISO 13322-2 認證 |
| 靜態光散射 （SLS） 或雷射衍射 （LD） | 可以測定液體和漿料中基於體積的分佈、藥物 （API） 和 PSD。LD 是除傳統篩分析之外測定粒徑分佈的最常用方法。它基於分散在液體或氣流中的粒子集合對激光束的偏轉。 | 10 nm—4 公釐 | ISO 13320 認證 |
動態光散射 （DLS） | 基於溶液中分散顆粒的布朗運動。它是一種非侵入性技術，用於測量分子和顆粒的大小和尺寸分布，通常在亞微米範圍內。 | 1 nm—10 μm | ISO 22412 認證 |
篩析 是確定粒徑分佈的傳統方法。尺寸從 125 mm 到 20 μm 的固體顆粒可以使用標準測試篩通過乾式或濕式篩分快速有效地測量。
篩析在許多國家和國際標準中被指定為各種分析和工業過程的強制性測試方法。快速搜尋關鍵字「篩析」，可在 ASTM 網站上產生 150 多個單獨的標準結果，在 ISO 網站上產生 130 多個結果。這些結果提供了有關特定材料所需的篩子尺寸的資訊。每個標準都詳細描述了如何進行粒徑測試，包括樣本量、測試持續時間、預期結果和驗收方法。
標準範例：
這些標準中的大多數要求所使用的篩子必須滿足特定篩子標準（例如 ISO 3310 或 ASTM E11 / E 323）中描述的某些技術要求。
直接圖像分析可以確定單個顆粒的物理性質（尺寸、形狀和表面形態）。動態影像分析和靜態影像分析之間的關鍵區別在於，在靜態影像分析中，顆粒位於載體上，在採集過程中不會相對於相機移動，例如使用顯微鏡，而在動態影像分析中，粒子會通過探測器移動。
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篩析涉及的步驟是：
一個標準的篩堆通常由5-10個篩子組成，這使得整個過程相當耗時。
篩析的挑戰是：
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該過程可以從天平上的觸摸屏開始。使用者在整個工作流程中獲得安全的逐步指導。使用自動重量檢測，無需觸摸鑰匙即可連續秤量篩子。所有篩重均準確、完整地儲存。
SmartTracTM 圖形稱重輔助工具可讓您輕鬆秤量樣品至特定目標值，並防止篩子超載。
對於回秤/複秤，只需在天平屏幕上恢復任務，然後按照屏幕上的指導以正確的順序秤量裝載的篩子。一旦達到穩定值，就會自動記錄重量值。
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借助自動歸零功能和自動結果記錄，秤重速度極快且安全。獨特的 SmartPan™ 秤重盤提供高穩定性，這意味著您獲得結果的速度是標準秤盤稱重的兩倍。數據和結果自動記錄在內置結果協議上，消除了耗時且容易出錯的手動數據輸入/輸出。多個接口（4 個 USB、1 個 LAN）允許將結果輕松導出到 PC 或其他系統。
無錯誤的文檔
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XPR 天平的設計能夠承受惡劣的條件，無需使用任何工具即可輕鬆拆卸。所有部件均可用洗碗機清洗 - 光滑的表面和圓潤的邊緣使天平清潔變得非常容易。
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提升檢測效率 (Speed up)
確保檢測結果可靠性 (Ensure reliable results)
隨手掌握標準作業程序 (SOPs at hand)
確保回秤數據零錯誤 (Error-free back weighing)
避免人工謄寫失誤 (Avoid transcription errors)
報表產出標準化 (Standardize reports)
