PVM® V825 Ex 技术 - 退市产品
符合 ATEX 防爆和生产要求的颗粒录影测量技术
颗粒录影测量技术 (PVM®) 能帮助科学家和工程师在整个工艺浓度范围内实时查看和保存生产过程中晶体、颗粒与液滴的高清晰显微镜质量的图片信息。
PVM® V825 Ex 技术是专门为ATEX防爆和生产环境设计，在整个工艺过程中不需要取样，能提供高质量图像信息的专业技术。该技术能够快速提供关于晶体、颗粒和液滴体系的相应信息，因此用户可在整个工艺浓度、温度和压力范围内快速了解工艺变化并满足重现性的要求。
PVM® 用于快速识别颗粒大小、液滴形成、外形和形态的变化。能立即识别沉淀、结块、聚结或破碎等情况，还能识别导致这些变化的工艺参数。实时的图像分析软件可用来测量颗粒粒径或长径比，该关键信息可帮助开发更加稳定可靠的工艺，确保获得高品质的产品。
停止自: Mar, 2014
替换为 ParticleView V19
使用原位 PVM 图像实时查看在线颗粒粒径和形状
采用 PVM（颗粒录影和测量）技术的 ParticleView V19 是一种基于探头的录影显微镜，可以将颗粒和颗粒机制在过程中的状况以直观的形式呈现出来。 在各种工艺条件下连续捕捉高分辨率图像，无需采样或离线分析。 对颗粒粒径和浓度变化敏感的过程趋势，将自动与相关度较高的图像相结合，为科学家提供了一种可确保通过每项实验来获取全面了解的直观、可靠的方法。
- 研究颗粒粒径和形状 - 颗粒的高分辨率实时成像可使科学家确定过程参数对颗粒粒径和形状的影响。 当关键参数在开发、扩大和生产期间发生改变时，颗粒通过设计可具有可预测性。
- 表征瞬时事件和难以捉摸的机制 - 颗粒和颗粒结构在进行取样时经常发生变化。 通过在线观察晶体、液滴及其他细微颗粒结构，科学家可以表征可能对于优化产品质量或过程至关重要的瞬时事件和难以捉摸的机制。
- 研究关键过程事件和扰动 - 对颗粒粒径、形状和浓度变化敏感的基于图像的趋势，有助于科学家确定并研究重要过程事件和扰动。 这种快速可靠的方法可减少全面了解复杂颗粒系统和过程所需的时间和精力。
- 以较低成本做出基于证据的决策 - 通过在线观察颗粒和颗粒机制，科学家可获得通过其他方法很困难或很耗时而无法获得的知识。 通过这些知识能够以较低的成本做出基于证据的决策以及过程开发。
常见的 V19 应用包括：
- 了解结晶过程
- 确定生长、结块、破损及形状变化等机制
- 控制颗粒粒径和形状
- 监控多晶型转变
- 确定批量生产之间不一致性的来源
- 优化油/水分离
- 查看无法进行取样的颗粒和液滴系统
文件记录 - PVM® V825 Ex 技术
附件 - PVM® V825 Ex 技术
规格 - PVM® V825 Ex 技术
探头材料：哈氏合金 C22
探头窗口：蓝宝石
探头O 形圈：Kalrez®
探头直径 ：25 毫米
探头长度 ：303 毫米
观测范围 ：1075 微米 x 825 微米
分辨率 ：2 微米
探头温度范围：-10ºC – 120ºC
探头压力：真空至 10 bar，可定制至 150 bar
导线长度: 10 米
安装配件，灵活的安装系统，伸缩护套（选配件）
ATEX 证书：主机单元：区域 1、21。探头：区域 0、20（气体和灰尘）
激光认证：1 级
后端材料：不锈钢 316L，不锈钢 304
后端操作温度范围：-5 ºC至 +85 ºC
主机材料：316 不锈钢
主机防护等级：IP66
主机温度范围：-20ºC 至 +40ºC
主机湿度范围：0 ～ -100% 非冷凝
供气压力：4 至 8 bar (60-120 psig)
供气流量：40 Nl/m (1.8 SCFM) ，50.9 L/Min
功率：230 VAC, 50-60Hz, 0.2A, 21W
KALREZ is a registered trademark of E. I. Du Pont de Nemours and Company Corporation