半导体行业依靠最高质量的超纯水 (UPW) 来生产当今的集成电路。本点播网络研讨会涵盖了生产 UPW 所需的关键分析参数,以及如何利用测量结果改进过程控制器。
主讲人不仅讨论了用于监控 UPW 撬块的关键分析水质纯化参数,还讨论了在过程中监控这些参数的位置。
对用于监测 UPW 的水质分析参数的建议限值和这些标准进行了回顾,主讲人还详细介绍了应使用哪些分析控制器来提供更多信息和控制 UPW 的生产。电阻率、TOC、二氧化硅和溶解氧的测量不仅对保持 UPW 的最高质量至关重要,而且这些水中TOC 净化参数也是在各种半导体工具中使用 UPW 的关键测量参数。
关于主持人
Jim Cannon 是梅特勒托利多-桑顿公司 OEM 和市场部主管,在超纯水 (UPW) 处理和技术的管理、试验设计和开发方面拥有超过 35 年的经验。他在超纯水(UPW)处理和技术的管理、设计和开发方面拥有 35 年的经验,其中包括用于检测超纯水中 TOC 的差分电导率测量和紫外氧化法,以及电去离子模块的设计。
吉姆是药典合规方面的专家。他目前正在参与制药市场的标准和监管组织以及替代微生物技术的商业化工作。