该演示首先介绍了离线显微镜的局限性，其中包括：
- 采样和查看图像之间会耽误很长的时间
- 在加压、易爆或有毒系统中查看颗粒很困难
- 对结果缺乏信心，因为在采样时，颗粒 – 尤其是晶体和液滴会发生改变。
- 无法在正确的时间获得足够的离线图像以帮助理解过程。
本次在线研讨会介绍了一种基于探头的新技术，该技术利用实时显微镜可以将颗粒和颗粒机制在工艺中的状况以直观的形式呈现出来。 应用包括：
- 直接观察主要结晶机理：
- 实时地查看在实际工艺条件下液滴大小的变化
- 识别意外工艺事件，如形状改变或相变
- 评估 瞄向特定粒径和形状分布的工艺条件
通过查看颗粒在工艺中的状况，科学家们可以更加高效地做出高质量、低风险、基于证据的决策，进行具有成本效益的优化、放大生产和控制。