我们如何为您提供帮助？
准确称量实现可靠结果
准确称量实现可靠结果 恰当的样品制备和谨慎的数据处理至关重要。
如果没有妥协的余地，如果您需要更好的性能和耐久性，梅特勒-托利多坚固易用的分析天平是您的完美选择。
我们的分析天平读数精度范围广 – 从0.005 mg到0.1 mg，量程范围从54 g到520 g，涵盖了所有分析工作流程。
请选择最适合您的分析天平系列：
有与分析天平相关的问题？ 点击此处！
我们简短的分析天平FAQ提供了一些最常见问题的答案，例如什么是分析天平，什么是分析天平不确定度或如何校准分析天平等。
无可挑剔的称量解决方案
梅特勒-托利多超越系列分析天平的读数精度范围为0.005 mg到0.1 mg，量程最高可达320 g，可满足所有分析工作流程要求。
了解各种高级质量保障功能，如StatusLight、LevelControl、获得GWP认证的专利SmartGrid称量盘（最大程度减小了气流影响）以及用于检测和消除静电负荷的创新解决方案。
将您超越系列分析天平连接至LabX实验室软件，以获得对合规的全面支持，确保数据可靠性。
高称量性能和耐久性
梅特勒-托利多的高级分析天平和半微量天平读数精度可达0.01 mg，量程则高达320 g。
此类天平可靠、坚固，由于采用了MonoBloc称量传感器可提供精确的结果，通过USB、RS232以及蓝牙（可选）轻松实现了外围设备的数据传输和连接，还提供了直观的应用程序，实现高效的日常称量。 为了简化清洁，无需任何工具即可拆除天平上的QuickLock玻璃板。
质量保障功能可帮助您符合法规和行业标准要求。
优秀的称量性能
梅特勒-托利多的标准分析天平读数精度可达0.1 mg，量程高达220 g。
电磁力补偿(EMFC)称量传感器具有过载保护，可确保此类天平提供一致的可靠结果。 多个接口支持条形码读取器、打印机和PC连接线，实现轻松可追溯性和数据处理。 易于使用的应用程序简化了日常称量任务。
彩色TFT触摸屏带有清楚的图标和直观的指南，让用户能够高效操作梅特勒-托利多天平。
最广泛的配件选择范围
我们的产品组合包括：加样模块，打印机，软件，特殊容器支架 – 易巧型ErgoClip，密度计套件，防静电解决方案，过滤称量配件，以及砝码组(CarePack)。
梅特勒-托利多分析天平加上我们的配件可针对您的需求进行个性化，满足大多数分析称量应用的具体要求。
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指南：正确称量
称量是实验室最常见的工作之一。 如今，天平已达到极致，以致于无需设立专门的称量室。 了解如何正确地称量。 电子技术的进步已大大简化了天平的操作，可节约称量时间。 此外，数字触摸显示屏使天平的操作变得更直观。
手册：超越系列分析天平
按绿灯指示进行无忧称量
梅特勒-托利多为分析称量领域推出了全新产品，它结合多种智能特性，可让您的日常称量任务变得异常简便且避免错误。 您不仅可从超越系列分析天平的卓越称量性能中获益，而且也可确保完全符合法规一致性和至高过程安全性。
- 轻松的天平管理
- 静电解决方案
- 完整过程控制
白皮书：按绿灯指示操作
梅特勒-托利多的新超越系列分析天平具有一个绿色状态指示灯，可确认在受Good Manufacturing Practice (GMP)约束的实验室中进行精确称量所需的所有因素均正确，天平已经就绪可以使用了。 如果上述任何一个因素未就绪，状态指示灯则会变为黄色，表明仍然可以进行称量；还可能变为红色，告知分析人员不能继续。 当问题被纠正后，状态灯变为绿色，分析人员可进行称量。
更多详情，请阅读白皮书。
目录：XPE/XS 天平选配件
所有的称量应用与工作场所均各不相同。 无论您注重的是准确制备样品、无误操作数据还是更加符合人体工程学的过程，您均可将XPE和XS选配件进行组合，以生成完全符合您要求的专用称量解决方案。 了解我们的一整套选配件，以获取关于如何获得收益的更多见解。
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天平用的 LabX® 软件
LabX 软件通过天平触摸屏尽显 SOP 工作流程控制的强大和灵活性。 技术人员可完全在天平终端操作，而无需在实验室工作台上再放置 PC。 所有数据自动存储在安全的中央数据库内。
常见问题
有与分析天平相关的问题？ 请在下面查找答案
我们简短的分析天平FAQ提供了一些最常见问题的答案，例如什么是分析天平？ | 分析天平用在什么位置？ 分析天平的应用领域有哪些？ | 如何在分析天平上称量？ | 什么是分析天平不确定度？ | 为什么校准分析天平？ | 如何校准分析天平？ | 哪些允差适用于天平校准？ | 什么是分析天平最小称量值？ | 分析天平准确性和精确性 – 两者之间差别是什么，如何测试？ | 静电对分析天平有哪些影响，如何消除静电负荷？
什么是分析天平？
分析天平和半分析天平是一种形式的电子秤，用于以较高的精确度测量质量。
其称量量程范围为54-520 g，读数精度为0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通过防风罩或防风柜对其进行保护。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配备了SmartGrid称量盘，可最大程度减小气流扰动，因此缩短了稳定时间，更快获得称量结果。
如何在分析天平上称量？
开始称量操作之前，打开门并使用手套或镊子将容器放置到称量盘上。 关门，等待表示重量的值稳定。 按去皮按钮直至其显示0.0000 g，清除显示内容。 添加样品，直到达到所需重量。 关门，再次等待稳定 – 记录净重。 如果仪器断开电源进行清洁，则留出重新校正时间，然后再重新使用。
梅特勒-托利多分析天平的防风罩几秒之内即可拆除，并且具有可安全使用洗碗机的面板，实现轻松清洁。 天平的清洁建议与规定
什么是分析天平不确定度？
进行测量时，总是存在不确定度元素。 对测量可疑度的估计（不确定度）是任何测量的关键。 这是通过测量天平性能、称量物体的属性以及周围环境来确定的。 测量不确定度的确定是天平校准不可分割的一部分。
为什么校准分析天平？
分析天平校准可确保称量设备既准确，又符合ISO、GLP/GMP、IFS与BRC等标准。 书面校准程序对测量质量进行了说明，应当在天平的整个使用期限内定期校准。
校准不应与天平校正混为一谈，必须在校正/维修之后重复进行校准。 了解校准的更多内容。
如何校准分析天平？
分析天平的校准由授权服务技术人员使用校准软件，遵循标准程序来执行：
- 通过测试测量标准和校准指示之间的关系，来确定仪器的性能如何。
- 通过合格/不合格声明验证仪器是否符合特定要求。
- 如果不符合要求，则校正仪器，以便任何偏差都不会超过允差限值。
- 重新校准仪器，确认符合规定的允差要求。
在校准间隔之间的时间内，由用户执行的日常测试可检测潜在问题。
梅特勒-托利多开发了一个用于保证称量设备的正确选型、校准和操作的全球性科学标准，称为GWP®，即Good Weighing Practice™。
哪些允差适用于天平校准？
允差用于确定天平或电子秤可否有效称量，以达到一系列特定的工艺要求。 允差定义了发出通过/未通过声明的标准。 允差源自各种来源，其中包括：
- 法定允差：
OIML R76或NIST手册44（仅限美国）规定的法定允差用于评估合法贸易品要求。 此类允差非常大，使用实验室天平或者在测量范围的低端进行称量时，可轻易达标。 - 制造商允差：
制造商允差确保设备满足制造商规格。 制造商允差不考虑用户的特定过程要求，因此不适合改进称量过程。 - 过程允差：
特定过程允差由用户定义，支持过程改进，节省材料，避免浪费和返工。 因此对于合法贸易应用中的电子秤，除法定允差外，还应使用过程允差。
法定允差可保护消费者但不考虑特定生产商的要求。 优化应用于测量仪器的过程允差会对过程盈利能力产生巨大影响。
什么是分析天平最小称量值？
每个分析天平最小称量值都是不同的，具体取决于称重传感器的性能、其位置以及环境条件。 最小称量值是仪器的准确性限值，如果低于此最小称量值，相对测量不确定度（绝对测量不确定度除以荷载，通常以%表示）则会大于所需的称量准确性，称量结果无法信任。
为了确定天平的最小称量值，需要在工作环境中评测测量不确定度。 另外，作为小称重范围天平中的一个主要误差源，还可对可重复性进行评测以确定最小称量值，该过程使用低于天平量程5%的小砝码执行。
梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由经过认证的技术人员安装，用于监测天平的最小样品重量。 如果称量低于所确定的可接受最小值，天平显示屏则会变为红色。
分析天平准确性和精确性 – 两者之间差别是什么，如何测试？
精确性指的是两个或多个测量值之间的接近度。 准确性指的是测量值与已知值之间的接近度，它基于读数精度、可重复性、非线性和偏载度。 准确性可使用以下方式进行测试：
- 具有已知质量的外部参比砝码（可追溯校准砝码）
- 使用内置到天平的参比质量的自动内部校正
- 准确性只能通过在使用位置对仪器进行的测试加以确定。
查看有关Good Weighing Practice的实验室天平教程 – 基本知识和称量影响课程。
静电对分析天平有哪些影响，如何消除静电负荷？
静电负荷可能导致称量结果不稳定，不可重复。 静电会对称量盘产生作用力，直接影响分析天平结果。 减少这些影响的预防措施包括：
- 确保充足的空气湿度(≥ 45%...50%)
- 尽可能使用防静电称量容器（最好是金属）
- 避免摩擦容器
- 如果样品足够小，则使用带边缘的金属盘来帮助屏蔽磁场。
要确保分析天平静电消除，可在称量之前使用去静电装置对样品和容器进行放电。
阅读有关静电负荷和背后物理原理的更多信息。