准确称量实现可靠结果 恰当的样品制备和谨慎的数据处理至关重要。
如果没有妥协的余地,如果您需要更好的性能和耐久性,梅特勒-托利多坚固易用的分析天平是您的完美选择。
我们的分析天平读数精度范围广 – 从0.002 mg到0.1 mg,量程范围从41 g到520 g,涵盖了所有分析工作流程。
准确称量实现可靠结果 恰当的样品制备和谨慎的数据处理至关重要。
如果没有妥协的余地,如果您需要更好的性能和耐久性,梅特勒-托利多坚固易用的分析天平是您的完美选择。
我们的分析天平读数精度范围广 – 从0.002 mg到0.1 mg,量程范围从41 g到520 g,涵盖了所有分析工作流程。
我们简短的分析天平FAQ提供了一些较常见问题的答案,例如什么是分析天平,什么是分析天平不确定度或如何校准分析天平等。梅特勒万分之一天平,十万分之一天平,百万分之一天平为您提供完整的称量解决方案。
梅特勒-托利多超越系列分析天平的读数精度范围为0.002 mg到0.1 mg,量程较高可达320 g,可满足所有分析工作流程要求。
了解各种高级质量保障功能,如StatusLight、LevelControl、获得GWP认证的SmartGrid称量盘(在梅特勒-托利多现有产品中,较大程度减小了气流影响)以及用于检测和消除静电负荷的创新解决方案。
将您超越系列分析天平连接至LabX实验室软件,以获得对合规的全面支持,确保数据可靠性。
梅特勒-托利多的高级分析天平和半微量天平读数精度可达0.01 mg,量程则高达320 g。
此类天平可靠、坚固,由于采用了MonoBloc称量传感器可提供精确的结果,通过USB、RS232以及蓝牙(可选)轻松实现了外围设备的数据传输和连接,还提供了直观的应用程序,实现高效的日常称量。 为了简化清洁,无需任何工具即可拆除天平上的QuickLock玻璃板。
质量保障功能可帮助您符合法规和行业标准要求。
梅特勒-托利多的标准分析天平读数精度可达0.1 mg,量程高达220 g。
电磁力补偿(EMFC)称量传感器具有过载保护,可确保此类天平提供一致的可靠结果。 多个接口支持条形码读取器、打印机和PC连接线,实现轻松可追溯性和数据处理。 易于使用的应用程序简化了日常称量任务。
彩色TFT触摸屏带有清楚的图标和直观的指南,让用户能够高效操作梅特勒-托利多天平。
我们的产品组合包括:加样模块,打印机,软件,特殊容器支架 – 易巧型ErgoClip,密度计套件,防静电解决方案,过滤称量配件,以及砝码组(CarePack)。
梅特勒-托利多分析天平加上我们的配件可针对您的需求进行个性化,满足大多数分析称量应用的具体要求。
称量是实验室较常见的工作之一。 如今,天平已达到优良,以致于无需设立专门的称量室。 了解如何正确地称量。 电子技术的进步已大大简化了天平的操作,可节约称量时间。 此外,数字触摸显示屏使天平的操作变得更直观。
按绿灯指示进行无忧称量
梅特勒-托利多为分析称量领域推出了全新产品,它结合多种智能特性,可让您的日常称量任务变得异常简便且避免错误。 您不仅可从超越系列分析天平的卓越称量性能中获益,而且也可确保完全符合法规一致性和至高过程安全性。
梅特勒-托利多的新超越系列分析天平具有一个绿色状态指示灯,可确认在受Good Manufacturing Practice (GMP)约束的实验室中进行精确称量所需的所有因素均正确,天平已经就绪可以使用了。 如果上述任何一个因素未就绪,状态指示灯则会变为黄色,表明仍然可以进行称量;还可能变为红色,告知分析人员不能继续。 当问题被纠正后,状态灯变为绿色,分析人员可进行称量。
更多详情,请阅读白皮书。
所有的称量应用与工作场所均各不相同。 无论您注重的是准确制备样品、无误操作数据还是更加符合人体工程学的过程,您均可将XPE和XS选配件进行组合,以生成完全符合您要求的专用称量解决方案。 了解我们的一整套选配件,以获取关于如何获得收益的更多见解。
开展精益实验室的实用建议。 供已有实验室或新设计实验室内使用的精益工具与方法。
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LabX® 软件可自动进行数据处理、高度安全的操作流程以及全面的标准操作程序用户向导,可以显著提升实验效果。
LabX 软件通过天平触摸屏尽显 SOP 工作流程控制的强大和灵活性。 技术人员可完全在天平终端操作,而无需在实验室工作台上再放置 PC。 所有数据自动存储在安全的中央数据库内。
我们简短的分析天平FAQ提供了一些较常见问题的答案,例如什么是分析天平? | 分析天平用在什么位置? 分析天平的应用领域有哪些? | 如何在分析天平上称量? | 什么是分析天平不确定度? | 为什么校准分析天平? | 如何校准分析天平? | 哪些允差适用于天平校准? | 什么是分析天平最小称量值? | 分析天平准确性和精确性 – 两者之间差别是什么,如何测试? | 静电对分析天平有哪些影响,如何消除静电负荷?
分析天平和半分析天平是一种形式的电子秤,用于以较高的精确度测量质量。
其称量量程范围为54-520 g,读数精度为0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通过防风罩或防风柜对其进行保护。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配备了SmartGrid称量盘,可较大程度减小气流扰动,因此缩短了稳定时间,更快获得称量结果。
开始称量操作之前,打开门并使用手套或镊子将容器放置到称量盘上。 关门,等待表示重量的值稳定。 按去皮按钮直至其显示0.0000 g,清除显示内容。 添加样品,直到达到所需重量。 关门,再次等待稳定 – 记录净重。 如果仪器断开电源进行清洁,则留出重新校正时间,然后再重新使用。
梅特勒-托利多分析天平的防风罩几秒之内即可拆除,并且具有可安全使用洗碗机的面板,实现轻松清洁。 天平的清洁建议与规定
进行测量时,总是存在不确定度元素。 对测量可疑度的估计(不确定度)是任何测量的关键。 这是通过测量天平性能、称量物体的属性以及周围环境来确定的。 测量不确定度的确定是天平校准不可分割的一部分。
分析天平校准可确保称量设备既准确,又符合ISO、GLP/GMP、IFS与BRC等标准。 书面校准程序对测量质量进行了说明,应当在天平的整个使用期限内定期校准。
校准不应与天平校正混为一谈,必须在校正/维修之后重复进行校准。 了解校准的更多内容。
分析天平的校准由授权服务技术人员使用校准软件,遵循标准程序来执行:
在校准间隔之间的时间内,由用户执行的日常测试可检测潜在问题。
梅特勒-托利多开发了一个用于保证称量设备的正确选型、校准和操作的科学标准,称为GWP®,即Good Weighing Practice™。
允差用于确定天平或电子秤可否有效称量,以达到一系列特定的工艺要求。 允差定义了发出通过/未通过声明的标准。 允差源自各种来源,其中包括:
法定允差可保护消费者但不考虑特定生产商的要求。 优化应用于测量仪器的过程允差会对过程盈利能力产生巨大影响。
每个分析天平最小称量值都是不同的,具体取决于称重传感器的性能、其位置以及环境条件。 最小称量值是仪器的准确性限值,如果低于此最小称量值,相对测量不确定度(绝对测量不确定度除以荷载,通常以%表示)则会大于所需的称量准确性,称量结果无法信任。
为了确定天平的最小称量值,需要在工作环境中评测测量不确定度。 另外,作为小称重范围天平中的一个主要误差源,还可对可重复性进行评测以确定最小称量值,该过程使用低于天平量程5%的小砝码执行。
梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由经过认证的技术人员安装,用于监测天平的最小样品重量。 如果称量低于所确定的可接受最小值,天平显示屏则会变为红色。
精确性指的是两个或多个测量值之间的接近度。 准确性指的是测量值与已知值之间的接近度,它基于读数精度、可重复性、非线性和偏载度。 准确性可使用以下方式进行测试:
查看有关Good Weighing Practice的实验室天平教程 – 基本知识和称量影响课程。
静电负荷可能导致称量结果不稳定,不可重复。 静电会对称量盘产生作用力,直接影响分析天平结果。 减少这些影响的预防措施包括:
要确保分析天平静电消除,可在称量之前使用去静电装置对样品和容器进行放电。
阅读有关静电负荷和背后物理原理的更多信息。