实时粒径与粒数分析 | FBRM

采用FBRM技术的ParticleTrack™

实时粒径与粒数分析

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粒径与粒数分析

产品和规格

颗粒和液滴的尺寸及形状分析

 
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适用于
物料号: 14420890
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适用于实验室: EasyMax/OptiMax
软件iC FBRM
扫描系统电子扫描仪
测量范围0.5 – 2000μm; 0.5-2000um
扫描速度2m/s (19mm探头为1.2m/s)
弦长选择方法(CSM)Primary(精细)和 Macro(粗糙)
探头直径14/9.5mm; 19mm探头; 9.5mm
探头浸湿长度206mm (用于 14/9.5mm 探头); 400mm (用于 19mm 探头); 91mm (用于 9.5mm 探头)
探头浸湿合金C22
窗口(W)蓝宝石
标准窗口封条Kalrez® (标准 19mm); TM(标准 14/9.5 ); TM(标准9.5,14/9.5)
探头/窗口选件TM 窗口(用于19mm 探头的选件)
额定压力(探头)3barg (标准); 高达 100barg (自定义)
额定温度(探头)-10 至 90°C (Kalrez 和清洗); -80 至 90°C (TM 和清洗); +10 至 90°C (标准)
导管长度3m [9.8ft]
温度范围(主机/现场装置)5 至35°C
空气要求低流量清洗(使用以避免冷凝物); 最大 流量: 5NL/min [0.2SCFM]; 清洗歧管的最大入口压力: 8.6barg [125 psig]; 清洗歧管的最大出口压力: 0.8barg [12psig]
电源要求100-240VAC, 50/60Hz, 1.2A
主机尺寸(高x宽x长)89 mm x 237 mm x 492 mm
认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
ParticleTrack型号ParticleTrack G400
主机说明实验室主机
物料号: 14000036
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适用于实验室或生产
软件iC FBRM (标准); 用于 FBRM 的 iC Process (可选)
扫描系统气动
测量范围0.5 – 2000μm
扫描速度2m/s
弦长选择方法(CSM)Primary(精细)和 Macro(粗糙)
探头直径19mm探头
探头浸湿长度400mm
探头浸湿合金C22
窗口(W)蓝宝石
标准窗口封条Kalrez®
探头/窗口选件不适用
额定压力(探头)10 barg
额定温度(探头)-10至120°C
导管长度15m [49.2ft]
温度范围(主机/现场装置)0 至 45°C
空气要求扫描仪要求: 最小压力: 4barg [60psig]; 流量: 28.3 NL/min [1.0SCFM]
电源要求100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A
主机尺寸(高x宽x长)500 mm x 419 mm x 206 mm
认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
ParticleTrack型号ParticleTrack G600B
主机说明不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级
物料号: 14422846
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适用于中试工厂或生产
软件iC FBRM (标准); 用于 FBRM 的 iC Process (可选)
扫描系统气动
测量范围0.5 – 2000μm
扫描速度2m/s
弦长选择方法(CSM)Primary(精细)和 Macro(粗糙)
探头直径25mm
探头浸湿长度R: 400mm; T: 400m; P: 1000mm; X: 自定义
探头浸湿合金SS316 (标准); C22 (可选)
窗口(W)蓝宝石
标准窗口封条Kalrez®
探头/窗口选件TM 窗口; 电抛光
额定压力(探头)10barg (标准); 高达 250barg (自定义)
额定温度(探头)-10 至 120°C (标准); -80 至 150°C (自定义)
导管长度15m [49.2ft] (标准); 20m [65.6ft](自定义)
温度范围(主机/现场装置)G600: 0至45°C; G600Ex: 0至40°C
空气要求扫描仪要求: 最小压力: 4barg [60psig]; 流量: 28.3 NL/min [1.0SCFM]
电源要求100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A
主机尺寸(高x宽x长)524 mm x 828 mm x 284 mm
认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
ParticleTrack型号适用于中试工厂/生产的 ParticleTrack G600 加工技术
主机说明不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级
吹扫要求(仅G600 Ex)压力: 4至8barg(60-120 psig); 流量: 225 SLPM(8.0 SCFM)
G600认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
G600Ex认证ATEX / IECEx Zone 1/21和Class 1 Div 1认证、CE认证、1级激光设备、NRTL认证
对比

文件记录

采用FBRM技术的ParticleTrack文档

应用

Optimization and Scale-up of Batch Crystallization
A well-designed batch crystallization process is one that can be scaled successfully to production scale - giving the desired crystal size distributio...
Solubility and Metastable Zone Width (mzw) Determination
溶解度曲线通常用于说明溶解度、温度和溶剂类型之间的关系。 通过绘制温度和溶解度之间的曲线,科学家可创建开发所需结晶过程需要的框架。 一旦选择了适当的溶剂,溶解度曲线便成为研发高效结晶过程的主要工具。
Crystal Nucleation and Growth
科学家和工程师们通过小心调节过饱和程度来控制结晶过程。 过饱和度是结晶成核与生长的驱动力,因此会决定较终的晶体尺寸分布。
Measure Crystal Size Distribution
基于探头的过程技术应用于跟踪全浓度下的颗粒粒径与形状变化,而无需稀释或提取。 通过实时跟踪颗粒和晶体的变化速率与变化程度,可优化结晶性能的工艺参数。
在结晶过程中加入晶种的方案
晶种加入是优化结晶行为的较重要工序之一。 在设计晶种加入策略时,必须考虑重要参数,如:晶种粒径、晶种加入量(质量)与晶种添加温度。 通常根据过程动力学以及所需较终颗粒物性对这些参数进行优化,这些参数在扩大生产与技术转移时必须保持一致。
滴加反溶剂实现过饱和度
在反溶剂结晶过程中,溶剂添加速率、添加位置与混合会对容器或管道内的局部过饱和度产生影响。 科学家与工程师通过调整反溶剂添加方案与过饱和度更改晶体粒度与粒数。
温度会对结晶尺寸和形状产生影响
冷却曲线对过饱和度和结晶动力学产生重要影响。 工艺温度经过优化,与晶体表面相匹配,可实现优化生长而不是成核。 通过控制温度来调整过饱和度、晶体尺寸和形状的先进技术。
温度会对结晶尺寸和形状产生影响
更改结晶器规模或混合条件会直接影响结晶过程的动力学和较终晶体尺寸。 传热和传质效应分别是冷却系统和反溶剂系统的重要考量因素,其中温度梯度或浓度梯度会形成实际过度饱和的不均匀性。
颗粒与液滴处理
了解和优化粒径分布
过程分析技术(PAT)
过程分析技术(PAT)是一种以确保最终产品质量为目标,设计、分析与控制制造的系统。
石油天然气生产中的流动保障
流动保障涉及生产流体以及将流体从储罐运输到加工设施的多种经济有效的方法。 由于常规石油储备向成熟油田的过渡,流量保障挑战进一步增加。

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自动化学反应器全天候控制并记录全部反应参数。
FTIR光谱(傅立叶变换红外光谱仪)
实时监测化学反应的傅里叶变换红外(FTIR)光谱

单页样本

ParticleTrack G400
Insert into lab reactors to track changing particle size and count in real time at full process concentrations.
ParticleTrack G600B
A versatile probe-based instrument with FBRM technology is inserted into laboratory reactors and production processes to track changing particle size...
ParticleTrack G600/G600 Ex
Track particles in real time in large scale-vessels or pipelines to track particle size and count in real time at full-process concentrations.

软件

Software iC FBRM v4 Instrument
iC FBRM仪器版软件激活码
iC Process 软件
从实验室到生产,监测关键控制参数。 支持工业标准通信协议,可连接DCS控制系统接口。

引文

Crystallization and Precipitation Citation List
Crystallization and precipitation citation list and publications

支持

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