微量分析天平

可讀性低至微克,搭配高承重量

微量分析天平是一種準確性極高的稱重儀器,可讀性低至微克,搭配高承重量,十分適合將非常少的樣品直接秤到較大的實驗室器具裡。第二內側防風護罩實現了這一點,此護罩能確保穩定的稱重室環境。METTLER TOLEDO XPR 微量分析天平提供的可讀性低達 0.001 mg,承重量則高達 52 g。藉由極低的最小重量值,您可省下大量的材料與成本。

來電詢價
View Results ()
Filter ()

添加 1 或 2 個以上產品進行比較

優點

傑出的稱重效能

傑出的稱重效能

第二內側防風護罩和主動溫度控制功能,提供了極高的稱重穩定性。加上優異的稱重單元,可對少量的珍貴樣品進行高準確度稱重。

第一次就正確的結果

第一次就正確的結果

內建的 StatusLight™、LevelControl 及 GWP Approved 功能通力合作,確保滿足正確稱重所需的所有相關條件。搭配容差設定檔,稱重結果必定有效且符合您的品質要求。

使用 StaticDetect™ 避免隱形誤差

使用 StaticDetect™ 避免隱形誤差

XPR 微量分析天平具有專利 StaticDetect 功能,偵測到樣品和容器上存在靜電荷時,此功能會發出警告。為避免稱重誤差,選配的靜電消除器能在數秒內自動消除電荷。

快速的工作流程

快速的工作流程

許多功能使工作流程快速、有效率:自動門揮揮手就能打開、利用方法庫快速取得儲存的任務、懸掛式秤盤能大幅縮短穩定時間,即使在通風櫥櫃中也沒問題。

簡易的資料處理

簡易的資料處理

儲存的稱重任務,能在方法庫中快速取用。所有結果和任務參數都會儲存到結果記事本,並可直接傳輸至電腦,藉此避免錯誤且完全不必再手動抄寫。

輕鬆達成資料完整性

輕鬆達成資料完整性

除了完善的資料管理功能外,增添 LabX™ 還能享有螢幕導引、完整的追溯性和自動稽核證明文件。LabX 也有助於遵守 21 CFR Part 11 與支援 ALCOA+ 資料完整性要求。

安全、輕鬆地清潔

安全、輕鬆地清潔

內外防風護罩、懸掛式秤盤和滴盤,幾秒就能輕易拆開,無需任何工具。所有零件皆可放入工業用洗碗機清洗,清潔更方便。

佔用面積小

佔用面積小

XPR 微量分析天平器佔用面積小,能節省寶貴的工作台空間,因此非常適合在空間有限的安全櫃中使用。

直接分裝,不必轉移樣品

避免轉移樣品

高承重量能讓人直接分裝到容器裡,因此不必像傳統樣品轉移方法一樣回稱和重新計算。不僅省時,也不會浪費珍貴的樣品。

節約樣品用量

節約樣品用量

極高的準確度以及極低的最小重量,讓您能稱量非常少量的樣品,省下寶貴的材料並減少成本。

+886 2 2657 8898
聯絡服務

探索我們專為您的設備量身打造的服務

從安裝、預防性維護、校準到設備維修,我們在測量設備的整個生命週期內都會提供支援與檢修服務。

希望市場領導者為您的天平提供服務嗎?

FAQs

何謂微量分析天平?

微量分析天平基本上是微量天平和分析天平的混合體。乍看酷似分析天平,整體結構實際上也相同。但微量分析天平經過精挑細選,效能較高,可讀性達小數點六位數 (1 µg),和多數微量天平一樣。微量分析天平有第二內側防風護罩,有助於提升效能。這個額外的防風護罩,能避免高敏感性稱重單元被空氣移動影響,創造更穩定的稱重環境。秤盤也較小。XPR 微量分析天平承重量高、最小重量值很低,因此非常適合將少量樣品直接秤到大型扣重容器中。

XPR 微量分析天平如何降低分析成本?

XPR 微量分析天平的最小重量值很低。承重量 52 g 的型號,USP 最小重量值也只有 1.2 mg。這麼低的最小重量,代表昂貴、稀有和高效的物質只需要使用一點點,這能降低材料成本。 此外,承重量較高讓人能將這些非常少量的樣品直接秤入較大的容器中,無需透過稱量紙等方式轉移樣品。ErgoClips 支援此流程,將容器安全地固定在天平的確切分裝位置。這能簡化稱重流程、避免浪費並節省時間。

微量分析天平如何協助我更快取得結果?

XPR 微量分析天平配有 SmartGrid 懸掛式秤盤。格柵結構能大幅降低空氣移動對稱重單元的影響,進而縮短穩定時間並更快提供結果。XPR 微量分析天平因此非常適合在嚴苛的稱重條件下運作,例如通風櫥櫃裡。XPR 微量分析天平上的兩個防風護罩 (內外側),在主動溫度控制技術 (ATC) 的輔助下,也能幫助在稱重室中維持一個穩定的環境。

XPR 微量分析天平也包含多種功能,有助於加速稱重工作流程:自動門揮揮手就能操作、可在方法庫中快速取用稱重任務,而 StatusLight™ 讓人一眼就能看見天平已準備好進行稱重,無需特別查看。

如何更輕易地產生報告?

XPR 微量分析天平與我們專有的 LabX™ 實驗室軟體完全相容。LabX 可讓您使用所需的所有資訊來設定自訂報告,甚至包括稱重結果的分析在內。LabX 甚至能在每個程序結束時自動印出報告,方便使用者。LabX 將所有資料安全儲存於集中式資料庫,您隨時都能存取結果並產生報告。為研究專案準備標準液和樣品溶液時,這特別有用;您可以定義哪一組資料與實驗最密切相關,並依此建立報告。

深入瞭解 LabX

我的新微量分析天平具有 StaticDetect™,但 Static Detect 是如何運作的?

XPR 微量分析天平的秤盤一放上東西時,接地秤盤會被施加交流電。施加之方波訊號的正負半循環期間會記錄重量值,專利的 StaticDetect 技術會檢查這些值。記錄的重量值若發生任何變化,代表存在靜電荷。使用此方法論,StaticDetect 能確定稱重結果目前被多少靜電荷所影響,並在偵測的誤差超過預定程度時,在螢幕上示警。

有關靜電及其對稱重的影響,詳情請下載我們的白皮書。

我如何清潔微量分析天平?

XPR 微量分析天平設計高明,輕易就能清潔。兩個防風護罩、懸掛式秤盤和滴盤,幾秒就能拆開,無需任何工具,所有零件也能以工業洗碗機清洗。

我們免費的指南中提供清潔 SOP 及許多提示與訣竅,包括清潔方法和清潔劑,協助微量分析天平維持最佳的狀態。下載我們的免費指南

哪種微量分析天平適合我的需求?

為了判斷符合您需求的微量分析天平,您需要考量幾個重要問題:

  1. 最少想秤多少量?
  2. 最多想秤多少量?
  3. 您想秤得多準確 (即您的製程容差度為何)?
  4. 您的製程風險有多高 (即錯誤稱重結果的後果有多嚴重)?

瞭解不確定度對確保結果準確和避免誤差也很重要。無論以微量分析天平進行何種稱重,都有一定的不確定度,其實任何天平都是如此。微量分析天平稱重範圍的下端,不確定度主要都是源自於重複性。需瞭解,重複性定義了稱重儀器的準確性,而且並未定義可讀性。可讀性只是所能確定之重量的最小差異。天平上能準確稱量的絕對最小量稱為天平最小重量;低於此值時,不確定度太大,稱重結果不可信。但是,應用最低可安全稱量多少重量,也取決於您的製程容差度和製程風險。

我們免費的 GWP® Recommendation 服務,可協助您選對天平,達到您的應用及準確度要求。請聯絡您當地的 METTLER TOLEDO 代表取得更多詳情。

如何校準和調整微量分析天平?我需要進行哪些例行測試?

在 XPR 微量分析天平上,proFACT 功能利用天平內部的測試法碼,在環境溫度發生變化時自動調整天平。proFACT 有助於確保持續準確稱重。

校準作業會評估微量分析天平的效能,而且只應由經過認證的服務技師執行。校準服務中,技師也可能在必要時調整天平,並確定出天平的最小重量。校準服務結束時會提供校準證書,確認天平效能一如預期,此證書也是證明追蹤性的必備文件。

下次校準之前,使用者必須進行例行測試。例行天平測試能及早指出任何天平效能偏差,並協助避免稱重結果超出容差範圍。

METTLER TOLEDO 的 Good Weighing Practice™ (GWP®) 是全球性的科學標準,針對安全選擇、校準及操作稱重設備而制定。我們的 GWP® Verification 服務,根據您的個別需求提供完整的校準與例行測試排程。

更加瞭解 GWP®

進一步瞭解我們的校準服務,並量身打造符合確切需求的套件。

有沒有什麼方法,能有效率地管理微量分析天平中的所有稱重資料?

使用 XPR 微量分析天平,所有結果和流程中繼資料都會自動儲存到結果記事本。因此不必徒手記錄結果,避免抄寫錯誤。使用結果記事本,資訊輕易就能直接傳輸到電腦,或透過 USB 儲存裝置傳輸。

想取得更完整的資料管理能力,LabX™ 實驗室軟體會自動處理您所有資料,並儲存在安全的集中式資料庫裡。而且,LabX 在天平顯示器上提供 SOP 使用者指引,並將任務、儀器及使用者集中管理。LabX 還能確保資料完整性,並協助符合 CFR 21 第 11 部分的要求。

深入瞭解 LabX。

觀看這支短片,瞭解 LabX 的梗概。