Благодаря широкому температурному диапазону и большому выбору параметров растяжения и сжатия прибор TMA/SDTA 2+ можно использовать для решения различных задач. Прибор TMA/SDTA 2+ обеспечивает быстрое получение характеристик образцов различных типов, например, очень тонких слоев, больших цилиндров, тонких волокон, пленок, пластин, мягких и твердых полимеров, а также отдельных кристаллов.
Метод TMA является идеальным дополнением к ДСК. Помимо измерения коэффициентов термического расширения, метод TMA прекрасно подходит для определения температуры стеклования материалов, плохо поддающихся анализу ДСК, например, содержащих большое количество наполнителя. Режим вдавливания наиболее эффективен для изучения процесса стеклования в сложных образцах, таких как сверхтонкие покрытия.