Микроскопия в режиме реального времени | Система ParticleView с технологией PVM
Микроскопия в режиме реального времени

Микроскопия в режиме реального времени для частиц, кристаллов и капель

Система ParticleView с технологией PVM

 

Пользуйтесь визуальными данными для изучения сложных дисперсных систем

Микроскопия в режиме реального времени часто применяется в следующих целях:

  • получение нужного распределения кристаллов по размеру ...

Микроскопия в режиме реального времени часто применяется в следующих целях:


После приобретения в 2001 г. торговой марки Lasentec компания МЕТТЛЕР ТОЛЕДО продолжила разработки системParticleTrack с технологией FBRM и ParticleView с технологией PVM. Тысячи зондовых микроскопов МЕТТЛЕР ТОЛЕДО, установленных в лабораториях и на заводах по всему миру, заслужили признание специалистов самого высокого уровня. С помощью систем МЕТТЛЕР ТОЛЕДО можно не только наблюдать и измерять свойства дисперсных систем непосредственно в рабочей среде, но и оценивать скорость и степень происходящих в них изменений.


 

Система ParticleView с технологией PVM
Как работает ParticleView

Модели

Модели систем видеомикроскопии PVM

 
Модели
Фильтр:
Настройка фильтра
Clear All
 
Probe Wetted Material
Probe Window Material
Probe Wetted Temperature Range
Probe Wetted Pressure Range
Certifications
Material No.: 14000031
Подробнее
Probe Wetted MaterialC22 alloy
Probe Window MaterialSapphire
Probe Wetted Temperature Range-80 °C to 120 °C (purged); 10 °C to 120 °C (standard)
Probe Wetted Pressure Range0 barg to 10 barg (standard); up to 100 barg (custom)
CertificationsIEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; Class 1 Laser Device compliant with 21CFR1040.10, 21CFR1040.11 and IEC 60825; Probe back end rated for IP65 and 4X
For Use InLaboratory: EasyMax, OptiMax or Larger
SoftwareiC PVM
Imaging SystemFront Lasers: Backscattered images; Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector
IlluminationInternal light source; Front Lasers: 4; Back Lasers: 4
Probe Window SealsTM (standard, no o-rings)
Probe Diameter19 mm [0.75 in]
Probe Wetted Length400 mm [15.75 in]
Conduit Length2 m [6.6 ft]
Field of View1300 μm x 890 μm
Optical Resolution> 2 μm
Image Resolution1500 x 1024 pixels
Weight (probe, interface unit and cables)1.45 kg [3.20 lb]
Air RequirementsAlways use clean, dry instrument quality air or Nitrogen; Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM]
Power RequirementsPowered USB extender; 100-240V (auto-switching), 50/60Hz, 0.3A
Comparison

Документация

Документация по зондовой видеомикроскопии в режиме реального времени

Буклеты об оборудовании

ParticleView V19 With PVM Technology
Visualize particles and particle mechanisms in real time to study particle size and shape
iC PVM Software
View particles in real time to study particle size, shape and concentration with iC PVM

Информационные документы

Семь механизмов кристаллизации
В этом руководстве описаны семь скрытых механизмов, влияющих на процесс кристаллизации, и способы их регулирования.
Кристаллизация в химическом производстве
Важная область современных химических исследований — совершенствование процессов кристаллизации. От них зависит результативность промежуточных этапов...
Простой метод анализа изображений для оптимизации процесса кристаллизации
Продолжительность промежуточной кристаллизации можно сократить на 60 %, если вычислить избыточное время выдержки и выбрать скорость охлаждения, оптима...
Анализ размера частиц для оптимизации процессов
В данном информационном документе представлены некоторые из наиболее распространенных методов анализа размеров частиц и способы их внедрения для произ...

Сферы применения

Кристаллизация и осаждение
Оптимизация процессов кристаллизации и осаждения для получения продукта требуемой чистоты с заданными характеристиками частиц — одна из наиболее сложн...
Optimization and Scale-up of Batch Crystallization
A well-designed batch crystallization process is one that can be scaled successfully to production scale - giving the desired crystal size distributio...
Solubility and Metastable Zone Width (mzw) Determination
Кривые растворимости широко применяются для графического выражения взаимосвязи между растворимостью, температурой и типом растворителя. Опираясь на ни...
Crystal Nucleation and Growth
Ученые и инженеры управляют процессом кристаллизации, регулируя степень пересыщения в растворе. Пересыщение — это движущая сила зарождения и роста кри...
Measure Crystal Size Distribution
Современные методики, основанные на применении датчиков, позволяют контролировать изменение размера и формы кристаллов в концентрированных растворах,...
Введение затравки для кристаллизации: процедура
Введение затравки — критически важный фактор, который необходимо учесть при оптимизации процесса кристаллизации. При разработке схемы затравливания сл...
Добавление противорастворителя при пересыщении
При кристаллизации с противорастворителем на локальное пересыщение в резервуаре или трубопроводе влияют место и скорость добавления растворителя, а та...
Температура влияет на размер и форму кристаллов
Профиль охлаждения оказывает большое влияние на пересыщение и кинетику кристаллизации. Выбор правильного температурного режима в зависимости от площад...
Температура влияет на размер и форму кристаллов
Изменение масштаба или условий перемешивания в кристаллизаторе может напрямую влиять на кинетику процесса кристаллизации и на окончательный размер кри...
Процессно-аналитическая технология (PAT)
Процессно-аналитическая технология меняет концепцию разработки, масштабирования и реализации химических процессов на производстве. Процессно-аналитиче...

Дополнительно: оборудование и решения

Lasentec FBRM от МЕТТЛЕР ТОЛЕДО
Прибор с датчиком помещают непосредственно в технологический процесс, чтобы с помощью технологии измерения отражения сфокусированного луча (FBRM) отсл...
Reactor Systems for Chemical Synthesis
Комплексные системы для повышения производительности химической лаборатории
ИК-Фурье спектроскопия
Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье для мониторинга химических реакций в режиме реального времени

Программное обеспечение

iC PVM particle characterization software
Удобное сохранение и использование в режиме реального времени данных о размерах, форме и концентрации частиц с помощью программного обеспечения iC PVM...
iC Data Center for OM/EM-1 Year
Сбор, обработка и совместное использование данных экспериментов

Ссылки

Crystallization and Precipitation Citation List
Crystallization and precipitation citation list and publications

Вебинары в записи

Traditional Offline Microscopy
В презентации рассказывается о том, как использовать микроскопию в режиме реального времени для частиц, кристаллов и капель для разработки высокоэффек...
Crystallization Image Analysis
This presentation describes the role of image analysis in crystallization monitoring.
Liquid-Liquid Phase Separation
This presentation describes a strategy employed to design and develop robust, scalable crystallization processes that avoids Liquid-Liquid Phase Separ...
Agglomeration & Crystallization Using Particle Measurement
This presentation details how using data from in situ particle vision and measurement tools can be used to determine particle size and shape trends re...

Поддержка аппаратных средств системы V19

Positioning a ParticleTrack or ParticleView Probe
ParticleTrack probes use Focused Beam Reflectance Measurement (FBRM) technology to track the rate and degree of change to particles and particle struc...
Using the Purge Controller for ParticleTrack G400 or ParticleView V19
The Purge Controller is an optional accessory that can be purchased for use with ParticleTrack G400 and ParticleView V19. Purging is required where...
ParticleView V19 Hardware Manual
This manual covers specific safety and quality information relating to the ParticleView V19 with PVM (Particle Vision Measurement) technology. The P...
ParticleView V19 Safety Manual
This safety manual supplements the ParticleView V19 with PVM Technology Hardware Manual.
ParticleTrack & ParticleView Onsite Training
Training and familiarization with ParticleTrack and ParticleView will ensure that all users can walk up to instruments and immediately bring value to...

Поддержка программного обеспечения

iC PVM Software Quick Start Guide
This guide introduces a new user to the iC PVM software graphical user interface (GUI) and describes several choices for getting started. Create and r...
iC PVM Software User Install Guide
iC PVM installation is wizard-guided. This guide includes detailed installation steps along with implementation information for the iC PVM administra...
ParticleTrack & ParticleView Onsite Training
Training and familiarization with ParticleTrack and ParticleView will ensure that all users can walk up to instruments and immediately bring value to...
iC PVM particle characterization software
Удобное сохранение и использование в режиме реального времени данных о размерах, форме и концентрации частиц с помощью программного обеспечения iC PVM...

Обслуживание

Узнайте больше о сервисных предложениях МЕТТЛЕР ТОЛЕДО, разработанных для вашего оборудования

МЕТТЛЕР ТОЛЕДО обеспечивает комплексную поддержку измерительного оборудования на протяжении всего срока службы: от установки до профилактического технического обслуживания, от калибровки до ремонта.

Безотказная работа
Обслуживание и ремонт
Эффективная эксплуатация
Поддержка и оптимизация
Соответствие нормативам
Калибровка и документация
Профессионализм
Обучение и консультации

Видео

 
 
 
 
 
 
 
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.