ParticleView V19 - Oversikt - METTLER TOLEDO

ParticleView V19

Vis inline partikkelstørrelse i sanntid, med in-situ PVM-bilder.

ParticleView V19 med PVM-teknologi (partikkelvisjon og -måling) er et probebasert videomikroskop som visualiserer partikler og partikkelmekanismer der de finnes i prosessen.  Bilder med høy oppløsning innhentes kontinuerlig under en rekke ulike prosessforhold, uten behov for prøvetaking eller offline-analyse. En prosesstrend, som er følsom overfor endringer i partikkelstørrelse og konsentrasjon, kombineres automatisk med de mest relevante bildene, slik at forskere får en direkte og pålitelig metode for å sikre en omfattende forståelse ved hvert eksperiment.

  • Studer partikkelstørrelse og -form- Høyoppløste bilder av partikler i sanntid gjør det mulig for forskere å fastslå påvirkningen av prosessparametere på partikkelstørrelse og -form:  Partiklene kan utviklet slik at de oppfører seg forutsigbart etter som hovedparameterne endres under utvikling, opptrapping og produksjon.
  • Karakteriser transiente hendelser og flyktige mekanismer – partikler og partikkelstrukturer endres ofte når det tas prøver av dem.  Ved å visualisere krystaller, dråper og andre små partikkelstrukturer inline kan forskere karakterisere transiente hendelser og flyktige mekanismer som kan være avgjørende for kvaliteten på et produkt eller en prosess.
  • Undersøk kritiske prosesshendelser og feil - en bildebasert trend, følsom overfor endringer i partikkelstørrelse, -form og -konsentrasjon, gjør at forskere kan identifisere og deretter undersøke viktige prosesshendelser og feil.  Denne raske og pålitelige metoden reduserer tiden og innsatsen som kreves for å virkelig forstå kompliserte partikkelsystemer og -prosesser.
  • Ta bevisbaserte avgjørelser til en lavere kostnad - ved å visualisere partikler og partikkelmekanismer inline kan forskere innhente kunnskap som ellers ville være for vanskelig eller for tidkrevende å innhente.  Slik kunnskap støtter bevisbasert beslutningstaking og prosessutvikling til en lavere pris.
ParticleView V19 With PVM Technology

Vis videoen for å finne ut mer om mikroskopi i sanntid for partikler, krystaller og dråper

Vanlige bruksområder for V19 er bl.a.:

  • Forstå krystalliseringsprosesser
  • Identifisering av mekanismer som vekst, agglomerasjon, brekkasje og formendringer
  • Kontrollere partikkelstørrelse og -form
  • Overvåke polymorfoverganger
  • Identifisere kilden til uregelmessigheter mellom partier
  • Optimering av olje/vann-atskilling
  • Vise partikkel- og dråpesystemer der prøvetaking ikke er mulig
Spesifikasjoner - ParticleView V19
Probe Wetted Material C22 alloy
Probe Window Material Sapphire
Probe Wetted Temperature Range -80 °C to 120 °C (purged); 10 °C to 120 °C (standard)
Probe Back End Temperature Range 0 °C – 40 °C
Probe Wetted Pressure Range 0 barg to 10 barg (standard); up to 100 barg (custom)
Certifications IEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; Class 1 Laser Device compliant with 21CFR1040.10, 21CFR1040.11 and IEC 60825; Probe back end rated for IP65 and 4X
For Use In Laboratory: EasyMax, OptiMax or Larger
Software iC PVM
Imaging System Front Lasers: Backscattered images; Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector
Illumination Internal light source; Front Lasers: 4; Back Lasers: 4
Probe Window Seals TM (standard, no o-rings)
Probe Diameter 19 mm [0.75 in]
Probe Wetted Length 400 mm [15.75 in]
Conduit Length 2 m [6.6 ft]
Field of View 1300 μm x 890 μm
Optical Resolution > 2 μm
Image Resolution 1500 x 1024 pixels
Weight (probe, interface unit and cables) 1.45 kg [3.20 lb]
Air Requirements Always use clean, dry instrument quality air or Nitrogen; Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM]
Power Requirements Powered USB extender; 100-240V (auto-switching), 50/60Hz, 0.3A
Material nummer 14000031

Dokumentasjon

Datablad

ParticleView V19 With PVM Technology
Visualize particles and particle mechanisms in real time to study particle size and shape
iC PVM Software
View particles in real time to study particle size, shape and concentration with iC PVM

White Papers

Forstå krystallisering med in situ-mikroskopi
Dynamiske mekanismer, som er nøkkelen til å forstå krystalliseringsprosesser, kan nå observeres med in situ-mikroskopi. En whitepaper forklarer hvorda...

Programmer

Krystallisering og utfelling
Optimering og oppskalering av krystallisering og utfelling for å produsere et produkt som konsekvent overholder målene for renhet, resultat, form og p...
Chemical Process Development & Scale-Up
Design Robust and Sustainable Chemical Processes For Faster Transfer To Pilot Plant and Production
Particle and Droplet Processing
Understand and optimize particle size distributions.

Relaterte produkter og løsninger

Syntesearbeidsstasjoner for kjemikalie- og prosessutvikling
Reduser tidsbruk for kjemisk utvikling og prosessutvikling ved å skifte ut tradisjonelle rundbunnede kolber og mantlede laboratoriereaktorer
Spektroskopi
Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR-spektroskopi) for overvåking av kjemiske reaksjoner i sanntid

Programvare

iC PVM particle characterization software
Innhent og del prosesskunnskap ved å vise partikler i sanntid, for å forstå partikkelstørrelse, -form og -konsentrasjon, med iC PVM-programvaren.
iC Data Center for OM/EM-1 Year
Capture, Prepare, Share Experimental Data
Få ditt tilbud
ParticleView V19

Tilbehør

Få ditt tilbud
ParticleView V19
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.