ParticleView med PVM-teknologi - Overview - METTLER TOLEDO

ParticleView med PVM-teknologi

Mikroskopi i sanntid, for krystaller, partikler og dråper

 

Løs vanskelige partikkelproblemer med bildebaserte bevis

Vanlige bruksområder for ParticleView med PVM er blant annet:

  • Kontroller krystallstørrelse og formdistribusjon
  • Optimer f...

Vanlige bruksområder for ParticleView med PVM er blant annet:


Siden METTLER TOLEDO overtok Lasentec i 2001, har de gjort kontinuerlige fremskritt i utviklingen av ParticleTrack med FBRM og ParticleView med PVM. Med tusenvis av installasjoner verden over, fra forsknings- og utviklingslaboratoriet til produksjonsanlegget, har vår probe-baserte teknologi blitt anerkjent som gullstandarden for måling og visualisering av mengden og graden av endring i partikkel- og dråpesystemer, slik de naturlig eksisterer i prosesser.


 

Studer partikkelstørrelse og form

Analyse av krystalliseringsbilder
Mikroskopi i sanntid for krystaller, partikler og dråper
Inline partikkelstørrelsemikroskopi

Produkter og detaljer

Particle Vision and Measurement (PVM) Models

 
Produkter og detaljer
Filter:
Sett filter
Clear All
 
Probe Wetted Material
Probe Window Material
Probe Wetted Temperature Range
Probe Wetted Pressure Range
Certifications
Material No.: 14000031
Se detaljer
Probe Wetted MaterialC22 alloy
Probe Window MaterialSapphire
Probe Wetted Temperature Range-80 °C to 120 °C (purged); 10 °C to 120 °C (standard)
Probe Wetted Pressure Range0 barg to 10 barg (standard); up to 100 barg (custom)
CertificationsIEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; Class 1 Laser Device compliant with 21CFR1040.10, 21CFR1040.11 and IEC 60825; Probe back end rated for IP65 and 4X
For Use InLaboratory: EasyMax, OptiMax or Larger
SoftwareiC PVM
Imaging SystemFront Lasers: Backscattered images; Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector
IlluminationInternal light source; Front Lasers: 4; Back Lasers: 4
Probe Window SealsTM (standard, no o-rings)
Probe Diameter19 mm [0.75 in]
Probe Wetted Length400 mm [15.75 in]
Conduit Length2 m [6.6 ft]
Field of View1300 μm x 890 μm
Optical Resolution> 2 μm
Image Resolution1500 x 1024 pixels
Weight (probe, interface unit and cables)1.45 kg [3.20 lb]
Air RequirementsAlways use clean, dry instrument quality air or Nitrogen; Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM]
Power RequirementsPowered USB extender; 100-240V (auto-switching), 50/60Hz, 0.3A
Comparison

Dokumentasjon

Documentation for Probe-Based Real Time Microscopy

Datablad

ParticleView V19 With PVM Technology
Visualize particles and particle mechanisms in real time to study particle size and shape
iC PVM Software
View particles in real time to study particle size, shape and concentration with iC PVM

White Papers

Forstå krystallisering med in situ-mikroskopi
Dynamiske mekanismer, som er nøkkelen til å forstå krystalliseringsprosesser, kan nå observeres med in situ-mikroskopi. En whitepaper forklarer hvorda...

Programmer

Krystallisering og utfelling
Optimering og oppskalering av krystallisering og utfelling for å produsere et produkt som konsekvent overholder målene for renhet, resultat, form og p...
Chemical Process Development & Scale-Up
Design Robust and Sustainable Chemical Processes For Faster Transfer To Pilot Plant and Production
Particle and Droplet Processing
Understand and optimize particle size distributions.

Relaterte produkter og løsninger

Syntesearbeidsstasjoner for kjemikalie- og prosessutvikling
Reduser tidsbruk for kjemisk utvikling og prosessutvikling ved å skifte ut tradisjonelle rundbunnede kolber og mantlede laboratoriereaktorer
Spektroskopi
Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR-spektroskopi) for overvåking av kjemiske reaksjoner i sanntid

Programvare

iC PVM particle characterization software
Innhent og del prosesskunnskap ved å vise partikler i sanntid, for å forstå partikkelstørrelse, -form og -konsentrasjon, med iC PVM-programvaren.
iC Data Center for OM/EM-1 Year
Capture, Prepare, Share Experimental Data

Service

22 30 44 90
Kontakt service

Utforsk våre tjenester – Skreddersydd for å passe ditt utstyr

Vi tilbyr støtte og service for måleutstyr gjennom hele livssyklusen, fra installasjon til forebyggende vedlikehold og kalibrering, til reparasjon av utstyr.

Driftstid
Support & Reperasjon
Overensstemmelse
Kalibrering & Kvalitet
Ekpertise
Trening & Rådgivning
Thank you for visiting www.mt.com. We have tried to optimize your experience while on the site, but we noticed that you are using an older version of a web browser. We would like to let you know that some features on the site may not be available or may not work as nicely as they would on a newer browser version. If you would like to take full advantage of the site, please update your web browser to help improve your experience while browsing www.mt.com.