ParticleTrack G600/G600 Ex

시험 및 생산 내 입자 크기와 계수 모니터링

FBRM 기술을 갖춘 ParticleTrack G600는 견고한 프로브 기반 기기로 대형 용기 또는 파이프라인에 직접 삽입되어 전체 공정 농도에서 입자와 액적 크기 및 개수 변화를 실시간으로 추적합니다. 공정 파라미터가 달라짐에 따라 입자, 입자 구조 및 액적이 지속적으로 모니터링되어 엔지니어는 공정을 효과적으로 모니터링, 문제 해결 및 개선할 수 있습니다.

입자 크기 및 개수는 다음을 포함하는 다중 위상 공정 내 성능에 직접적인 영향을 미칩니다.

엔지니어는 전체 생산 스케일에서 실시간으로 입자 크기 및 개수를 모니터링함으로써 공정 일관성을 모니터링하고 전략을 식별하여 상당한 공정 개선을 이룰 수 있습니다.

오프라인 분석을 위해 샘플링되고 준비하는 과정에서 입자는 변할 수 있습니다. 입자가 공정에 자연스럽게 존재함에 따라 엔지니어들은 입자 크기 및 개수 변화를 추적함으로써 극한의 온도 및 압력에서도 시간 지연 없이 안전하게 전체 생산 스케일에서의 공정 이해도를 얻습니다.

작동 조건이 변함에 따라 입자를 지속적으로 모니터링함으로써 작동이 원활하지 않은 공정의 근본 원인을 파악할 수 있습니다. 작업자는 공정 이상을 빠르게 식별할 수 있고 엔지니어는 까다로운 공정을 재설계하고 개선을 하기 위해 전체 생산 스케일에서 확보된 증거를 활용할 수 있습니다.

다양한 온도 및 압력 전반에 걸쳐 표준 플랜지, 딥 파이프 및 볼 밸브를 사용하는 반응기 또는 파이프라인에 유연한 장착 시스템을 통해 프로브를 설치할 수 있습니다. ATEX 등급의 옵션 인클로저 퍼지 및 Class I, Div 1 표준은 기기가 위험 장소에 안전하게 설치될 수 있도록 보장합니다.

ParticleTrack G600 Ex with FBRM Technology
견적 문의
사양 - ParticleTrack G600/G600 Ex
측정 범위
0.5 – 2000μm
Temperature Range (Base/Field Unit)
Base Unit Description
Base Unit Dimension (길x높x폭)
284 mm x 524 mm x 828 mm
Certifications
CE Approved, Class 1 Laser, NRTL Certified, CB Scheme Certified
Power Requirements
For Use In
Pilot Plant or Production
소프트웨어
iC FBRM (Standard)
iC Process for FBRM (Optional)
Scanning System
Pneumatic
Scan Speeds
2m/s
Chord Selection Method (CSM)
Primary (fines) AND Macro (coarse)
Probe Diameter
25mm
Probe Wetted Length
P: 1000mm
R: 400mm
X: custom
T: 400m
Probe Wetted Alloy
C22 (Optional)
SS316 (Standard)

사파이어
Standard Window Seals
Kalrez®
Probe/Window Options
TM Window
Electropolish
Pressure Rating (Probe)
up to 250barg (custom)
10barg (standard)
Temperature Rating (Probe)
-80 to 150°C (custom)
-10 to 120°C (standard)
Conduit Length
15m [49.2ft] (standard)
Air Requirements
Scanner Requirements: Min. pressure: 4barg [60psig]
Flow: 28.3 NL/min [1.0SCFM]
ParticleTrack Model
ParticleTrack G600 Process Technology for Pilot/Production



CE Approved, Class 1 Laser, NRTL Certified, CB Scheme Certified
  • 시간에 따른 입자 크기 및 개수 연구
    과학자들은 ParticleTrack 프로브를 공정 흐름에 직접 삽입하여 샘플을 추출하지 않고도 시간이 흐름에 따라 입자 크기 및 개수를 지속적으로 모니터링합니다. 이 독특한 정보는 결정, 입자 및 액적이 포함되는 모든 공정을 효과적으로 이해하기 위한 기초가 됩니다.

  • 공정을 입자 시스템에 연결
    ParticleTrack을 활용하여 과학자들은 공정 파라미터가 입자 시스템에 어떤 영향을 미치는지 주기적으로 결정합니다. 성장, 응집 파손 및 모양과 같은 메커니즘에 대한 공정 파라미터의 영향을 식별할 수 있어 증거 기반 분석법을 통해 공정을 최적화하고 개선할 수 있습니다.

  • 목적에 적합한 입자 시스템 생성
    연구원들은 ParticleTrack을 사용하여 원하는 크기 및 개수를 갖춘 입자를 어떻게 일관되게 제공할 수 있는지 결정합니다. 연구원들은 개발에서 확대를 거쳐 생산에 이르는 과정 중 최적화된 공정 파라미터를 선택하여, 저렴한 총 비용으로 고품질의 입자 제품을 시장에 보다 빨리 제공합니다.

  • 공정 편차 모니터링 및 보정
    ParticleTrack은 모니터링 및 문제 해결에 사용되며 생산 시 수립된 공정을 개선합니다. 샘플링이 문제가 되는 어려운 공정을 안전하게 모니터링하여 최상의 품질을 갖춘 입자가 일관적으로 생산되도록 보장합니다.

 

문서

Documentation for ParticleTrack G600/G600 Ex

Data Sheets

ParticleTrack G600/G600 Ex Datasheet
Track particles in real time in large scale-vessels or pipelines to track particle size and count in real-time at full-process concentrations.

관련 제품 및 솔루션

ParticleView V19
PVM (입자 비전 및 측정) 기술을 갖춘 ParticleView V19는 공정 내에서 있는 그대로의 입자 및 입자 메커니즘을 시각화하는 프로브 기반 비디오 현미경입니다. 고해상도 이미지는 샘플링 또는 오프라인 분석 없이도 다양한 범위의 공정에서 연속 캡처됩니다....

액세서리

Upgrade to G600/Ex

ParticleTrack G600/G600 Ex Upgrade

ParticleTrack G600/G600Ex represents a significant improvement over previous METTLER TOLEDO Lasentec FBRM technologies (D600/D600Ex).

Stuck Particle Correction Improves Consistent and Reliable Measurement - ParticleTrack can distinguish between particles stuck on the probe window and those moving in the process. These stuck particles can be removed from the data ensuring a consistent and reliable measurement for more experiments.

ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 1: Comparison of measured chord length distribution for legacy Lasentec FBRM vs. ParticleTrack with FBRM technology.
ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 2: Example of legacy Lasentec FBRM instrument failing to observe bimodal distribution of large and small particles, while ParticleTrack displays higher resolution measurement of both particle sizes.

Improved Measurement Accuracy and Resolution - ParticleTrack uses state-of-the art digital signal processing methods to measure particle size with increased accuracy and resolution. These changes mean the measurement matches particle measurements such as laser diffraction and imaging more closely.

Wider Dynamic Range To Detect Critical Process Events - ParticleTrack measures changes in particle count to accurately eliminate concentration-related artifacts from the data and ensure improved sensitivity to changes in the particle system at higher concentrations.  This allows critical process events to be detected that may previously have gone unobserved.

ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 3: Example of ParticleTrack identifying a secondary nucleation event at the end of a process while at high concentration.
ParticleTrack G600/G600 Ex
Figure 5: Simultaneous measurement using two different modes using ParticleTrack: Primary is sensitive to the primary particles while Macro is sensitive to overall particle structure.

Two Measurements Acquired Simultaneously To Eliminate Need for Prior System Information or Trial Experimentation - ParticleTrack now collects two datasets simultaneously that are optimized for different types of particle systems. This eliminates the need for any a prior system information or trial experimentation to determine the optimal measurement method.

Improved Instrument to Instrument Repeatability - ParticleTrack technology was developed to ensure different lab and production instruments now measure much more closely, allowing changes in scale of measurement to be decoupled from differences in the probe used to measure them.


Voice of User

Senaputra, A., Jones, F., Fawell, P. D. and Smith, P. G. (2014), Focused beam reflectance measurement for monitoring the extent and efficiency of flocculation in mineral systems. AIChE J., 60: 251–265. doi: 10.1002/aic.14256.

      "The [ParticleTracK]G400 also captures bimodal character in unweighted chord distributions, producing distinct peaks for aggregates and fines after suboptimal flocculation; such peaks are rarely well resolved in older FBRM".

      "…the chord length measurement principle applied with the G400 probe leads to an enhanced sensitivity to species at the lower end of the measurement range relative to previous generation FBRM…"

      "The mean square-weighted chord lengths reported from older generation FBRM for flocculated minerals are typically under 400 mm, and yet the naked eye can see much larger aggregates being formed in thickener feedwells. The G400 probe consistently measures larger chord lengths, and this is seen as a significant advantage"

George Zhou, Aaron J Moment, James F. Cuff, Wes A. Schafer,Charles Orella, Eric Sirota, Xiaoyi Gong, and Christopher J. Welch, Process Development and Control with Recent New FBRM, PVM, and IR. Org. Process Res. Dev., Just Accepted Manuscript, Publication Date (Web): 10 Jun 2014.

"Process analytical technologies (PATs) have played an important role in process development and optimization throughout the pharmaceutical industry. Recent new PATs, including in-process video microscopy (PVM), a new generation of focused-beam reflectance measurement (FBRM), miniature process IR spectroscopy, and a flow IR sensor, have been evaluated, demonstrated, and utilized in the process development of many drug substances. First, PVM has filled a technical gap by providing the capability to study morphology for particle engineering by visualizing particles in real time without compromising the integrity of sample. Second, the new FBRM G series has closed gaps associated with the old S series with respect to probe fouling, bearing reliability, data analysis, and software integration. Third, a miniaturized process IR analyzer has brought forth the benefits of increased robustness, enhanced performance, improved usability, and ease of use, especially at scale-up".

Support

Support for G600/G600 Ex

Hardware Manuals

ParticleTrack G600 Hardware Manual
This manual covers safety and quality information relating to the METTLER TOLEDO ParticleTrack G600 with FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) t...
ParticleTrack G600Ex Hardware Manual
This manual covers safety and quality information relating to the ParticleTrack G600Ex with FBRM (Focused Beam Reflectance Measurement) technology.

Quick Reference Guides

Positioning a ParticleTrack or ParticleView Probe
ParticleTrack probes use Focused Beam Reflectance Measurement (FBRM) technology to track the rate and degree of change to particles and particle struc...
Using the Purge Controller for ParticleTrack G400 or ParticleView V19
The Purge Controller is an optional accessory that can be purchased for use with ParticleTrack G400 and ParticleView V19. Purging is required where...

Software Support

iC OPC UA Server Quick Start Guide
The iC OPC UA Server is a complimentary application provided by METTLER TOLEDO to allow the users of instruments controlled by iC or iControl software...
iC Process for FBRM Quick Reference
This Quick Reference is designed to aid an Operator in monitoring continuous or batch processes using iC Process for FBRM software.
iC Process for FBRM Release Notes
Release notes for iC Process for FBRM for connecting the lab to plant.
iC Process for FBRM Software User Guide
User Guide for iC Process for FBRM Software
iC Process for FBRM User Guide
iC Process for FBRM User Guide for Admins

Additional Help

ParticleTrack & ParticleView Onsite Training
Training and familiarization with ParticleTrack and ParticleView will ensure that all users can walk up to instruments and immediately bring value to...

소모품

소프트웨어

견적 요청
ParticleTrack G600/G600 Ex