미량 금속 분석: 샘플 및 표준물질 준비

정확한 칭량이 금속 및 중금속 무기 이물질 분석에 중요한 이유

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Trace Metal Analysis - Sample and Standard Preparation

Trace MEtal Analysis

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미량 금속 분석의 일반적인 워크플로우

1.    교정 표준물질 준비

원액을 제조하기 위해 고순도 금속 또는 화학물질을 사용하는 것이 필수적입니다. 또는 고품질 원액을 구입할 수도 있습니다. 금속마다 서로 다른 준비 방법이 필요합니다. 작업 표준용액은 분석 장비의 검출 한계에 따라 원하는 농도에 도달할 때까지 원액을 적절한 용매로 희석하여 제조됩니다. 원액의 안정성에 따라 작업 표준용액은 종종 필요할 경우에만 제조됩니다. 다중 원소 표준 원액을 생성할 때는 모든 원소의 호환성 및 안정성에 주의를 기울여야 합니다.

2.    샘플 준비

샘플 준비 방법은 샘플 매트릭스와 사용된 분석 방법에 따라 다릅니다. 그러나 대부분의 미량 금속 분석 절차에서 샘플은 액체 상태이어야 합니다. 이를 위해서는 샘플의 복잡성에 따라 샘플의 처리 또는 분해, 예를 들면 마이크로파 방법에 의한 분해가 필요할 수 있습니다. 산 분해는 보통 미량 금속 원소를 완전히 용해하기 위해 사용됩니다.

  • 샘플 원액 제조
    분석 방법에 따라 일부 샘플 용액은 원액을 준비할 필요 없이 직접 제조할 수 있습니다.

  • 샘플 원액 희석
    농도는 분석 장비의 검출 한계에 적합해야 합니다. 적절한 희석량을 결정하기 위해 여러 번 실행해야 할 수도 있습니다.
     

3.    선택된 분석 방법을 사용한 샘플 분석

유도 결합 플라즈마(ICP) 분석 방법의 예를 사용하면 샘플 용액의 금속 원자가 금속 이온으로 변환됩니다. 서로 다른 금속 이온은 광학 방출 분광광도법(ICP-OES) 또는 플라즈마 질량 분광분석법(ICP-MS)에 의해 분리 및 검출됩니다.

4.    데이터 분석 및 계산

분석 절차에서 검출된 이온을 교정 곡선과 비교하여 미량 금속과 중금속을 식별하고 정량화할 수 있습니다.

5.    결과 및 보고서

 

노하우: 다양한 산업 분야에서의 미량 금속 Application과 표준 검사 방법 및 적합한 기기 선택 방법

제약 산업

제약 산업에서의 미량 금속 분석

식품 및 농업

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환경

환경 관련 미량 금속 분석

석유 및 화학

석유 및 화학에서의 미량 금속 분석

미량 금속 분석을 위한 분석 기기: 결정 기준

특정 표준에 따라 작업하는 경우 표준에서 사용할 분석 방법을 정의합니다. 예를 들어, EPA 방법 200.7을 사용하여 물 및 폐수 내 미량 금속을 측정하려면 ICP-OES를 사용해야 합니다. USP <232>장, <233>장 또는 <2232>장의 요건에 따라 작업하는 제약 실험실에서는 ICP-OES 또는 ICP-MS가 권장됩니다.

공식 표준에 따라 작업할 필요가 없는 경우, 가장 중요한 결정 기준은 Application의 검출 한도입니다. 또한 Application의 요건은 어떤 분석 방법이 적합한지 정의하는 역할을 합니다. 샘플의 복잡성, 하루에 측정하려는 샘플의 수 및 샘플의 농도 범위 한계도 고려해야 합니다.

올바른 칭량 장비를 선택하는 방법

금속 분석용 장비를 선택하는 방법은 무엇입니까?

 

Trace Metal Analysis Expert

Challanges of trace metal analysis

Solution for Semi-Automated Reference Standard Preparation

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FAQ - 미량 금속 분석

미량 금속 분석에 관해 자주 묻는 질문

ICP 분석에서 발생하는 오류의 수를 줄이는 방법을 찾고 있습니다. 층류 배기 후드 아래에서 작업하지만, 오류의 특성으로 인한 샘플 오염이 의심됩니다. 조언을 해 주시겠습니까?

공정의 모든 단계에서 오염을 최소화하는 것은 성공적인 미량 금속 분석의 비결입니다. 샘플 및 표준 시료와 접촉하는 모든 표면은 잠재적인 오염원입니다. 실험실 분석가가 클린 룸 규칙을 준수하는지, 모든 장비와 표면이 사용 전에 깨끗하고 건조되었는지 확인하십시오. ErgoClip Flask 액세서리와 함께 XPR 분석 저울을 사용하면 삼각 플라스크에 직접 주입할 수 있어, 오염원이 될 수 있는 칭량 과정에서의 여러 단계를 제거할 수 있습니다.

많은 샘플과 표준물질이 분말 형태입니다. 분주하는 동안, 일부 분말이 저울 위에 흩어지는 것을 볼 수 있습니다. 정전기 때문입니까? 그렇다면 어떻게 해야 할까요?

분말이 저울 위로 흩어진다면 분말 및/또는 샘플 용기가 정전하를 띄고 있다는 것을 의미합니다. 저울이 안정되는 데 시간이 오래 걸리거나 수치가 변경될 수 있습니다. 종합적인 정전기 감지 및 제거 시스템으로서 옵션인 정전기 제거장치를 XPR 분석 저울에 설치할 수 있습니다. StaticDetect™ 기능은 정전하의 존재로 인한 칭량 오류를 계산하고 오류가 사전 정의된 허용 오차를 초과하면 경고를 제공합니다. 단 몇 초 만에 전하를 자동으로 제거하도록 정전기 제거장치를 설정할 수 있습니다. 공간이 충분한 경우 독립형 정전기 제거장치를 저울 옆에 설치할 수도 있습니다. 저울 위에 놓기 전에 샘플과 용기를 장치에 통과시키기만 하면 됩니다. 정전기 방지 팔찌와 함께 적절한 옷과 신발을 착용하여 실험실에서 기타 실질적인 예방 조치를 취하십시오. 또한 상대 습도를 높이면 정전하의 축적을 방지하는 데 도움이 됩니다.

우리는 테스트 실험실이며 미량 금속 분석을 위해 매일 수많은 샘플을 처리합니다. 샘플 및 표준물질 준비의 속도를 높여서 생산성을 향상시킬 수 있는 방법이 있습니까?

XPR 저울에 ErgoClip 용기 홀더 액세서리를 부착하면 샘플 용기 또는 플라스크에 직접 분주할 수 있습니다. 이 단일 단계 분주를 사용하면 지루하고 오류 발생 가능성이 높은 중량 재측정 및 재계산을 비롯하여 샘플 전송과 관련된 여러 단계를 줄일 수 있습니다. XPR 분석 저울은 뛰어난 칭량 성능으로 빠른 안정화 시간도 제공합니다. XPR 저울에 프린터를 쉽게 연결할 수 있으므로 더 이상 결과나 라벨을 작성하는 데 시간을 소비할 필요가 없으며, 필사 오류가 사라집니다.

메틀러 토레도의 미량 금속 분석 SOP는 분석 결과는 물론 표준물질 및 샘플에 대한 모든 정보를 문서화해야 한다고 명시되어 있습니다. 또한 그 문서화 내용을 LIMS/ERP 시스템의 데이터베이스로 전송해야 합니다. 우리는 하루에 여러 번의 분석을 수행하기 때문에 많은 시간과 노력이 필요하며 실수하기 쉽습니다. 더 쉬운 방법이 있습니까?

XPR 분석 저울을 LabX 소프트웨어에 연결하면 LabX가 모든 칭량 데이터 및 관련 공정 정보를 자동으로 처리할 수 있습니다. LabX는 온스크린 사용자 지침을 제공하고 모든 정보를 안전한 중앙 집중식 데이터베이스에 저장하여 완벽한 추적성을 보장합니다. LabX는 귀사의 정보 관리 시스템과 쉽게 통합되어 양방향 데이터 전송이 가능합니다. LabX를 사용하면 수동 문서화 및 관련 필사 오류가 사라집니다. 또한 작업, 사용자 및 기기를 모두 중앙에서 관리할 수 있습니다.

미량 금속 분석을 위해 많은 종류의 원액 샘플과 표준 용액을 제조해야 합니다. 희석에는 시간이 걸리며 이 과정에서 오류가 발생할 위험이 높습니다. 샘플은 종종 매우 불안정하므로 사용하기 전에 많은 샘플 용액을 폐기해야 합니다. 정확도를 높이고 낭비를 줄일 수 있는 방법이 있습니까?

XPR 분석 저울과 함께 자동 액체 분주 모듈을 사용하면 매번 정확한 농도를 얻을 수 있습니다. 실제로 분주된 물질의 양을 기준으로 정확한 양의 용매를 정밀하게 첨가하면 시스템이 원하는 농도를 생성하도록 작동합니다. 희석에도 동일한 원리가 적용되는데, 연속적인 희석은 더 빠르고 쉽게 준비될 수도 있습니다.