微量天平和超微量天平

微量天平或超微量天平是精确度较高的实验室天平。 由于微量天平设计灵敏度高，因此可称量重量低至30 μg的样品。  

微量天平最高量程为10.1 g，读数精度高达1 µg（0.000001g）。
超微量天平全分度值为6100万位，量程为6.1 g，读数精度为0.1 µg（0.0000001g）。

梅特勒-托利多产品系列中包括一款微量分析天平。 其读数精度与微量天平相似（即：1 µg），具有分析天平的外形，配有一个内外称量室。XPE微量分析天平具有较高的量程以及较低的最小称量值。 这可将少量的物品直接加样至大号去皮容器中。

微量天平由两个组件构成：其中一个组件包含电子元件，另外一个组件包含精确的机械测量池。 这种分隔方式消除了温度的影响，以及对微量天平秤性能的影响。

梅特勒-托利多XPR微量与超微量天平配有主动热控制系统（ATC™）。 这可提高称量稳定性，以及取得出色的性能与准确性。

微量天平与超微量天平通常在产品测试与质量保证实验室，以及化学实验室和采矿领域中使用，用于测量少量粉末与矿物质。 医疗器械研究也有可能使用微量天平检查关键组件的一致性。

微量天平的应用包括： 颗粒物质（过滤器）称量、移液器校准、杀虫剂分析与支架称量。 超微量天平的应用包括： 颗粒物质（过滤器）称量、灰化或焚烧、干燥、测量涂层与检查洒落量。

为了找到可满足您需求的适合的梅特勒-托利多微量天平，应首先定义需要称量的较小量以及称量准确性（即：可接受的允差），从而确定需要使用的精确微量天平。

在任何天平上进行的每一次测量均可出现不确定度，因此了解这种不确定度对于确保准确结果和避免错误至关重要。 在微量天平上称量微小样品时，不确定度几乎完全与重复性有关（即：在特定天平的小量程段）。 决定称量仪器准确性的不是可读性，而是重复性或最小称量值。

GWP® Recommendation可根据您的称量要求帮助您选择适合的称量仪器，请向梅特勒-托利多顾问询问关于这方面的情况。

微量天平是一种灵敏度很高的仪器，即使环境因素或用户干预造成的较轻微干扰也会对测量稳定性产生严重影响。 使用微量天平时，应避免各种可能存在的振动源。 微量天平非常容易受到气流、灰尘与温度波动的影响，因此只应在环境温度和湿度保持在稳定水平，并且远离通风口、窗口与门的地方使用。

建议在稳固的工作台上设置天平，合适地点是：不出现气流或人流（车流）量少，并且适合于使用微量天平的专用称量台。

当微量天平首次与电源连接或者首次开机时，建议至少预热6个小时，以适应环境温度。

使用微量天平时，务必较大限度减小称量室内的对流，否则会对结果产生不利影响。 必须使用镊子操作样品，并且进行室温适应。 在将样品放到微量天平上时，必须较大限度减小开门角度，并且尽可能缩短开门时间。

使用微量天平称量时（包括确定正确的天平位置与校准），请遵循《十步成功完成微量称量》这一专门称量指南，并且获得关于如何解决挑战的更多提示。

操作微量天平时始终佩戴手套，否则手上的指纹与油会对结果产生影响。 开始称量操作之前，打开门并使用镊子将容器放置到秤盘上。 关上门，等待值达到稳定状态。 对微量天平去皮。 为了避免洒落在天平内，去除容器或称量舟，在称量室外部进行样品加样，然后将样品放到秤盘上。 关上门，等待达到稳定状态。 记录净重或者重复此程序，直至达到所需重量。 微量天平对于移动非常敏感，因此在等待天平达到稳定状态时请勿触摸工作台。 每次使用后，清洁天平、工具与工作区域。

通过梅特勒-托利多的XPR微量天平防风罩，可全方位轻松接触秤盘并且 360° 可视。 不存在有可能夹住样品材料的边角，只需轻松几步即可移除、清洁和更换所有部件。

通过正确校准微量天平可确定称量设备的准确性，必须由合格的服务供应商进行校准。 校准证书可证明微量天平正确运行，用户常规天平测试可检测在校准间隔期内可能出现的性能问题。

使用FACT或proFACT等内置测试砝码自动执行调节功能，可确保即使在环境温度发生波动时天平依然保持准确。

梅特勒-托利多制定了一项各地适用的科学标准，该标准称作GWP®（即：良好的称量管理规范™），可确保安全选择、校准与操作称量设备，另外还编制了《天平与秤校准和调节-术语说明》