上皿式天平
出色的精度，适用于实验室的常规和关键称量
上皿式天平是一种精确、耐用和多功能的称量仪器，提供广泛的容量，从120克到64公斤，可读性从1克到0.1毫克。上皿式天平是为满足实验室和制造环境的苛刻需求而设计的，可用于各种应用，如样品制备、配方、计数和统计质量控制。
梅特勒托利多的上皿式天平的优势
值得信赖的称量性能
由于梅特勒托利多的高性能称量单元和高质量的结构，您可以确保获得准确和可靠的称量结果。
简单而可靠的操作
触摸屏操作、内置应用程序、称量指南、简易结果传输等功能使您的日常称量任务快速高效。请相信梅特勒托利多的质量，以获得卓越可靠的性能。
经久耐用的设计
凭借金属外壳、过载保护和高质量的材料，我们的上皿式天平非常坚固，以确保未来多年的可靠性能。
易于清洁
由于光滑的表面和圆形的边缘以及设计巧妙的秤盘可以简单地掀开，快速且容易的清洁您的上皿式天平。下载我们的免费清洁指南和SOP。
使用SmartPan的快速结果
SmartPan™秤盘将空气流动对称量单元的影响降至最低，提供高称量稳定性。结果的传递速度是原来的两倍，重复性也有明显提高。
多种连接选项
RS232、USB和LAN接口使其能够轻松连接外围设备，如打印机、条形码阅读器，甚至是PC。我们的蓝牙®和WLAN选项实现了无线连接。
天平状况一览
XPR和XSR上皿式天平的特点是StatusLight™，它内置在显示屏的前面。很容易看到你是否有安全称量的绿灯。
容易调平
从大型可调脚到屏幕指示，再到电子指导和水平警告，梅特勒-托利多上皿式天平使您能够轻松地调平天平--这是确保准确结果的关键活动。
便捷的应用
梅特勒-托利多的所有上皿式天平都具有一系列流行的应用，以简化您的日常称量任务，包括检重、计件、配方、统计质量控制等。
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哪些是实验室中的上皿式天平的用途？
上皿式天平可用于实验室和生产环境，凡是需要精确称量的地方。应用范围包括从研究和开发到各种行业的质量控制，如化学、制药、食品和学术。上皿式天平的典型称量用途包括：
- 称量物体和样品
- 样品制备
- 计件
- 统计质量控制
- 筛分分析
- 差分称量
- 动态称量
- 间隔称量
- 配方
以下视频展示了梅特勒-托利多上皿式天平如何简化您的配方过程：
上皿式天平显示多少个小数位？
上皿式天平显示小数点后0至4位（1克至0.1毫克）。上皿式天平上显示的小数点位数在数据表和梅特勒-托利多的命名惯例中给出：梅特勒-托利多上皿式天平型号名称中的最后一位数字是小数位数的可读性。就XPR204S而言，最后一位数字是4，因此是小数点后4位的可读性（0.1毫克）。类似的方法也可以应用于其他天平系列（XSR、MS、ML-T、ME、ME-T、PL-E）。就MS303TS而言，MS3003TS上皿式天平的最后一位数字是3，因此小数点后3位可读性（1mg=0.001g）。