微量分析天平XPR_微量天平_十万分之一天平_百万分之一天平-梅特勒托利多官网

微量分析天平

微克级读数精度与大量程

微量分析天平是一种极为准确的称量仪器,具有微克级读数精度与大量程,非常适合将非常小的样品直接称入较大的实验室器皿中。这可通过确保称量室内稳定环境的第二个内部防风罩实现。梅特勒托利多XPR微量分析天平的读数精度低至0.001 mg,量程高达52 g。由于最小称量值非常低,因此可节省大量材料和成本。

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优点

卓越的称量性能

卓越的称量性能

第二个内部防风罩和主动温度控制提供了卓越的称量稳定性。结合卓越的称量单元,可以高度准确地称量少量贵重样品。

一次即准的称量结果

一次即准的称量结果

内置StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保各项条件处于最佳状态,获得正确的称量结果。配合使用允差配置文件,可确保结果有效且符合质量要求。

使用StaticDetect™避免隐性错误

使用StaticDetect™避免隐性错误

XPR微量分析天平具有StaticDetect功能,可在检测到样品和容器上的静电荷时发出警告。为了避免称量错误,选配的去静电装置可在几秒内自动消除电荷。

快速工作流程

快速工作流程

通过挥手即可打开的自动门、可快速访问已存储任务的方法库以及可明显缩短稳定时间的悬挂式秤盘,即使在通风橱中也可以快速高效地工作。

轻松处理数据

轻松处理数据

可在方法库中快速访问存储的称量任务。所有结果和任务参数都保存在结果记事本上,可以直接传输到电脑,从而避免错误并完全消除手动抄录。

轻松确保数据可靠性

轻松确保数据可靠性

除了全面的数据管理功能外,新增的LabX™还提供屏幕上的用户指导、完全可追溯性和自动审计证明文件记录。LabX还有助于符合21 CFR第11部分要求,并且支持满足ALCOA+数据可靠性要求。

清洁安全简便

清洁安全简便

内外防风罩、悬挂式秤盘和承水盘可在几秒钟内轻松拆除,无需任何工具。所有部件都可以在工业洗碗机中清洗,进一步简化了清洁。

体积小

体积小

XPR微量分析天平体积小,可节省宝贵的工作台空间,非常适合在空间有限的安全柜内使用。

直接加样无需转移样品

避免转移样品

由于量程大,因此可直接加样至容器内,避免了与传统样品转移方法相关的回称和重新计算。不仅节省时间,而且不会浪费任何宝贵的样品。

经济划算地使用样品

经济划算地使用样品

极高的准确度和极低的最小称量值使其能够称量极小的样品,从而节省宝贵的材料并降低成本。

4008 878 989
呼叫服务

我们的服务――针对设备量身定制

从安装到预防性维护,从校准到设备维修,在测量设备的整个生命周期内,我们都提供支持与服务。

想不想让市场领头羊来维护您的天平?

FAQs

什么是微量分析天平?

微量分析天平本质上是微量天平和分析天平的混合体。乍一看,它看起来很像分析天平,实际上具有相同的整体结构。但是,称量单元经过精心挑选,具有更高的性能,与大多数微量天平相同,读数精度精确至小数点后六位(1 µg)。微量分析天平额外配备一个内部防风罩,有助于提高性能。这个额外的防风罩可保护高度灵敏的称量单元免受空气流动的影响,从而创造更稳定的称量环境。秤盘也更小。XPR微量分析天平量程大且最小称量值小,因此非常适合将小样品直接称入大去皮容器中。

XPR微量分析天平如何降低分析成本?

XPR微量分析天平的最小称量值小。即使是量程为52 g的型号,USP最小称量值也仅为1.2 mg。最小称量值小意味着仅需使用微量昂贵、稀有和强效物质,从而降低材料成本。此外,更高的量程使您能够将这些非常小的样品直接称入较大的容器中,而无需通过称量纸等方式转移样品。ErgoClip易巧称量件通过将容器牢固固定在天平上用于加样的精确位置支持此过程。这可简化称量过程,避免浪费和节省时间。

微量分析天平如何帮助我更快获得结果?

XPR微量分析天平配备了SmartGrid悬挂式秤盘。网格结构可明显降低空气流动对称量单元的影响,从而缩短稳定时间以及加快提供结果的速度。这也使得XPR微量分析天平非常适合在具有挑战性的称量条件下工作,例如在通风橱中。XPR微量分析天平上的两个防风罩(内部和外部)还有助于在主动温度控制技术(ATC)的帮助下保持称量室内的稳定环境。

XPR微量分析天平还集成有一系列功能,可帮助加快称量工作流程:只需挥手即可操作自动门,可在方法库中快速访问称量任务,StatusLight™可使天平是否做好称量准备一目了然,无需检查。

如何简化报告生成?

XPR微量分析天平与我们专有的LabX™实验室软件完全兼容。LabX使您能够使用所需的所有信息创建定制报告,甚至包括对称量结果的分析。方便的是,LabX甚至可以在每个过程结束时自动打印报告。LabX将所有数据安全保存在中央数据库中,以便于您随时存取结果和生成报告。这在为研究项目制备标准液和样品溶液时特别有用;您可以定义与实验最相关的数据集,并相应地创建报告。

了解有关LabX的更多信息

我的新微量分析天平具有StaticDetect™,但是Static Detect的工作原理是什么?

将物品放在XPR微量分析天平的秤盘上时,会对接地的秤盘施加交流电。StaticDetect技术可检查在施加的方波信号的正半周期和负半周期内记录的重量值。记录的重量值发生任何变化都表明存在静电荷。使用此方法,StaticDetect可以确定影响称量结果的静电荷量,并在检测到的错误超过预定义水平时在屏幕上发出警告。

有关静电及其对称量影响的更多信息,请下载我们的白皮书。

如何清洁微量分析天平?

XPR微量分析天平设计巧妙,易于清洁。两个防风罩、悬挂式秤盘和承水盘可在几秒钟内拆除,无需任何工具,所有部件均可在工业洗碗机内清洗。

在我们的免费指南中,您可以找到清洁SOP以及许多技巧和诀窍,包括清洁方法和清洁剂,以帮助您的微量分析天平保持最佳状态。下载我们的免费指南

哪种微量分析天平适合我?

为了确定适合您需求的微量分析天平,需要考虑一些重要问题:

  1. 您想要称量的最小量为多少?
  2. 您想要称量的最大量为多少?
  3. 您想要称量的准确度如何(即过程允差是多少)?
  4. 您的过程风险有多高(即不正确的称量结果的后果有多严重)?

了解不确定度对于确保准确的结果和避免错误同样至关重要。微量分析天平或任何天平上的每次重量测量都存在一定不确定度。在微量分析天平称量范围的底端,影响不确定度的主要因素是重复性。应当指出的是,定义称量仪器准确度的是重复性而不是读数精度。读数精度是可测定的最小重量差。在天平上可以准确称量的绝对最小称量值称为天平最小称量值;低于此值时,不确定度过大,导致称量结果不可信。但是,您可以为自己的应用安全称量的最小重量还取决于过程允差和过程风险。

我们的免费GWP®建议服务可帮助您选择适合应用与准确度要求的天平。请联系您当地的梅特勒托利多代表,了解更多详细信息。

如何校准和校正微量分析天平?我需要进行哪些日常测试?

在XPR微量分析天平上,只要环境温度发生变化,proFACT功能就会使用天平的内部测试砝码自动校正天平。proFACT有助于确保持续的称量准确度。

校准用于评估微量分析天平的性能,只能由经过认证的服务技术人员进行。作为校准服务的一部分,技术人员还可以在必要时校正您的天平,以及确定天平的最小称量值。校准服务结束时,将向您提供校准证书,以证实您的天平性能符合预期,并且需要证明可追溯性。

在校准间隔期间,用户需要进行日常测试。日常天平测试可及早发现天平性能的任何漂移,并有助于避免称量结果超出允差范围。

梅特勒托利多的良好称量管理规范™(GWP®)是安全选择、校准与操作称量设备的全球科学标准。我们的GWP®验证服务可根据您的个人需求提供完善的校准和日常测试计划。

了解有关GWP®的更多信息

了解关于我们校准服务的更多信息,并根据您的具体需求量身定制服务包。

是否有一种高效的方法管理微量分析天平的所有称量数据?

使用XPR微量分析天平,所有结果和过程元数据都会自动保存到结果记事本中。这不仅可消除手动记录结果的必要性,而且可避免抄录错误。可非常容易地将结果记事本中的信息直接传输至电脑,或通过USB存储设备传输。

为了实现更全面的数据管理,LabX™实验室软件会自动处理所有数据,并将其保存至安全的中央数据库。此外,LabX在天平显示屏上提供SOP用户指南,并集中管理任务、仪器与用户。LabX还可确保数据可靠性,以及支持符合CFR 21第11部分。

了解有关LabX的更多信息。

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