用于工艺优化的颗粒粒径分析 - 梅特勒-托利多
白皮书

用于工艺优化的颗粒粒径分析

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从小型实验室级反应器到全尺寸生产管道的颗粒表征

White Paper: Particle Size Analysis for Process Optimization
White Paper: Particle Size Analysis for Process Optimization

颗粒、晶体与液滴给科学家们带来了诸多难题。 然而,经过精心设计的颗粒将具有正确的产品质量属性,简化下游工序。

通过一个包含了在线和离线分析技术的完整颗粒设计工具箱,科学家们可以:

  • 设计具有所需物理属性的颗粒
  • 获取识别失败根本原因的证据
  • 记录工艺信息,实施工艺控制
  • 使用数据来支持从实验室到工厂的可靠转移

白皮书“用于工艺优化的颗粒粒径分析”介绍了一些较常见的过程中颗粒测量方法,以及如何应用这些方法以便高效交付高品质颗粒产品。

下载白皮书“用于工艺优化的颗粒粒径分析”,了解解决开发早期颗粒相关关键问题的技术。

颗粒:问题还是机遇?

多种行业的许多化学工艺中都会出现颗粒、晶体与液滴,这些颗粒、晶体与液滴通常会对致力于优化产品质量和工艺效率的科学家和工程师们提出挑战。 高效表征颗粒属性(尤其是颗粒粒径与粒数)不仅可解决加工问题,而且可提高产品质量。 从历史来看,科学家们一直依赖于激光衍射或筛析等离线颗粒粒径分析仪来执行此类表征。 而较近几年,出现了一些更新型的技术,这些技术能够在颗粒自然存在于工艺中的同时实时描述粒径和粒数。 过程中颗粒测量可以减少离线采样导致的错误,可以提供颗粒在变化工艺条件下行为方式的连续信息,从而让科学家们能够了解困难的工艺,并使用基于证据的方法优化这些工艺。 结晶尤其是一个具有挑战性的颗粒形成过程,在此过程中,隔离后的颗粒粒径可能会对所有下游工序带来重大影响。



 

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