Artículo técnico

Luz parasitada y verificación del rendimiento

Artículo técnico

Avances de la espectroscopia UV-VIS

La luz parasitada es uno de los factores más importantes que pueden afectar a la exactitud y la precisión fotométricas. Actualmente, el procedimiento para la realización de las pruebas de luz parasitada es objeto de gran interés y un amplio debate, ya que en la farmacopea de Estados Unidos se ha añadido un nuevo capítulo sobre la espectroscopia ultravioleta-visible y se ha adaptado la prueba de luz parasitada utilizada hasta ahora.  

El rendimiento instrumental es el factor principal que repercute de forma directa en la precisión y la repetibilidad de las mediciones. En las mediciones de UV-VIS delicadas, especialmente en el control de calidad clínico, farmacéutico o industrial, es fundamental que el rendimiento instrumental se ajuste a las especificaciones. En los laboratorios que operan de acuerdo con la normativa de la farmacopea (p. ej., estadounidense o europea), es importante que el rendimiento instrumental se supervise regularmente y que existan pruebas documentales.  

 Este artículo técnico describe el origen y la medición precisa de la luz parasitada, comparando los métodos recogidos en las versiones actual y anterior de la farmacopea de Estados Unidos y destacando las ventajas de la nueva prueba. Asimismo, analiza la medición automática de las pruebas importantes para la verificación del rendimiento además de la luz parasitada.  

Índice:

  1. El rendimiento óptico de un espectrofotómetro UV-VIS
  2. Las pruebas para la verificación del rendimiento evalúan la calidad de las mediciones
  3. ¿Qué es la luz parasitada?
  4. ¿Cómo se mide la luz parasitada?
  5. Método de longitud de onda específica (SWM)
  6. Método de relaciones de filtrado de la solución (Melienz) (SFRM)
  7. Análisis de los métodos SWM y SFRM
  8. Correlación de valores de la luz parasitada entre los valores de SWM y SFRM
  9. Materiales para la prueba de luz parasitada en diferentes intervalos de longitud de onda
  10. Determinación automática de los parámetros de rendimiento óptico, incluida la luz parasitada